Kontakt z nami
Kontakt z nami
Produkty
▾
Defektoskopy
▾
Defektoskopy
▾
Przenośne defektoskopy ultradźwiękowe
Urządzenia z głowicami sektorowymi (Phased Array)
Produkty prądowirowe
Produkty do badań techniką prądów wirowych
Badanie połączeń
Ręczne grubościomierze ultradźwiękowe
▾
27MG
45MG
38DL PLUS
Magna-Mike 8600
35RDC
Głowice i Akcesoria
72DL PLUS
Głowice i Przetworniki
▾
Głowice Panametrics UT
Sondy prądowirowe
Sondy do inspekcji rur
Głowice Wieloprzetwornikowe (Phased Array) R/D Tech
Sondy BondMaster
Zintegrowane systemy badań
▾
Sondy do badania kół
Systemy inspekcji prętów
Systemy inspekcji rur
Friction Stir Weld Inspection
Aparatura do automnatycznych systemów NDT
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
Skanery Przemysłowe
▾
Skanery do inspekcji spoin
Skanery do inspekcji korozji
Skanery do inspekcji podzespołów lotniczych
Akcesoria do skanerów
The Olympus Scientific Cloud
Software
▾
WeldSight™ Software
TomoView Software
Oprogramowanie NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
OmniPC 4 Software
XRF i XRD Analizatory
▾
Ręczne analizatory XRF
▾
Vanta
Vanta Element
Kompaktowe i przenośne analizatory XRF
▾
Vanta
Vanta Element
Vanta GX
In-Line XRF Analysis
Rozwiązania OEM
▾
X-STREAM
Tabela zastosowań i rozwiązań
The Olympus Scientific Cloud
Rozwiązania z mikroskopami
▾
Laserowe mikroskopy konfokalne
▾
OLS5100
Mikroskopy cyfrowe
▾
Mikroskopy cyfrowe
Mikroskopy pomiarowe
▾
STM7
STM7-BSW
System kontroli czystości technicznej
▾
CIX100
Mikroskopy świetlne
▾
Mikroskopy pionowe
Mikroskopy odwrócone
Modular Microscopes
Mikroskopy do inspekcji półprzewodników i wyświetlaczy panelowych
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
AR Microscopes
▾
SZX-AR1
Mikroskopy stereoskopowe
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Kamery cyfrowe
▾
DP28
DP74
SC180
DP23
LC35
DP23M
Oprogramowanie do analizy obrazów
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Micro Spectrophotometer
▾
USPM-RU-W
Soczewki obiektywów
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
MPLFLN-BDP
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
Obiektyw do interferometrii w świetle białym
Micrometer
Podzespoły mikroskopowe OEM do integracji
Mikroskop — często zadawane pytania
Customized Solutions
Customized Solutions
▾
Semiconductor Microscopes
Wideoskopy, boroskopy
▾
Wideoskopy przemysłowe
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite and IPLEX G Lite-W
IPLEX TX
Długie endoskopy IPLEX
Fiberoskop przemysłowy
▾
Fiberoskopy o małej średnicy
Źródło światła
Oprogramowanie wspomagające inspekcję
▾
InHelp
Przemysły
Resources
Learn
Blog
Wsparcie Klienta
▾
Kontakt
Consultation Reception about Introduction
Customer Service
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Ośrodki Serwisowe
Custom Financing Solutions
Olympus Scientific Cloud
Pobieranie oprogramowania
User Manuals
Certyfikaty ISO
Karty charakterystyk MSDS
Compliance and Ethics at Evident
Ważne informacje
Product Service Termination List
Produkty Zdezaktualizowane
▾
Multiscan MS5800 do Badania Rur
▾
MultiView Software
TubePro Software
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
Applicable products for safety leaflet (IE)
Rentals
Shop
Careers
Wyszukaj
My Account
IMS Log in
IMS Registration
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Rozwiązania dla przemysłu
Careers
Careers
Recent News
Strona główna
/
Nowości
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2010
|
2009
|
2008
|
2007
|
2006
News
12
gru
Olympus Introduces The palm-sized IPLEX UltraLite videoscope
04
paź
Olympus NDT Launches Free Industrial Tech Guide App for iPhone and iPad.
19
wrz
Olympus NDT Announces New Software for the EPOCH 1000i Ultrasonic Flaw Detector with Phased Array Imaging.
18
wrz
Olympus Announces The Next Generation In Portable Xrf For Gold And Other Precious Metals Testing
13
wrz
Howard University & Woods Hole Biological Lab Awarded Research & Discovery Grant For Historic Shipwreck Studies
02
cze
可視から近赤外領域で、多様な分光特性を高速で測定 近赤外顕微分光測定機「USPM-RU-W」を発売
01
cze
Olympus is pleased to introduce the BXiS metallurgical microscope system.
11
maj
LSU Agcenter Awarded Research & Discovery Grant for Pedological Studies
09
maj
Georgia Southern Univ Awarded Environmental Research & Discovery Grant
09
maj
C.A.I.R.N. Awarded Research & Discovery Grant For Cave Archaeology Studies
02
maj
Olympus Introduces the new Advanced OMNISCAN MX2 Phased Array Flaw Detector
01
maj
Fingerprint Pharmaceutical Compounds Fast with New Low-Cost, Small Benchtop XRD
03
mar
Olympus Innov-X Announces New Delta-50 Analyzer For Ultra-Mobile Rare Earth Element Analysis
10
sty
Olympus Introduces the In-line ERW Tube Inspection System
01
sty
Olympus Innov-X Announces Non-Destructive Fingerprinting of Pharmaceutical Compounds with a Low-Cost, Small Footprint Benchtop XRD System, the BTX
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Kontakt z nami
Zapisz się do biuletynu informacyjnego
Social News
Olympus IMS
Strona główna
/
Nowości
Drukuj
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
Sorry, this page is not available in your country