Olympus Logo

Обратная связь Обратная связь

  • Продукты▾
    • Решения НК▾
      • Дефектоскопы▾
        • Портативные ультразвуковые дефектоскопы
        • Оборудование с фазированными решётками
        • Вихретоковые дефектоскопы
        • Матричные вихретоковые дефектоскопы
        • Контроль качества композитных материалов
      • Портативные толщиномеры▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Преобразователи и комплектующие
      • Датчики и преобразователи▾
        • Ультразвуковые ПЭП
        • Вихретоковые преобразователи
        • Преобразователи для контроля труб
        • Фазированные ПЭП
        • BondMaster Probes
      • Автоматизированные системы контроля▾
        • Wheel Inspection System
        • Решения для контроля прутков
        • Решения для контроля труб
        • Friction Stir Weld Inspection System
      • Контрольно-измерительные приборы НК▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Промышленные сканеры▾
        • Сканеры для контроля сварных швов
        • Сканеры для коррозионного мониторинга
        • Сканеры для контроля лопастей ветрогенераторов/компонентов аэрокосмического назначения
        • Комплектующие для сканеров
      • Olympus Scientific Cloud
    • РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры▾
      • Портативные ручные РФ-анализаторы▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Портативные компактные РФ-анализаторы▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Xpert для контроля качества ТНП и их cоответствия RoHS
      • Поточные РФ-анализаторы▾
        • FOX-IQ
      • Рентгеновские дифрактометры ▾
        • Переносной дифрактометр TERRA
        • Настольный дифрактометр BTX
      • Решения OEM▾
        • X-STREAM
      • Ключевые прикладные решения
      • Olympus Scientific Cloud
    • Промышленные микроскопы▾
      • Сканирующие зондовые микроскопы▾
        • OLS4500
      • Лазерные конфокальные микроскопы▾
        • OLS5100
      • Цифровые микроскопы
      • Измерительные микроскопы▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Контроль чистоты▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Оптические микроскопы▾
        • Прямые микроскопы
        • Инвертированные микроскопы
        • Модульные микроскопы
      • Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Стереомикроскопы▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Цифровые камеры▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • ПО для анализа изображений▾
        • OLYMPUS Stream
      • Микроспектрофотометр▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Линзы объектива▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • White Light Interferometry Objective
        • Micrometer
      • Компоненты микроскопов OEM▾
        • Equipment Integration Solutions
        • Objective Lenses
        • Optical Microscope Frames
        • Super Wide Tube Lens
        • Optical Microscope Modules
        • Modular Microscope Assemblies
      • Microscope FAQ
    • Видеоскопы, бороскопы▾
      • Видеоскопы▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GAir
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • IPLEX с длинной рабочей частью
      • Промышленные фиброскопы▾
        •  Фиброскопы малого диаметра
      • Стандартные жёсткие бороскопы▾
        • Стандартные жёсткие бороскопы
        • Бороскопы с качающейся призмой
        • Бороскопы с качающейся увеличивающей призмой
        • Модульный минибороскоп MK
        • Бороскопы для контроля авиационных двигателей
      • Источники света
      • Программное обеспечение для генерации отчетов▾
        • InHelp
  • Отрасли
  • Блог
  • Ресурсы
  • Поддержка▾
    • Контакты
    • Olympus Scientific Cloud
    • Обучение
    • Customer Service
    • Сервисные центры
    • Программное обеспечение
    • Информация о продукции
    • Оборудование снятое с производства
    • Product Service Termination List
    • Сертификаты ISO
    • MSDS Datasheets
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Same Day Shipping Program
    • Custom Financing Solutions
  • Rentals
  • Shop
  • Поиск
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Промышленные решения

Контроль чистоты

Главная/ Продукты/ Контроль чистоты

Многолетний опыт Olympus в разработке и производстве высокоточных измерительных приборов и систем визуализации делает его выгодным партнером для производителей, предлагая им эффективные решения для подсчета, измерения и классификации частиц. На практике, функция распределения частиц по размерам может напрямую влиять на характеристики, период эксплуатации и надежность большинства выпускаемой продукции.

OLYMPUS CIX100

Система контроля OLYMPUS CIX100 является специализированным готовым к эксплуатации решением для компаний-производителей, которые поддерживают высочайшие стандарты качества при обеспечении чистоты производимых компонентов. Быстрое получение, обработка и документирование данных контроля технической чистоты в соответствии с требованиями компании и международными стандартами. Интуитивное программное обеспечение системы помогает пользователям на каждом этапе процесса, поэтому даже неопытные операторы могут быстро и легко получить данные о чистоте.

Посмотреть продукт

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
  • Обратная связь
  • Решения НК
  • РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры
  • Промышленные микроскопы
    • Сканирующие зондовые микроскопы
    • Лазерные конфокальные микроскопы
    • Цифровые микроскопы
    • Измерительные микроскопы
    • Контроль чистоты
      • OLYMPUS CIX100
    • Оптические микроскопы
    • Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев
    • Стереомикроскопы
    • Цифровые камеры
    • ПО для анализа изображений
    • Микроспектрофотометр
    • Линзы объектива
    • Компоненты микроскопов OEM
    • Microscope FAQ
  • Видеоскопы, бороскопы
  • Подписаться на информационный бюллетень
Главная/ Продукты/ Контроль чистоты
Печать

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Глобальный веб-сайт | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | О нас | Карьера | Карьера | Карта сайта

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Глобальный веб-сайт | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | О нас | Imprint | Карьера | Карьера | Карта сайта

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook

This site uses cookies to enhance performance, analyze traffic, and for ads measurement purposes. If you do not change your web settings, cookies will continue to be used on this website. To learn more about how we use cookies on this website, and how you can restrict our use of cookies, please review our Cookie Policy.

OK
Cancel