Olympus ofrece una variedad de instrumentos dedicados a la caracterización de materiales basada en rayos X para llevar a cabo análisis dónde y cuándo usted lo necesite. Por consiguiente, nuestros analizadores que se dotan de la tecnología de fluorescencia de rayos X (XRF) ejecutan análisis de elementos de forma rápida y no destructiva. Asimismo, la innovadora tecnología de difracción de rayos X otorga la identificación de fase mineralógica y química, también, de forma rápida. Los analizadores XRF portátiles pueden ser utilizados en las instalaciones de varios sectores industriales. Estos proporcionan resultados de calidad de laboratorio al instante y en campo. La velocidad de la fluorescencia de rayos X es idónea para procesos analíticos automatizados o en línea continuos en entornos de fabricación. Olympus ofrece sistemas especializados para inspecciones en línea. Todos nuestros analizadores XRD y XRF ofrecen velocidad, potencia, facilidad de uso y precisión para un amplio rango de aplicaciones de caracterización de materiales. |
Los analizadores de fluorescencia de rayos (XRF) portátiles proporcionan la identificación de aleaciones y el análisis de elementos —desde el magnesio hasta el uranio— de forma no destructiva, rápida y precisa. Su uso en el lugar de inspección permite obtener resultados inmediatos y determinar el plan de acción a seguir donde y cuando lo necesite. Entre las aplicaciones posibles destacan: la identificación de aleaciones de metales para controles de calidad; la identificación positiva de materiales; la clasificación de chatarra; la geoquímica para la exploración minera y el control de los grados de minerales; la monitorización de elementos nocivos; los ensayos de productos de consumo y de conformidad RoHS; y los análisis de metales preciosos.
Los analizadores XRF de mesa de la serie Xpert de Olympus ofrecen la potencia y facilidad de uso de nuestros instrumentos portátiles en una configuración autónoma y de circuito de haz cerrado. La serie incluye el reconocido analizador GoldXpert destinado a los análisis de metales preciosos, como también los modelos para el análisis de bienes para el consumidor y aplicaciones de conformidad RoHS.
Los analizadores de difracción de rayos X (XRD) de Olympus proporcionan las mismas capacidades analíticas que los sistemas de laboratorio más grandes y complejos en soluciones compactas, fáciles de usar y de óptima relación precio-rendimiento. Estos sistemas exclusivos son potenciados por el software a carácter intuitivo SwiftMin® para la identificación de fases mineralógicas/minerales y su cuantificación en tiempo real y de forma directa en el analizador. El analizador TERRA™ II representa una solución portátil a baterías para ensayos XRD, mientras que el tamaño reducido del sistema de mesa BTX III lo hace ideal para los ensayos XRD en laboratorios. Ambos ofrecen un exclusivo portamuestras que requiere tan solo 15 mg de material para llevar acabo análisis XRD de forma portátil, ligera y prácticamente sin mantenimiento en comparación con los sistemas convencionales.
Configure un sistema de inspección industrial dotado de nuestra tecnología XRF que responda a sus necesidades específicas. Nuestros componentes X‑STREAM pueden ser integrados en sistemas de clasificación automatizados de alto volumen y alta velocidad que pueden clasificar automáticamente los materiales según su composición química. Lleve el reciclaje de metales y vidrios a otro nivel gracias a su alta velocidad, precisión y rentabilidad.
XRF (o FRX, sigla poco usada en español) significa fluorescencia de rayos X, y es una técnica no destructiva que sirve para analizar elementos y materiales.
La mayoría de los usuarios encuentran que la calibración de los analizadores XRF Vanta™ es adecuada para análisis en campo debido a que ningún tipo de ajuste es requerido. La Axon Technology™ que potencia a cada analizador permite una reproducibilidad en cada accionamiento a través del tiempo y de un amplio rango de temperaturas.
La recolección de datos es sólo una pequeña parte de los ensayos y análisis XRF; pero, si se desea que ésta sea útil, la interpretación de datos correctamente es imperativa. Visite nuestra páginas de material didáctico para obtener consejos específicos sobre el dispositivo; como por ejemplo: ¿cómo visualizar los resultados de los ensayos obtenidos con el analizador XRF portátil Vanta?
Un analizador XRF portátil no puede medir elementos que son más ligeros que el magnesio en la tabla periódica, y el carbón forma parte de estos últimos. Si se necesita cuantificar estos elementos ligeros, se debe usar otro método analítico.
XRD (o DRX, sigla poco usada en español) representa difracción de rayos X. Si bien ambas tecnologías XRF y XRD se usan para caracterizar materiales, la difracción de rayos X se enfoca en el análisis de composición química mientras que la fluorescencia de rayos X se centra en el análisis de los elementos. Las dos tecnologías, al ser usadas en combinación, pueden proporcionar un perfil más completo de la composición de la muestra.
Analizadores XRF Vanta: Video de guía rápidaDesde la apertura de la maleta de transporte hasta los primeros ensayos de sus muestras, este video le mostrará cómo empezar a utilizar su analizador XRF portátil Vanta de forma rápida y segura. | |
Presentación del analizador XRF portátil Vanta Element™Este video muestra cómo empezar a utilizar su analizador XRF portátil Vanta Element. |
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