Contáctenos
Contáctenos
Productos
▾
Soluciones para inspeccionar defectos y espesores
▾
Detectores de defectos
▾
Detectores de defectos portátiles por ultrasonido
Instrumentos Phased Array
Instrumentos por corrientes de Foucault
Instrumentos por corrientes de Foucault multielementos
Control de adherencia
Medidores de espesores portátiles
▾
27MG
45MG
38DL PLUS
Magna-Mike 8600
35RDC
Sondas y accesorios
72DL PLUS
Sondas (palpadores)
▾
Sondas monoelemento y duales
Sondas de corrientes de Foucault
Sondas para inspeccionar tubos/tuberías
Sondas Phased Array
BondMaster Probes
Sistemas de inspección automatizados
▾
Sistema de inspección de ruedas
Sistemas de inspección de barras
Sistemas de inspección de tubos
Inspección de soldaduras por fricción-agitación
Instrumentos de END para sistemas industriales
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
Escáneres industriales para END
▾
Escáneres para inspeccionar soldaduras
Escáneres para inspeccionar la corrosión
Escáneres para inspeccionar componentes aeroespaciales
Accesorios para escáneres
Olympus Scientific Cloud
Software
▾
Software WeldSight
Software TomoView
Software NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Software OmniPC 4
Analizadores XRF y XRD
▾
Analizadores XRF portátiles
▾
Vanta
Vanta Element
Analizadores XRF portátiles y compactos
▾
Vanta
Vanta Element
Vanta™ GX
Analizadores XRF en línea
Soluciones OEM
▾
Analizadores X-STREAM
Principales aplicaciones y soluciones
Olympus Scientific Cloud
Microscopios industriales
▾
Microscopios láser confocales
▾
OLS5100
Microscopios digitales
▾
Microscopios digitales
Microscopios de medición
▾
STM7
STM7-BSW
Inspector de limpieza
▾
CIX100
Microscopios ópticos
▾
Microscopios verticales
Microscopios invertidos
Microscopios modulares
Microscopios de inspección para semiconductores y pantallas planas
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Microscopios AR
▾
SZX-AR1
Estereomicroscopios
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Cámaras digitales
▾
DP28
DP74
SC180
DP23
LC35
DP23M
Software de análisis de imágenes
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Micro Spectrophotometer
▾
USPM-RU-W
Lentes de objetivo
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
MPLFLN-BDP
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
Objetivos de interferometría de luz blanca
Micrometer
Accesorios de microscopios para integración
Preguntas frecuentes sobre los microscopios
Soluciones personalizadas
Soluciones personalizadas
▾
Semiconductor Microscopes
Videoscopios y boroscopios
▾
Videoscopios
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite e IPLEX G Lite-W
IPLEX TX
Solución de sonda larga IPLEX
Fibroscopios
▾
Fibroscopios de diámetro pequeño
Fuentes de luz
Software de asistencia de inspección
▾
InHelp
Industrias
Material didáctico
Aprendizaje
Blog
Servicios y asistencia
▾
Contáctenos
Consultation Reception about Introduction
Servicio al cliente
Asistencia técnica en XRF y XRD
Soluciones de servicio
▾
Overview
Centros de servicio
Soluciones de financiación personalizadas
Olympus Scientific Cloud
Descarga de programas informáticos
User Manuals
Certificaciones ISO
Fichas de datos técnicos de seguridad (FDS)
Código de conformidad y ética de Evident
Información acerca de los productos
Product Service Termination List
Productos descatalogados y obsoletos
▾
MultiScan MS5800 para la inspección de tubos
▾
MultiView: un programa informático multitecnológico
Software TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
Applicable products for safety leaflet (IE)
Arrendamiento
Tienda
Portal de empleo
Buscar
My Account
IMS Log in
IMS Registration
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Soluciones industriales
Portal de empleo
Portal de empleo
Últimas noticias
Inicio
/
Boletín
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2010
|
2009
|
2008
|
2007
|
2006
Últimas noticias
27
dic
Aplazamiento de la transferencia de todas las acciones de EVIDENT Corporation de Olympus a Bain Capital
22
dic
可搬型蛍光X線分析装置の開発でコンクリート塩分濃度測定を1ヶ月から30秒に大幅短縮 ー国土交通省新技術情報提供システム(NETIS)に登録ー
15
nov
Nuevo videoscopio dedicado a la energía eólica para inspecciones más rápidas y eficientes en cajas de engranajes
25
oct
EVIDENT Opens New Asia-Pacific Headquarters in Singapore
29
ago
Olympus anuncia el traspaso de su filial Evident a Bain Capital ~Evident acelera su crecimiento e innovación~
15
ago
EVIDENT’s New Montreal Office a Dedicated Space for Breakthrough NDT Software Solutions Development
11
jul
Objetivos OEM de última generación: Equipar a los ingenieros para que desarrollen los instrumentos científicos del mañana
01
jul
顕微鏡の視野内に作業指示を表示し、組立作業・検査業務をサポート 作業効率向上に貢献する、ARマイクロスコープ「SZX-AR1」を発売 接眼レンズを覗いたまま、管理者とのコミュニケーションやリモートでの指導も可能
26
abr
Sistema enriquecido a la realidad SZX-AR1 para simplificar la fabricación de base microscópica
03
abr
OLYMPUS concibe EVIDENT
22
feb
Compacto detector de defectos OmniScan™ X3 de 64 canales para mejorar la eficiencia y el rendimiento de las representaciones por ultrasonido multielemento (Phased Array) y el método de focalización total (TFM)
20
ene
Olympus Provides Hands-On Nondestructive Testing Instruction to Engineering Students
19
ene
El nuevo software PRECiV™ permite a los usuarios de microscopios capturar fácilmente mediciones e imágenes en 2D precisas y repetitivas
Lo sentimos, la página solicitada no se encuentra disponible en su país.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Contáctenos
Suscríbase a los boletines de noticias
Social News
Olympus IMS
Inicio
/
Boletín
Imprimir
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
Lo sentimos, la página solicitada no se encuentra disponible en su país.