Обратная связь
Обратная связь
Продукты
▾
Решения НК
▾
Дефектоскопы
▾
Портативные ультразвуковые дефектоскопы
Оборудование с фазированными решётками
Вихретоковые дефектоскопы
Вихретоковые матрицы
Контроль качества композитных материалов
Портативные толщиномеры
▾
27MG
45MG
38DL PLUS
Magna-Mike 8600
35RDC
Преобразователи и аксессуары
72DL PLUS
Датчики и преобразователи
▾
Одноэлементные и раздельно-совмещенные преобразователи
Вихретоковые преобразователи
Преобразователи для контроля труб
Фазированные преобразователи (ФР-ПЭП)
BondMaster Probes
Автоматизированные системы контроля
▾
Система контроля колесных пар ж/д вагонов
Системы контроля прутков
Системы контроля труб
Система контроля сварных соединений полученных сваркой трением с перемешиванием (СТП)
Оборудование НК
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
Промышленные сканеры НК
▾
Сканеры для контроля сварных соединений
Сканеры для коррозионного мониторинга
Сканеры для аэрокосмической промышленности
Комплектующие сканеров
Olympus Scientific Cloud
Software
▾
Программное обеспечение WeldSight™
Программное обеспечение TomoView
Программное обеспечение NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Программное обеспечение OmniPC 4
РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры
▾
Портативные РФ-анализаторы
▾
Vanta
Vanta Element
Компактные переносные РФ-анализаторы
▾
Vanta
Vanta Element
Vanta GX
In-Line XRF Analysis
Решения OEM
▾
X-STREAM
Ключевые прикладные решения
Olympus Scientific Cloud
Промышленные микроскопы
▾
Лазерные конфокальные микроскопы
▾
OLS5100
Цифровые микроскопы
▾
Цифровые микроскопы
Измерительные микроскопы
▾
STM7
STM7-BSW
Контроль чистоты
▾
CIX100
Оптические микроскопы
▾
Прямые микроскопы
Инвертированные микроскопы
Модульные микроскопы
Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Микроскопы с дополненной реальностью
▾
SZX-AR1
Стереомикроскопы
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Цифровые камеры
▾
DP28
DP74
SC180
DP23
LC35
DP23M
ПО для анализа изображений
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Микроспектрофотометр
▾
USPM-RU-W
Линзы объектива
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
MPLFLN-BDP
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
Компоненты микроскопов OEM
Промышленные микроскопы — Часто задаваемые вопросы
Специализированные решения
Customized Solutions
▾
Semiconductor Microscopes
Видеоскопы, бороскопы
▾
Видеоскопы
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite and IPLEX G Lite-W
IPLEX TX
IPLEX с длинной рабочей частью
Промышленные фиброскопы
▾
Фиброскопы малого диаметра
Источники света
Программное обеспечение для генерации отчетов
▾
InHelp
Отрасли
Ресурсы
Обучение
Блог
Поддержка
▾
Контакты
Consultation Reception about Introduction
Служба поддержки клиентов
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Сервисные центры
Custom Financing Solutions
Olympus Scientific Cloud
Программное обеспечение
User Manuals
Сертификаты ISO
MSDS Datasheets
Compliance and Ethics at Evident
Информация о продукции
Product Service Termination List
Оборудование снятое с производства
▾
MultiScan MS5800 для контроля труб
▾
Программное обеспечение MultiView
Программное обеспечение TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
Applicable products for safety leaflet (IE)
Rentals
Shop
Careers
Поиск
My Account
IMS Log in
IMS Registration
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Промышленные решения
Карьера
Карьера
Новости
Главная
/
Пресса
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2010
|
2009
|
2008
|
2007
|
2006
News
08
Дек
Olympus Introduces TomoView 2.9 — The Newest Software Version of the TomoView Ultrasonic Data Acquisition And Analysis Software Suite
08
Дек
Olympus Provides a Comprehensive Weld Inspection Solution for Pipes with a Diameter as Small as 0.84 in. (21.3 mm)
18
Ноя
Innov-X Systems, Inc. and BT-Wolfgang Binder Work Together to Develop Automated Plastics Sorting System
09
Ноя
Innov-X Systems Awards Portable XRF Academic Research Grant (Salem State)
29
Окт
Innov-X Systems Awards Portable XRF Academic Research Grant (Lawrence University)
20
Окт
Innov-X Systems Awards Portable XRF Academic Research Grant (Bridgewater)
02
Окт
Innov-X Systems Awards Portable XRF Academic Research Grant (Arizona State)
01
Окт
Olympus Представляет Новые Промышленные Видеоскопы IPLEX LX И IPLEX LT
10
Сен
Innov-X Systems And Wondjina Research Institute (Wri) Cooperate To Advance Portable XRF For Archaeometry
14
Май
The Olympus IPLEX-FX is cruising!
13
Мар
Innov-X Terra Portable XRD Recognized at PITTCON Conference for Innovation
12
Мар
Innov-X and BT Wolfgang Binder GmbH Cooperate to Advance Glass Sorting Technology
26
Фев
Innov-X Systems Partners with PerkinElmer for Consumer Safety Screening
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Обратная связь
Подписаться на информационный бюллетень
Social News
Olympus IMS
Главная
/
Пресса
Печать
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.