_{Soluzioni di microscopie per}
la produzione di componenti in materiali semiconduttori

Osservazione della superficie dei chip IC

Le aziende di progettazione di Circuiti integrati (IC - integrated circuit) devono ispezionare il pattern dei chip IC. Inoltre i produttori di chip IC devono analizzare la progettazione dei chip nella fase produttiva di prova. Visto che è basso il volume da ispezionare, i produttori possono usare strumenti manuali assicurando un'elevata precisione.

La nostra soluzione

I nostri microscopi industriali della serie BX/MX offrono un ingrandimento massimo di 1 000X per l'osservazione di pattern IC con linee a un livello micrometrico o submicrometrico. Altrimenti i nostri microscopi della serie DSX offrono un ingrandimento massimo di 7 000X e sono di facile funzionamento.

Microscopio della serie MX per applicazioni con semiconduttori Vedi informazioni del prodotto

Microscopio della serie MX per applicazioni metallurgiche Vedi informazioni del prodotto

Microscopio digitale della serie DSX Vedi informazioni del prodotto

Note applicative

Scopri le applicazioni correlate:

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	Misura di spessore della pellicola fotoresist Maggior informazioni
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