Laser Microscope Solutions

►레이저 현미경의 특징

1미크론 미만의 3D 관찰/측정

나노미터 범위 내의 단차를 관찰하고 1미크론 미만으로 높이 차이를 측정하세요.

ISO25178에 부합하는 표면 거칠기 측정

선형 표면과 평면 표면을 측정하세요.

샘플을 손상시키지 않는 신속한 비접촉 측정

별다른 샘플 준비가 필요하지 않습니다. 샘플을 스테이지에 얹기만 하면 측정 준비가 끝납니다.

기존의 측정 도구		레이저 현미경
광학 현미경, 디지털 현미경
•작은 형태를 측정할 수 없습니다 • 열악한 측방분해능 •측정 결과 추적 불가능		•정밀 3D 측정 •0.12μm 측방분해능 •측정 결과 추적 가능
스타일러스 표면 거칠기 테스터
•샘플 표면을 손상시킬 수 있습니다 •선 하나에서만 정보 수집 •스타일러스를 표적 위치에 놓기가 어렵습니다		•비접촉 측정은 샘플을 손상시키지 않습니다 •전체 면에서 거칠기 정보 수집 •정밀 표적 측정
백색광 간섭계
•거친 표면 형태를 제대로 캡처하지 못합니다 •열악한 측방분해능 때문에 포지셔닝이 어렵습니다 •경사 조절 불편		•작은 기울기까지 캡처하여 거친 표면을 정확하게 측정 •0.12μm 측방분해능 •샘플을 스테이지에 얹기만 하면 바로 측정을 시작할 수 있습니다
주사 전자 현미경(SEM)
•색 정보 미제공 •사전에 샘플을 부숴서 준비해야 합니다 •3D 형태 측정이 불가능합니다		•고해상도 색 관찰 •샘플을 손상시키지 않으며 샘플 준비 불필요 •정확한 3D 측정