Contactez-nous
Contactez-nous
Produits
▾
Solutions de contrôle non destructif (CND)
▾
Appareils de recherche de défauts par ultrasons conventionnels et multiéléments
▾
Appareils portables de recherche de défauts par ultrasons
Appareils de recherche de défauts par ultrasons multiéléments
Appareils de recherche de défauts par courants de Foucault
Produits de courants de Foucault multiéléments
Inspection d’assemblages composites
Mesureurs d’épaisseur portables
▾
27MG
45MG
38DL PLUS
Magna‑Mike 8600
35RDC
Sondes et accessoires
72DL PLUS
Sondes
▾
Sondes monoéléments et à émission-réception séparées
Sondes à courants de Foucault
Sondes pour l’inspection des tubes
Sondes à ultrasons multiéléments
Sondes BondMaster
Systèmes intégrés d'inspection
▾
Système d’inspection de roues de train
Systèmes d’inspection de barres
Systèmes d’inspection de tubes
Système pour l’inspection des soudures réalisées par friction-malaxage (FSW)
Composants pour systèmes industriels de CND
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
Scanners industriels de contrôle non destructif (CND)
▾
Scanners pour l’inspection de soudures
Scanners pour le contrôle de la corrosion
Scanners pour l’industrie aérospatiale
Accessoires pour scanners
Olympus Scientific Cloud
Software
▾
Logiciel WeldSight™
Logiciel TomoView
Logiciel NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Logiciel OmniPC 4
Analyseurs XRF et XRD
▾
Analyseurs XRF portables
▾
Vanta
Vanta Element
Analyseurs XRF portables et compacts
▾
Vanta
Vanta Element
Vanta™ GX
In-Line XRF Analysis
Solutions intégrant des composants d’origine (OEM)
▾
Système XRF de tri et de recyclage X-Stream
Applications et solutions principales
Olympus Scientific Cloud
Microscopes industriels
▾
Microscopes confocaux à balayage laser
▾
OLS5100
Microscopes numériques
▾
Microscopes numériques
Microscopes de mesure
▾
STM7
STM7-BSW
Systèmes de contrôle de la propreté des composants
▾
OLYMPUS CIX100
Microscopes optiques
▾
Microscopes droits
Microscopes inversés
Microscopes modulaires
Microscopes pour l’inspection des semi-conducteurs et des écrans plats
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Microscopes à réalité augmentée (RA)
▾
SZX-AR1
Stéréomicroscopes
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Caméras numériques
▾
DP28
DP74
SC180
DP23
LC35
DP23M
Logiciel d’analyse d’images
▾
PRECiV
OLYMPUS Stream
Micro Spectrophotometer
▾
USPM-RU-W
Objectifs
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
MPLFLN-BDP
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
Composants de microscope OEM intégrables
Foire aux questions sur le microscope
Solutions sur mesure
Solutions personnalisées
Vidéoscopes et endoscopes
▾
Vidéoscopes
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite et IPLEX G Lite-W
IPLEX TX
Solutions IPLEX à longue sonde
Fibroscopes
▾
Fibroscopes de petit diamètre
Sources lumineuses
Logiciel d'aide à l'inspection visuelle à distance
▾
InHelp
Industries
Documentation
Apprendre
Blogue
Assistance
▾
Nous contacter
Consultation Reception about Introduction
Service à la clientèle
Soutien technique en XRF et XRD
Service Solutions
▾
Home
Centres de services
Services financiers personnalisés
Olympus Scientific Cloud
Téléchargements de logiciels
User Manuals
Certifications ISO
Fiches de données de sécurité
Conformité et éthique chez Evident
Informations sur les produits
Product Service Termination List
Produits abandonnés ou obsolètes
▾
MultiScan MS5800 pour l’inspection des tubes
▾
Logiciel MultiView
Logiciel TubePro
Terms and Conditions of Supply
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
Rentals
Boutique
Carrières
Chercher
My Account
IMS Log in
IMS Registration
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Cloud Log in
Cloud Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Solutions industrielles
Carrières
Carrières
Actualités
Page d’accueil
/
Communiqués de presse
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2010
|
2009
|
2008
|
2007
|
2006
Actualités
16
déc.
Le logiciel OLYMPUS Stream™, version 2.4.2, améliore la méthode d’analyse des images pour le contrôle de la qualité de l’acier
06
nov.
Olympus lance une méthode XRD innovante grâce au nouveau logiciel SwiftMin® : analyse de phases et minéralogie quantitative intégrées en temps réel
28
oct.
L’appareil de recherche de défauts OmniScan® X3 redéfinit la norme en matière d’ultrasons multiéléments
10
sept.
L’analyseur XRF à main Vanta™ Element permet l’identification rapide des nuances d’alliages et des matières à un prix abordable
11
juin
38-Link™ Adaptor Makes Inspections More Efficient by Enabling Wireless Thickness Data Transfer from Any 38DL PLUS® Gage
03
juin
New Olympus DSX1000 Digital Microscope Offers Advanced Tools for Faster Failure Analysis
31
mai
3D Modeling Expands the Measuring Power of the Olympus IPLEX NX Videoscope
07
mai
Slim LED Transmitted Light Illumination Base with Turret System and LED Light Source Expand Observation and Contrast Options for SZX2/SZ2 Microscopes
25
févr.
Olympus Launches New Industrial Research Chair at Quebec Engineering School
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Contactez-nous
S'abonner à la newsletter
Social News
Olympus IMS
Page d’accueil
/
Communiqués de presse
Imprimer
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
Sorry, this page is not available in your country