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Solutions de microscopie pour
fabrication de semi-conducteurs

Conception de circuits intégrés

Les entreprises de conception de circuits intégrés vérifient les circuits intégrés qu’elles conçoivent. De plus, les fabricants de circuits intégrés doivent analyser les circuits intégrés dès l’étape de production expérimentale.
Ils peuvent utiliser un équipement manuel avec une précision élevée.

Observation de la surface des circuits intégrés

Les entreprises de conception de circuits intégrés doivent inspecter les motifs des circuits intégrés fabriqués. De plus, les fabricants de circuits intégrés doivent analyser en détail les circuits intégrés dès l’étape de production expérimentale. Étant donné que le volume d’inspection est faible, les fabricants peuvent utiliser un équipement manuel avec une précision élevée.

Notre solution

Les microscopes industriels des gammes BX/MX offrent un grossissement jusqu’à 1 000 X, ce qui vous permet d’observer les motifs de circuits intégrés avec des lignes de dimensions micrométriques ou submicrométriques. Les microscopes de la gamme DSX offrent quant à eux un grossissement jusqu’à 7 000 X et sont faciles à utiliser.

Microscope pour l’inspection des semi-conducteurs, gamme MX

Microscope pour l’inspection des semi-conducteurs, gamme MX

Microscope pour analyses métallurgiques, gamme BX

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Microscope numérique gamme DSX

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Notes d’application

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Note d’application Détection de défauts de fabrication
Détection des défauts de fabrication des wafers de semi-conducteurs à l’aide d’un microscope numérique En savoir plus
Mesure de l’épaisseur du film photosensible
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Inspection de fils de pontage à l’aide d’un microscope numérique
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Inspection de semi-conducteurs
microscope gamme MX

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Analyses métallurgiques
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Gamme DSX
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