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Microscopes industriels

Solutions de microscopie laser

►Caractéristiques d’un microscope laser

  1. Observation et mesure en 3D de l’ordre de l’ultramicron

Observation et mesure en 3D de l’ordre de l’ultramicron

Observation d’incréments à l’échelle nanométrique et mesure des différences de hauteur de l’ordre de l’ultramicron.

  2. Mesure de la rugosité de surface conforme à la norme ISO25178

Mesure de la rugosité de surface conforme à la norme ISO25178

Mesure de la rugosité de surface de linéaire à plan.

  3. Sans contact, non destructif et rapide

Sans contact, non destructif et rapide

Inutile de préparer l’échantillon : il suffit de le placer sur la platine pour commencer les mesures.


►Avantages d’un microscope laser

Outils de mesure classiques

Microscope laser

Microscope optique, microscope numérique

•Incapacité de mesurer les petites formes
Incapacité de mesurer les petites formes

•Faible résolution latérale

•Résultats de mesure non traçables

flèche

•Mesures 3D précises
Mesures 3D précises

Résolution latérale de 0,12 μm

•Résultats de mesure traçables

Stylet testeur de la rugosité de surface

•Peut endommager la surface de l’échantillon
Peut endommager la surface de l’échantillon

•Informations provenant d’une seule ligne

•Difficulté de placer le stylet sur la position cible

flèche

•Des mesures sans contact n’endommagent pas l’échantillon
Des mesures sans contact n’endommagent pas l’échantillon

•Acquisition des informations sur un plan entier

•Mesures très précises

Interféromètre à lumière blanche

•Formes de la surface rugueuse difficiles à capter
Formes de la surface rugueuse difficiles à capter

•Faible résolution latérale compliquant le positionnement

•Réglage peu pratique de l’inclinaison

flèche

•Mesure précise d’une surface rugueuse grâce à la capture de pentes faibles
Mesure précise d’une surface rugueuse grâce à la capture de pentes faibles

Résolution latérale de 0,12 μm

•Placez simplement l’échantillon sur la platine pour commencer les mesures

Microscope électronique à balayage (SEM)

•Aucune information sur les couleurs
Aucune information sur les couleurs

•Les échantillons doivent être détruits et préparés

•Impossible d’effectuer des mesures en 3D de la forme

flèche

•Observation en couleurs haute définition
Observation en couleurs haute définition

•Aucune destruction et aucune préparation d’échantillon nécessaire

•Mesures 3D précises

bouton pour accéder à la description technique

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