Contáctenos
Contáctenos
Productos
▾
Soluciones para inspeccionar defectos y espesores
▾
Detectores de defectos
▾
Detectores de defectos portátiles por ultrasonido
Instrumentos Phased Array
Instrumentos por corrientes de Foucault
Instrumentos por corrientes de Foucault multielementos
Control de adherencia
Medidores de espesores portátiles
▾
27MG
45MG
38DL PLUS
Magna-Mike 8600
35RDC
Sondas y accesorios
72DL PLUS
Sondas (palpadores)
▾
Sondas monoelemento y duales
Sondas de corrientes de Foucault
Sondas para inspeccionar tubos/tuberías
Sondas Phased Array
BondMaster Probes
Sistemas de inspección automatizados
▾
Sistema de inspección de ruedas
Sistemas de inspección de barras
Sistemas de inspección de tubos
Inspección de soldaduras por fricción-agitación
Instrumentos de END para sistemas industriales
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
Escáneres industriales para END
▾
Escáneres para inspeccionar soldaduras
Escáneres para inspeccionar la corrosión
Escáneres para inspeccionar componentes aeroespaciales
Accesorios para escáneres
Olympus Scientific Cloud
Software
▾
Software WeldSight
Software TomoView
Software NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Software OmniPC 4
Analizadores XRF y XRD
▾
Analizadores XRF portátiles
▾
Vanta
Vanta Element
Analizadores XRF portátiles y compactos
▾
Vanta
Vanta Element
Vanta™ GX
Analizadores XRF en línea
Soluciones OEM
▾
Analizadores X-STREAM
Principales aplicaciones y soluciones
Olympus Scientific Cloud
Microscopios industriales
▾
Microscopios láser confocales
▾
OLS5100
Microscopios digitales
▾
Microscopios digitales
Microscopios de medición
▾
STM7
STM7-BSW
Inspector de limpieza
▾
CIX100
Microscopios ópticos
▾
Microscopios verticales
Microscopios invertidos
Microscopios modulares
Microscopios de inspección para semiconductores y pantallas planas
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Microscopios AR
▾
SZX-AR1
Estereomicroscopios
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Cámaras digitales
▾
DP28
DP74
SC180
DP23
LC35
DP23M
Software de análisis de imágenes
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Micro Spectrophotometer
▾
USPM-RU-W
Lentes de objetivo
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
MPLFLN-BDP
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
Objetivos de interferometría de luz blanca
Micrometer
Accesorios de microscopios para integración
Preguntas frecuentes sobre los microscopios
Soluciones personalizadas
Soluciones personalizadas
Videoscopios y boroscopios
▾
Videoscopios
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite e IPLEX G Lite-W
IPLEX TX
Solución de sonda larga IPLEX
Fibroscopios
▾
Fibroscopios de diámetro pequeño
Fuentes de luz
Software de asistencia de inspección
▾
InHelp
Industrias
Material didáctico
Aprendizaje
Blog
Servicios y asistencia
▾
Contáctenos
Consultation Reception about Introduction
Servicio al cliente
Asistencia técnica en XRF y XRD
Soluciones de servicio
▾
Overview
Centros de servicio
Soluciones de financiación personalizadas
Olympus Scientific Cloud
Descarga de programas informáticos
User Manuals
Certificaciones ISO
Fichas de datos técnicos de seguridad (FDS)
Código de conformidad y ética de Evident
Información acerca de los productos
Product Service Termination List
Productos descatalogados y obsoletos
▾
MultiScan MS5800 para la inspección de tubos
▾
MultiView: un programa informático multitecnológico
Software TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
Applicable products for safety leaflet (IE)
Arrendamiento
Tienda
Portal de empleo
Buscar
My Account
IMS Log in
IMS Registration
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Cloud Log in
Cloud Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Soluciones industriales
Portal de empleo
Portal de empleo
Últimas noticias
Inicio
/
Boletín
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2010
|
2009
|
2008
|
2007
|
2006
Últimas noticias
17
dic
EVIDENT powered by OLYMPUS
15
nov
Aplicación para la inspección rápida y portátil de soldaduras presentes en piezas complejas y de gran dimensión
05
ago
コンタミネーション解析システム「CIX100™」のソフトウェアアップデート 品質管理において重要な、コンタミネーション解析と顕微鏡検査を1台で可能に
27
jul
Análisis de imágenes industriales agilizado gracias al aprendizaje profundo en inspecciones de materiales
13
jul
Es el momento de usar el sistema de inspección de limpieza técnica como un microscopio digital
06
abr
検査や解析に適した信頼性の高い画像を提供する顕微鏡用デジタルカメラ「DP28」・「DP23」を新発売
30
mar
DC Series Transducers Provide a Complete Corrosion Monitoring Toolbox
09
mar
The Olympus Discovery Summit Virtually Connects the Microscopy Community
27
ene
Potencia gracias a funciones inteligentes: Procesamiento de imágenes simplificado con las cámaras microscópicas DP28 y DP23 de Olympus
20
ene
Vanta™ iX: Analizador XRF para líneas de producción que automatiza los análisis de materiales y la identificación de aleaciones
12
ene
Escaneo ultrasónico rápido y eficiente en grandes componentes de material compuesto
Lo sentimos, la página solicitada no se encuentra disponible en su país.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Contáctenos
Suscríbase a los boletines de noticias
Social News
Olympus IMS
Inicio
/
Boletín
Imprimir
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
Lo sentimos, la página solicitada no se encuentra disponible en su país.