Soluciones para la microscopía
►Características de un microscopio láser
1. Medición y observación 3D a escala submicrométrica
| Observe fases en una escala nanométrica y mida las diferencias de altura a un nivel submicrométrico. |
2. Medidas de rugosidad superficial conforme con la normativa ISO25178
| Mida la rugosidad de superficies desde lineales hasta planas. |
3. Análisis sin contacto, no destructivos y rápidos
| No se requiere preparar las muestras; simplemente ubique su muestra en la platina y prosiga con su medición. |
►Ventajas de un microscopio láser
Herramientas de medición convencionales | Microscopio láser | |
Microscopio óptico o microscopio digital | ||
•No pueden medir pequeñas partes •Ofrecen una resolución lateral deficiente •Resultados de medición exentos de trazabilidad |
| •Medición 3D precisa •Resolución lateral de 0,12 μm •Trazabilidad de los resultados de medición |
Comprobador de rugosidad superficial por lapicero óptico | ||
•Daña la superficie de la muestra •Información a partir de una sola línea •Dificultad para ubicar el lapicero óptico en la posición específica |
| •Mediciones sin contacto que no dañan la muestra •Información adquirida a partir de un plano completo •Medición milimétrica |
Microinterferómetro de luz blanca | ||
•Dificultad para capturar formas superficiales rugosas •Resolución lateral deficiente que dificulta el posicionamiento •Configuración inclinable desfavorable |
| •Medición precisa de superficies rugosas mediante captura de pequeñas pendientes •Resolución lateral de 0,12 μm •Se requiere simplemente ubicar la muestra sobre la platina para iniciar la medición |
Microscopio electrónico de barrido/escaneo (SEM) | ||
•Información sin color •Se requiere la preparación de la muestra anticipadamente conllevando a su seccionamiento •Medición 3D de muestra no viable |
| •Observación de color de alta definición Análisis no destructivo sin necesidad de preparación de muestra •Medición 3D precisa |
|
|
