Evident LogoOlympus Logo
Rozwiązania z mikroskopami

Rozwiązania w dziedzinie mikroskopii laserowej

►Cechy mikroskopu laserowego

  1. Obserwacje/pomiary 3D z rozdzielczością submikronową

  Obserwacje/pomiary 3D z rozdzielczością submikronową

Obserwacja uskoków w przedziale nanometrycznym i pomiar różnic w wysokości na poziomie submikronowym.

  2. Pomiary chropowatości powierzchni zgodne z normą ISO25178

  Pomiary chropowatości powierzchni zgodne z normą ISO25178

Pomiar chropowatości powierzchni — zarówno w kierunku liniowym, jak i płaszczyzny.

  3. Bezstykowe i błyskawiczne pomiary, które nie niszczą próbki

  Bezstykowe i błyskawiczne pomiary, które nie niszczą próbki

Brak konieczności przygotowywania próbki — wystarczy umieścić ją na stoliku i można zaczynać pomiar.


►Zalety mikroskopu laserowego

Konwencjonalne narzędzia pomiarowe

Mikroskop laserowy

Mikroskop optyczny, mikroskop cyfrowy

•Brak możliwości pomiaru niewielkich kształtów
Brak możliwości pomiaru niewielkich kształtów

•Niska rozdzielczość poprzeczna

•Brak identyfikowalności wyników pomiaru

strzałka

•Dokładne pomiary 3D
Dokładne pomiary 3D

•Rozdzielczość poprzeczna 0,12 μm

•Możliwość identyfikowania wyników pomiaru

Rysik do testowania chropowatości powierzchni

•Możliwość uszkodzenia powierzchni próbki
Możliwość uszkodzenia powierzchni próbki

•Informacje tylko z jednej linii

•Trudność z umieszczeniem rysika w wymaganej pozycji

strzałka

•Pomiary bezstykowe nie grożą uszkodzeniem próbki
Pomiary bezstykowe nie grożą uszkodzeniem próbki

•Akwizycja informacji z całej płaszczyzny

•Pomiary punktowe

Interferometr wykorzystujący światło białe

•Trudność z uchwyceniem kształtu nierównej powierzchni
Trudność z uchwyceniem kształtu nierównej powierzchni

•Niska rozdzielczość poprzeczna utrudnia pozycjonowanie

•Niewygodna regulacja nachylenia

strzałka

•Dokładne pomiary nierównej powierzchni dzięki wykrywaniu niewielkich zboczy
Dokładne pomiary nierównej powierzchni dzięki wykrywaniu niewielkich zboczy

•Rozdzielczość poprzeczna 0,12 μm

•Aby rozpocząć pomiar, wystarczy umieścić próbkę na stoliku

Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM)

•Brak informacji o kolorach
Brak informacji o kolorach

•Konieczność wcześniejszego przygotowania próbek, niszczący charakter wiązki elektronów

•Brak możliwości pomiaru kształtu 3D

strzałka

•Obserwacje w kolorze w wysokiej jakości obrazu
Obserwacje w kolorze w wysokiej jakości obrazu

•Nie niszczy próbki, brak konieczności jej przygotowywania

•Dokładne pomiary 3D

przycisk przejścia do opisu technicznego

Pobierz broszurę

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.



Sorry, this page is not available in your country