Contatti
Contatti
Prodotti
▾
Soluzioni NDT
▾
Rilevatore di difetti
▾
Rilevatori di difetti ad ultrasuoni portatili
Strumenti ad ultrasuoni phased array
Prodotti eddy current
Prodotti eddy current array
Controllo di materiali compositi
Misuratori di spessore portatili
▾
27MG
45MG
38DL PLUS
Magna-Mike 8600
35RDC
Trasduttori e accessori
72DL PLUS
Sonde e trasduttori
▾
Trasduttore a singolo elemento e doppio elemento
Eddy Current Probes
Probes for Tube Inspection
Sonde phased array
BondMaster Probes
Sistemi di ispezione automatizzati
▾
Sistema di ispezione per ruote
Sistemi di ispezione per barre
Sistemi di ispezione per tubi
Sistema di ispezione della saldatura a attrito
Strumenti per sistemi NDT
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
Scanner industriali NDT
▾
Scanner per l'ispezione delle saldature
Scanner per l'ispezione della corrosione
Scanner per ispezioni nel settore aerospaziale
Accessori per gli scanner
Olympus Scientific Cloud
Software
▾
Software WeldSight™
Software TomoView
Software NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Software OmniPC 4
Analizzatori XRF e XRD
▾
Analizzatori XRF portatili
▾
Vanta
Vanta Element
Analizzatori XRF compatti e portatili
▾
Vanta
Vanta Element
Vanta™ GX
Analizzatori XRF in linea di produzione
Soluzioni OEM
▾
X-STREAM
Applicazioni e soluzioni principali
Olympus Scientific Cloud
Soluzioni per Microscopia
▾
Microscopi confocali laser
▾
OLS5100
Microscopi digitali
▾
Microscopi digitali
Microscopi di misura
▾
STM7
STM7-BSW
Microscopio per pulizia tecnica
▾
CIX100
Microscopi ottici
▾
Microscopi verticali
Microscopi invertiti
Microscopi modulari
Microscopi per l'ispezione dei display a semiconduttori e schermo piatto
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Microscopi AR
▾
SZX-AR1
Microscopi stereoscopici
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Fotocamere digitali
▾
DP75
DP74
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
Software di analisi delle immagini
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Micro Spectrophotometer
▾
USPM-RU-W
Obiettivi
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
MPLFLN-BDP
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN/LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
Componenti di microscopi OEM per l'integrazione
FAQ per i microscopi
Soluzioni personalizzate
Soluzioni personalizzate
Videoscopi, Boroscopi
▾
Videoscopi industriali
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite e IPLEX G Lite-W
IPLEX TX
Soluzione IPLEX con lungo endoscopio
Strumento attuatore digitale Sweeney di Enerpac
Fibroscopi
▾
Fibroscopi di piccolo diametro
Fonte di luce
Software InHelp
▾
InHelp
Settori industriali
Risorse
Apprendere
Blog
Assistenza clienti
▾
Contatti
Consultation Reception about Introduction
Assistenza clienti
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Centri di assistenza
Soluzioni di finanziamento personalizzato
Olympus Scientific Cloud
Download dei software
User Manuals
Certificazioni ISO
Datasheet MSDS
Compliance and Ethics at Evident
Informazioni sul prodotto
Product Service Termination List
Prodotti fuori produzione e obsoleti
▾
MultiScan MS5800 per l'ispezione di tubi
▾
Software MultiView
Software TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
Rentals
Shop
Careers
What is EVIDENT?
Ricerca
My Account
IMS Log in
IMS Registration
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Soluzioni industriali
Careers
Careers
News
Home
/
News
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2010
|
2009
|
2008
|
2007
|
2006
News
12
dic
Olympus Presenta Il Videoendoscopio Palmare IPLEX UltraLite
04
ott
Olympus NDT Launches Free Industrial Tech Guide App for iPhone and iPad.
19
set
Olympus NDT annuncia l’uscita di nuove funzioni software per il rilevatore di difetti ad ultrasuoni EPOCH 1000i con rappresentazione grafica phased array.
18
set
Innov-X Olympus Annuncia L’Uscita Dell’Ultima Generazione Di Unità XRF Portatili Per L’Analisi Dell’Oro E Di Altri Metalli Preziosi
13
set
Howard University & Woods Hole Biological Lab Awarded Research & Discovery Grant For Historic Shipwreck Studies
02
giu
可視から近赤外領域で、多様な分光特性を高速で測定 近赤外顕微分光測定機「USPM-RU-W」を発売
01
giu
Olympus is pleased to introduce the BXiS metallurgical microscope system.
11
mag
LSU Agcenter Awarded Research & Discovery Grant for Pedological Studies
09
mag
Georgia Southern Univ Awarded Environmental Research & Discovery Grant
09
mag
C.A.I.R.N. Awarded Research & Discovery Grant For Cave Archaeology Studies
02
mag
Olympus Presenta Il Nuovo Rilevatore Di Difetti Phased Array OmniScan MX2
01
mag
Fingerprint Pharmaceutical Compounds Fast with New Low-Cost, Small Benchtop XRD
03
mar
Olympus Innov-X Announces New Delta-50 Analyzer For Ultra-Mobile Rare Earth Element Analysis
10
gen
Olympus Introduces the In-line ERW Tube Inspection System
01
gen
Olympus Innov-X Announces Non-Destructive Fingerprinting of Pharmaceutical Compounds with a Low-Cost, Small Footprint Benchtop XRD System, the BTX
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Contatti
Iscriversi alle Newsletters
Social News
Olympus IMS
Home
/
News
Stampa
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
Sorry, this page is not available in your country