Обратная связь
Обратная связь
Продукты
▾
Решения НК
▾
Дефектоскопы
▾
Портативные ультразвуковые дефектоскопы
Оборудование с фазированными решётками
Вихретоковые дефектоскопы
Вихретоковые матрицы
Контроль качества композитных материалов
Портативные толщиномеры
▾
27MG
45MG
38DL PLUS
Magna-Mike 8600
35RDC
Преобразователи и аксессуары
72DL PLUS
Датчики и преобразователи
▾
Одноэлементные и раздельно-совмещенные преобразователи
Вихретоковые преобразователи
Преобразователи для контроля труб
Фазированные преобразователи (ФР-ПЭП)
BondMaster Probes
Автоматизированные системы контроля
▾
Система контроля колесных пар ж/д вагонов
Системы контроля прутков
Системы контроля труб
Система контроля сварных соединений полученных сваркой трением с перемешиванием (СТП)
Оборудование НК
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
Промышленные сканеры НК
▾
Сканеры для контроля сварных соединений
Сканеры для коррозионного мониторинга
Сканеры для аэрокосмической промышленности
Комплектующие сканеров
Olympus Scientific Cloud
Software
▾
Программное обеспечение WeldSight™
Программное обеспечение TomoView
Программное обеспечение NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Программное обеспечение OmniPC 4
РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры
▾
Портативные РФ-анализаторы
▾
Vanta
Vanta Element
Компактные переносные РФ-анализаторы
▾
Vanta
Vanta Element
Vanta GX
In-Line XRF Analysis
Решения OEM
▾
X-STREAM
Ключевые прикладные решения
Olympus Scientific Cloud
Промышленные микроскопы
▾
Лазерные конфокальные микроскопы
▾
OLS5100
Цифровые микроскопы
▾
Цифровые микроскопы
Измерительные микроскопы
▾
STM7
STM7-BSW
Контроль чистоты
▾
CIX100
Оптические микроскопы
▾
Прямые микроскопы
Инвертированные микроскопы
Модульные микроскопы
Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Микроскопы с дополненной реальностью
▾
SZX-AR1
Стереомикроскопы
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Цифровые камеры
▾
DP75
DP74
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
ПО для анализа изображений
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Микроспектрофотометр
▾
USPM-RU-W
Линзы объектива
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
MPLFLN-BDP
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
Компоненты микроскопов OEM
Промышленные микроскопы — Часто задаваемые вопросы
Специализированные решения
Customized Solutions
Видеоскопы, бороскопы
▾
Видеоскопы
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite and IPLEX G Lite-W
IPLEX TX
IPLEX с длинной рабочей частью
Sweeney Digital Turning Tool from Enerpac
Промышленные фиброскопы
▾
Фиброскопы малого диаметра
Источники света
Программное обеспечение для генерации отчетов
▾
InHelp
Отрасли
Ресурсы
Обучение
Блог
Поддержка
▾
Контакты
Consultation Reception about Introduction
Служба поддержки клиентов
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Сервисные центры
Custom Financing Solutions
Olympus Scientific Cloud
Программное обеспечение
User Manuals
Сертификаты ISO
MSDS Datasheets
Compliance and Ethics at Evident
Информация о продукции
Product Service Termination List
Оборудование снятое с производства
▾
MultiScan MS5800 для контроля труб
▾
Программное обеспечение MultiView
Программное обеспечение TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
Rentals
Shop
Careers
What is EVIDENT?
Поиск
My Account
IMS Log in
IMS Registration
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Промышленные решения
Карьера
Карьера
Новости
Главная
/
Пресса
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2010
|
2009
|
2008
|
2007
|
2006
News
11
Ноя
«Умные» функции лазерного микроскопа LEXT™ OLS5100 Olympus ускоряют рабочие процессы экспериментов
14
Окт
Olympus and Hellier NDT Extend Collaboration to Train Future NDT Inspectors
25
Авг
Training the Next-Generation of NDT Inspectors in FMC/TFM
04
Авг
Olympus and Metal Analysis Group to Deliver API RP 578 Training
07
Июл
Сканер AxSEAM™ существенно упростил контроль продольных сварных швов труб!
23
Июн
Olympus Supports Student Success at San Jacinto College with Ultrasonic Testing Equipment Donation
18
Июн
Advanced Optical Metrology: New expertly curated content hub launched
17
Июн
Улучшенный контроль качества при производстве стали
26
Май
РФ-анализатор Vanta Element-S — Быстрое обнаружение легких элементов по доступной цене.
19
Май
Приложение Vanta™ Data Viewer упрощает обмен данными РФА
15
Апр
Новый зонд IPLEX NX с внутренним рабочим каналом и шестью инструментами для извлечения FOD расширяет возможности видеоэндоскопа
23
Мар
Olympus Scientific Cloud™ версии 3.0 еще больше повышает качество контроля и эффективность измерительных устройств Olympus, благодаря мощным инструментам анализа и новым бесплатным функциям.
10
Мар
Olympus Supports FMC/TFM Training with OmniScan™ X3 Flaw Detectors
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Обратная связь
Подписаться на информационный бюллетень
Social News
Olympus IMS
Главная
/
Пресса
Печать
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.