Evident LogoOlympus Logo

Mikroskoplösungen für
die Herstellung von Halbleitern

IC-Entwurf

IC-Entwicklerfirmen überprüfen ihre entworfenen IC-Chips. Darüber hinaus analysieren IC-Chip-Hersteller die IC-Chip-Entwürfe bei der Testproduktion.
Sie können manuelle Geräte mit hoher Genauigkeit verwenden.

Mikroskopie der Oberfläche von IC-Chips

Unternehmen, die integrierte Schaltkreise (IC) entwickeln, müssen die Strukturen der entworfenen IC-Chips überprüfen. Außerdem müssen IC-Chip-Hersteller das IC-Chip-Design bei der Testproduktion analysieren. Da das Prüfvolumen gering ist, können Hersteller manuelle Geräte mit hoher Genauigkeit einsetzen.

Unsere Lösung

Unsere Industriemikroskope der BX/MX-Serie bieten eine bis zu 1.000-fache Vergrößerung, mit der IC-Strukturen mit einer Auflösung im Mikrometer- oder Submikrometerbereich beobachten werden können. Alternativ dazu bieten unsere Mikroskope der DSX-Serie neben hoher Benutzerfreundlichkeit eine bis zu 7.000-fache Vergrößerung.

Mikroskop der MX-Serie für die Halbleiterindustrie

Mikroskop der MX-Serie für die Halbleiterindustrie

Metallurgie-Mikroskop der BX-Serie

Metallurgie-Mikroskop der BX-Serie

Digitalmikroskop der DSX-Serie

Digitalmikroskop der DSX-Serie

Anwendungsbeispiele

Weitere verwandte Anwendungen:

Anwendungshinweis: Erkennung von Fertigungsfehlern
Erkennung von Produktionsfehlern auf Halbleiterwafern mit einem Digitalmikroskop Weitere Informationen
Messung der Dicke von Fotolackfilmen
Messung der Dicke von Fotolackfilmen Weitere Informationen
Prüfung von Bonddrähten mit einem Digitalmikroskop
Prüfung von Bonddrähten mit einem Digitalmikroskop Weitere Informationen

MX-Serie für die Halbleiterindustrie
Mikroskop

Angebot anfordern

Metallurgie-Mikroskop der BX-Serie

Angebot anfordern

Digitalmikroskop der DSX-Serie

Angebot anfordern
Not available in your country.
Not available in your country.
Sorry, this page is not available in your country