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Vue d'ensemble

Analyseur XRF Vanta™ iX pour l’analyse automatisée des matériaux sur la ligne de production

Actualisez votre processus

L’analyseur XRF sur ligne de production Vanta™ iX d’Olympus assure l’obtention de produits de qualité grâce à un processus automatisé d’analyse des matériaux et d’identification des alliages sur la chaîne de fabrication :

Obtention de résultats instantanés assurant un suivi en temps réel des processus et une inspection complète
Conception permettant un fonctionnement ininterrompu
Résultats de rejet ou d’acceptation, identification précise des alliages et analyse de la composition chimique des matériaux

système sur ligne de production pour l’analyse de la composition chimique des matériaux

Inspection complète de tubes, de barres et de tiges métalliques sur la chaîne de fabrication

Les entreprises appliquant les pratiques de l’industrie 4.0 et un contrôle de processus en continu pour vérifier les alliages au moyen d’analyses de rejet ou d’acceptation tireront profit du Vanta iX puisqu’il permet de vérifier les matériaux et de faire un contrôle par lots et par numéro de coulée durant la fabrication de barres, de billettes, de tubes et de tiges, ainsi que des pièces usinées et des composants sur mesure. L’automatisation de vos contrôles au moyen d’un analyseur Vanta iX ajoute un avantage concurrentiel substantiel à votre produit fini puisque vous pouvez démontrer que les matériaux sont entièrement testés et vérifiés.

Balayage et surveillance pour le contrôle de la teneur en minerai dans les exploitations minières

Dans le cadre de processus géologiques et d’exploitation minière, l’analyseur Vanta iX permet le balayage de carottes et l’analyse sur courroie transporteuse fournissant des résultats en temps réel permettant de surveiller la variabilité du processus et d’assurer l’uniformité de la teneur en minerai. Durant l’analyse sur courroie transporteuse, l’analyseur vérifie le mélange et valide le processus des concentrés.

spectroscopie à fluorescence X utilisée pour la fabrication des métaux

analyse d’alliages et de métaux pour les applications d’assurance et de contrôle de la qualité dans le secteur de la fabrication

Analyse élémentaire rapide et précise pour un contrôle de la qualité en continu

Comme tous les analyseurs de la gamme Vanta, le Vanta iX assure un fonctionnement rapide qui procure des résultats fiables permettant d’orienter la prise de décisions critiques.

Haute résolution : identification d’une gamme de nuances d’alliage, y compris les éléments légers et lourds
Résultats rapides et précis : composants électroniques assurant un rendement, une stabilité et un taux de comptage élevés
Efficacité : détecteur au silicium à diffusion (SDD) et Axon Technology™ éprouvée d’Olympus propres à tous les analyseurs Vanta

Intégration facile à de nombreux systèmes de production

L’analyseur Vanta iX est polyvalent, compact et facile à installer ; il suffit d’utiliser les trous de fixation de chaque côté de l’appareil pour l’assembler sur la robotique existante et d’autres systèmes. Il n’y a pas de boîtier de contrôle externe, donc vous pouvez contrôler l’analyseur facilement à l’aide de l’API Vanta Connect ou d’un automate programmable industriel (PLC) et d’un fil discret.

Options de connecteur :

Ethernet (RJ-45) pour une alimentation « Power over Ethernet »
USB
Entrées/sorties discrètes (16 broches)
Alimentation auxiliaire c.c.

analyseur XRF sur ligne de production pour l’analyse automatisée des matériaux

Robustesse assurant des environnements de fabrication plus performants

L’analyseur Vanta iX est construit pour soutenir les niveaux élevés de vibrations, de bruit électromagnétique et acoustique, de poussière et d’humidité propres aux installations de production, ce qui assure une fiabilité et un temps de fonctionnement accrus.

Résistance aux vibrations (MIL-STD)
Satisfait aux exigences de l’indice de protection IP54
Conçu pour un fonctionnement en continu à des températures variant de –10 °C à 50 °C.

L’analyseur est muni d’un dissipateur de chaleur intégré abaissant la température interne et de fixations permettant l’installation d’un ventilateur si un refroidissement supplémentaire est nécessaire. La fenêtre peut être changée sans outils, ce qui assure un entretien rapide.

Caractéristiques techniques

Vanta™ iX — Caractéristiques techniques

Dimensions (L × H × P)	10 cm × 7,9 cm × 26,6 cm
Poids	2,4 kg
Source d’excitation	Tube à rayons X de 4 watts — Anode en Ag, en Rh ou en W (optimisée selon l’application) 5–200 µA Série MR : 8–50 keV (4 W max) Série CW : 8–40 keV (4 W max)
Filtration du faisceau primaire	Huit positions de filtre sélectionnées automatiquement selon le faisceau et la méthode d’analyse
Détecteur	Série MR : détecteur au silicium à diffusion de grande surface Série CW : détecteur au silicium à diffusion standard
Alimentation	Power over Ethernet (PoE) ou adaptateur d’alimentation c.a. de 18 V
Gamme élémentaire	Selon la méthode : Série MR : Mg–U Série CW : Ti–U (avec fenêtre et étalonnage standard)
Correction de la pression	Baromètre intégré pour correction automatique de la pression de l’air et de l’altitude
Indice de protection IP	IP54
Environnement de fonctionnement	Température : de –10 °C à 50 °C (cycle de service continu) Humidité relative : de 10 % à 90 %, sans condensation
Système d’exploitation	Linux
Logiciel d’application	Progiciel de traitement et d’acquisition de données exclusif à Olympus.