Il modello S si aggiunge alla serie di convenienti analizzatori XRF portatili Vanta Element™
WALTHAM, Massachusetts (Stati Uniti), (26 maggio 2020). Il nuovo analizzatore a fluorescenza a raggi X (XRF) portatile Vanta Element-S permette un veloce rilevamento di elementi leggeri a un prezzo conveniente, aggiungendosi alla serie di analizzatori XRF, economici e di base, Vanta Element. Il modello S integra un rilevatore SDD (silicon drift detector) per l'analisi di elementi leggeri, come magnesio (Mg), alluminio (Al), silicio (Si), zolfo (S) e fosforo (P), nelle leghe.
Ideale per le applicazioni di riciclaggio di scarti metallici, di identificazione positiva dei materiali di base e dei metalli preziosi, il Vanta Element-S misura con efficacia i metalli ferrosi, l'alluminio, il rame, l'acciaio inossidabile, il nichel e la caratura dell'oro. L'analizzatore permette delle precise operazioni di identificazione delle qualità di lega sulla schermata e di confronto per gli elementi leggeri, quali Mg, Al e Si, in pochi secondi. Il rilevatore SDD è in grado di distinguere qualità di lega simili come l'acciaio inossidabile 303 dal 304 e l'alluminio 6061 o 6063 dal 1100.
Per assicurare una maggiore operatività e affidabilità, gli analizzatori possiedono un grado di protezione IP54 per resistere alla polvere e all'umidità. Inoltre sono testati alla caduta da 1,2 m (MIL-STD-810G) per una protezione da cadute o urti accidentali. Altri dispositivi di protezione includono una componente frontale in acciaio inossidabile e una pellicola Prolen ® con supporto in Kapton® per una facile installazione e rimozione della pellicola direttamente sul campo, senza l'ausilio di attrezzi. Gli analizzatori possono operare in continuo da –10 °C a 45 °C.
Gli analizzatori Vanta Element-S integrano le caratteristiche che hanno resa famosa la serie Vanta™ in termini di velocità, affidabilità, robustezza, connettività e facilità d'uso attraverso un utilizzo simile a uno smartphone. Con un peso di soli 1,32 kg, l'analizzatore è in grado di raccogliere la sfida delle quotidiane analisi di metalli e leghe. Dotato della collaudata tecnologia Axon Technology™ Olympus, il modello S assicura la stessa elevata velocità di conteggio e stabilità della serie Vanta in modo da avere un veloce risultato e un rapido ritorno sull'investimento.
L'opzionale connettività wireless permette di anticipare il futuro nell'ottica dell'Industria 4.0. Questa permette di collegarsi all'Olympus Scientific Cloud™, per una condivisione di dati e un'accessibilità a pratiche funzionalità di gestione di gruppi di strumenti in modalità wireless, all'app mobile Olympus o alla rete. Inoltre l'analizzatore possiede una scheda microSD™ da 1 GB per archiviare i risultati e due porte USB per esportare i dati con facilità. Per assicurare una maggiore flessibilità d'uso, l'analizzatore è compatibile con gli accessori come il Field Stand (supporto da campo), il Soil Foot (supporto per le analisi del suolo), il Probe Shield (schermatura della sonda) e l'Holster (fondina).
Per maggior informazioni sull'analizzatore XRF Vanta Element-S o sulle nostre altre soluzioni industriali, visitare il sito web Olympus-IMS.com.
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Il nostro business per le soluzioni industriali è focalizzato sulla sicurezza e sul miglioramento della società attraverso l'innovazione, lo sviluppo e la produzione di soluzioni di misura e analisi che si contraddistinguono a livello mondiale. Queste soluzioni sono usate nelle applicazioni per l'industria e la ricerca che spaziano dal settore aerospaziale a quello dei prodotti di consumo, passando attraverso quelli della generazione energetica, delle infrastrutture civili, petrolchimico, e automobilistico. Per maggior informazioni visitare il sito Olympus-IMS.com.
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