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Microscopes industriels
Caractéristiques techniques

Principales caractéristiques des licences

Enterprise Desktop
Acquisition d’images Acquisition d’image basique comprenant la fonction HDR et l’étalonnage automatique du grossissement et de l’HDR en temps réel*1, ainsi que la navigation de position*1 ■

Mise au point automatique par le logiciel*2 et acquisition d’images vidéo (format .avi) ■

Imagerie séquentielle, fonctions EFI instantanée et MIA instantanée/manuelle*3 ■

Acquisitions par fonctions EFI/MIA motorisées et empilement de mises au point ■

Outils d’imagerie et de personnalisation Fenêtres d’outils basiques (historique de l’image, propriétés, navigateur, galerie)*4 ■ ■
Annotations, gestion des couches, échelle, réticule, affichage d’informations et filtres d’image ■ ■
Réticule/grille numérique, affichage de profil de ligne, fonction personnalisée (« My function »), gestion de la disposition de l’affichage à l’écran et gestionnaire de macros (« Macro Manager ») ■

Mesures / analyse d’image Mesure interactive de base (distance, angles, rectangles, cercles, ellipses, polygones, distance de cercle à cercle et rapporteur laser et rapporteur de ligne) et exportation des données dans MS-Excel ■ ■
Analyse de phases, baguette magique, polyligne à main levée, polygone interpolé, filtre morphologique et opérations arithmétiques sur l’image ■ ■
Mesures 3D, mesures du profil 3D et vue 3D de la surface ■ ■
Création de rapports*5 Production de rapports (formats MS Word et MS Excel) ■ ■
Création de présentations ■ ■
Gestion des données Système de gestion de données client/serveur pour un nombre illimité d’utilisateurs simultanés de bases de données**6 ■ ■
Administration d’images et d’autres documents axée sur les utilisateurs ou les projets ■ ■
Droits d’utilisateur variables pour l’accès aux images et aux données ■ ■
Accès aux données rapide et contrôlable ■ ■
Fonctions de recherche très performantes ■ ■
SGBD pris en charge : Microsoft SQL Server 2008 R2/R2 Express, Microsoft SQL Server 2012 (SP1 et SP2)/Express (SP1 et SP2), Microsoft SQL Server 2014/Express, Microsoft SQL Server 2017/Express, Microsoft SQL Server 2019/Express, Oracle 11g R2/express et Oracle 12g R2/express ■ ■
Service sophistiqué de stockage sécurisé offert par la technologie Secure File Repository (SFR) ■ ■
Appareils compatibles Microscopes Evident**7 et caméras Evident*8 ■

Caméras et convertisseurs de sources d’image d’autres marques qu’Evident*9 ■

Contrôleurs de platine d’autres marques qu’Evident*9 ■

Configuration PC requise
Processeur Intel® Core i5, Intel® Core i7, Intel® Xeon
Mémoire RAM/Disque dur/Lecteur DVD 4 Go ou plus (8 Go recommandés)/2,4 Go ou plus d’espace libre/Compatible avec les disques DVD+R DL
Systèmes d’exploitation*10 Windows 10 Pro (64 bits), Windows 8.1 (64 bits) Pro
.NET Framework Version 4.6.2 ou ultérieure
Carte graphique*11 Résolution de l’écran de 1280 × 1024 avec carte vidéo de 32 bits
Navigateur Internet Windows Internet Explorer 8, 9, 10 ou 11

*1   Nécessite la caméra DP74 ; la fonction Live HDR requiert un système d’exploitation 64 bits.
*2   Nécessite un microscope Evident avec un axe Z motorisé ou un axe Z motorisé externe
*3   La fonction MIA instantanée peut ne pas fonctionner correctement avec certaines caméras.
*4   Écriture et lecture de la plupart des formats de fichier, ouverture des formats propres à Evident (formats de fichiers DSX, LEXT et POIR)
*5   Nécessite d’installer au préalable Microsoft Word 2010, 2013, 2016, 2019 ou Office 365 (non fournis)
*6   Utilise Microsoft SQL Server Express
*7   Compatible avec les systèmes BX53M, BX2, IX2, GX, GX53, SZX, SZX2, SZX-ZE, MX, MX63, MX63L, MVX, STM7-CB, CBS, BX3M-CB, BX3M-CBFM et BX-REMCB
*8   Compatible avec les systèmes LC20, LC30, LC35, DP22, DP23, DP27, DP28, DP73, DP74, SC30, SC50, SC100, SC180, UC30, UC50, UC90, XC10, XC30, XC50, XM10 et DP23M
*9   Veuillez contacter Evident pour obtenir des informations sur les appareils compatibles.
*10 À partir de la version Stream 2.5, les caméras DP74, DP73 et SC180/UC90 d’Evident sont compatibles avec Windows 10/8.1 uniquement. Windows 7 n’est plus pris en charge.
*11 Configurations requises pour la fonction HDR en cours d’acquisition avec la caméra DP74. Carte graphique compatible avec la technologie CUDA fabriquée par NVIDIA (capacité de calcul de 2.1 ou plus). Pilote de carte graphique compatible avec CUDA 9.1 et autres versions plus récentes.

Caractéristiques des solutions spéciales

Solution Compatibilité Fonctions
Enterprise Desktop Type de mesure
3D Incluse Partiellement incluse* Vue 3D de la surface, mesures 3D, mesures du profil 3D, fonctions d’empilement de mises au point/EFI motorisées, fonction EFI instantanée avec cartographie de la hauteur (requiert un axe des Z codé ou motorisé)
Mesure de soudures ■ ■ Fonctionnalité de mesure de soudures (mesures de la distorsion géométrique induite par la chaleur pendant le soudage)
Numération et mesure ■ ■ Plusieurs méthodes par seuil sont disponibles (automatique, TSV manuelle, manuelle et adaptative)
Le système peut automatiquement mesurer plusieurs paramètres sur tous les objets segmentés (surface, rapport de forme, bissectrice, rectangle de délimitation, centre de gravité, ID, centre de masse, valeurs d’intensité, convexité, diamètres, allongement, diamètre de Féret, étendue, distance des plus proches voisins, orientation, périmètre, rayon, forme, sphéricité, etc.). Tableur et abaques avec mesures individuelles et mesures de distribution.

Technologie d’apprentissage profond TruAI™

■ ■ Entraînement de réseaux neuronaux à l’aide de méthodes de segmentation sémantique (objets bien séparés) ou d’instances (objets touchant les bordures)

* Impossibilité d’utiliser les fonctions relatives aux acquisitions d’images

Caractéristiques des solutions dédiées aux matériaux

Solution Possibilités Fonctions
Enterprise Desktop Création automatique de rapports Classeur avec mesure individuelle Stockage de tous les résultats dans les propriétés de l’image Type de mesure Normes prises en charge
Grain intercept (granulométrie – méthode par intercepts) ■ ■ ■ ■ ■ Choix de formes (cercles, croix, croix et cercles, lignes verticales, lignes horizontales, lignes verticales et horizontales)

Définition du nombre de lignes de test pour la détermination de l’allongement du grain

Affichage de la valeur G de grossissement du microscope dans la fenêtre d’outils « Material Solutions » (solutions dédiées aux matériaux) 		ASTM E112-13(2021), ISO 643:2020, JIS G 0551:2020, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2017, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015)
Grain Planimetric (granulométrie – méthode planimétrique) ■ ■ ■ ■*2 ■ Extraction automatique des joints de grains

Intervention de l’utilisateur à l’aide des curseurs Stream offrant une plus grande facilité d’utilisation

Affichage de l’histogramme de l’indice G dans la fenêtre d’outils « Material Solutions » pour une interaction directe 		ASTM E112-13 (2021), ISO 643:2020, JIS G 0551:2020, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2017, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015)
Non-Metallic Inclusions (inclusions non métalliques) ■ ■ ■ ■ ■ Détection automatique des inclusions non métalliques selon la couleur, la forme et la taille

Classement automatique des oxydes, sulfures, silicates et aluminates

Affichage en temps réel de l’inclusion détectée et de son classement

Vue d’ensemble statistique des inclusions sur l’ensemble de la zone de balayage
  		ASTM E45-18a (méthode A), DIN 50602:1985 (méthode M), ISO 4967:2013 (méthode A), GB/T 10561-2005 (méthode A, équivalente à ISO 4967), JIS G 0555:2003 (méthode A, équivalente à ISO 4967), UNI 3244:1980 (méthode M), EN 10247:2017 (méthodes P et M), EN 10247:2007 (méthodes P et M), ASTM E45-18 (méthode D), ISO 4967:2013 (méthode B), SEP 1571-2017 (méthodes M et K) et EN10247:2017 (méthode K).
Cast Iron (fonte) ■ ■ ■ ■ ■ Sur des échantillons polis : mesure automatique des caractéristiques du graphite (taille, forme et distribution)

Sur des échantillons attaqués : mesure du rapport ferrite-perlite

Processus opérationnel intégré tenant compte de l’état de l’échantillon (attaqué ou poli) 		EN ISO 945-1:2018, ASTM A247-17,
JIS G 5502:2001, KS D 4302:2006,
GB/T 9441-2009, ISO 16112:2017,
JIS G 5505:2013, NF A04-197:2017,
ASTM E2567-16a (pour la nodularité uniquement)

Chart Comparison (comparaison par abaques)

■ ■

■ ■ Plusieurs affichages proposés, y compris la superposition en cours d’acquisition

Intervention de l’utilisateur à l’aide des curseurs Stream offrant une plus grande facilité d’utilisation

Calcul de statistiques sur les valeurs sélectionnées 		DIN 50602:1985, ISO 945-1:2019, ISO 643:1983, ISO 643:2012, EN 10247:2017, SEP 1520:1998, SEP 1572:2019, ASTM E112:13(2021) et ISO 4505:1978

Layer Thickness (épaisseur des couches)

■ ■ ■ ■

Les limites des couches peuvent être spécifiées par détection automatique, par baguette magique ou en mode manuel (en utilisant deux ou trois points).

Possibilité d’ajouter ou de supprimer des mesures individuelles ultérieurement

Prise en charge des mesures de tous les types de couches d’échantillon (avec limites régulières ou non)

Possibilité de calculer les valeurs moyennes, maximales et minimales, de même que les données statistiques pour chaque couche

Coating Thickness (épaisseur de revêtement)

■ ■ ■ ■ ■ Revêtements imprimés mesurés à partir d’une vue de dessus

Calcul de l’épaisseur du revêtement en fonction de la géométrie de l’échantillon 		EN 1071-2:2002, VDI 3824 : 2001, ISO 26423:2016

Dendrite Arm Spacing (espacement entre les branches dendritiques)

■ ■ ■ ■ ■ Détermination de l’espacement moyen entre les bras dendritiques dans les alliages d’aluminium

Automatic Measurements (mesures automatiques)

■

■

Mesure automatique de distances (point à point, point à ligne, cercle à cercle, point à cercle, ligne à cercle)

Mesure automatique du diamètre de cercles (circularité, rectangle de délimitation)

Mesure automatique des angles entre deux lignes

Définition des valeurs de tolérance pour la mesure et la validation visuelle

Modes expert et utilisateur pour la répétabilité des mesures

Throwing Power (pouvoir de pénétration)

■

■ ■ ■ Mesures manuelles du point d’intérêt sélectionné sur l’échantillon

Points prédéfinis déclenchés par l’opérateur

Sélection du type de trous d’interconnexion et documentation de l’analyse

Rapports et calcul automatique selon les mesures manuelles

Porosity (porosité)

■ ■ ■ ■ ■ Détection des pores par région d’intérêt (triangle, cercle, rectangle, polygone ou baguette magique) avec fonctionnalité de chevauchement

Mesure de la surface spécifique, du nombre et de la densité des pores

Mesure du plus gros pore

Mesure d’une plage de tailles spécifiée 		VW 50093/ P6093:2012,
VDG P201-2002, VDG P202-2010,
VDG P211-2010

Particle Distribution (distribution des particules)

■ ■ ■ ■ ■ Définition des particules à l’aide de réglages de seuil simplifiés

Classement automatique selon un paramètre sélectionné (taille, couleur ou forme)

Mesure des régions d’intérêt et seuils multiples

Définition de la validation et du codage selon les normes définies par l’utilisateur

Advanced Phase Analysis (analyse de phases avancée)

■ ■ ■ ■ ■ Proportion de phases par région d’intérêt (triangle, cercle, rectangle ou polygone)

Baguette magique, polyligne à main levée, polygone interpolé, filtre de morphologie et arithmétique d’image également utilisables

Mesure du pourcentage de phase total, par phase et par région d’intérêt

Détection de la zone minimale sélectionnable


* 2 Un abaque Stream Enterprise avec la distribution peut être généré.

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