좋은 PR을 이길 수는 없습니다!펄스 수신 버전 REX1 DLA 프로브의 이점 알아보기

Dual Linear Array™(DLA) 프로브는 펄싱 및 수신하는 초음파 빔을 음향적으로 절연하는 지연선에 송수신 배열이 서로 다른 각도로 장착되어 있다는 점에서 독특합니다.이러한 설계는 생성된 빔을 부품 표면 아래에 집중시켜 표면 반사의 진폭을 줄이고 표면 근처의 해상도를 개선합니다.

DLA 프로브의 음향 절연된 발사 및 수신 선형 배열의 단면도

카바이드 마멸판이 설치된 REX1 DLA 프로브의 하단 및 교체용 지연선(오른쪽)

위상 배열(PA) 부식 검사를 위한 당사 DLA 프로브는 기존의 초음파 탐상 검사(UT)에 사용되는 이중 소자 탐촉자에 비해 몇 가지 이점을 제공합니다.

개선점은 다음과 같습니다.

빔 범위 확대 스캔 효율성 향상 데이터포인트 밀도 증가 직경 4인치(101.6mm) 크기의 소구경 파이프에서도 결과를 최적화할 수 있도록 DLA 프로브에 컨투어 처리된 탈착식 지연선 및 관류 등의 옵션을 사용할 수 있습니다.또한 300°F(150°C) 정도의 뜨거운 표면을 검사할 수 있는 고온 버전을 제공합니다.

이중 선형 배열 프로브 배선 변경의 이점

DLA 프로브는 특수 개발된 배선 덕분에 비PR 위상 배열 획득 기기와 함께 사용할 때 PA 검사에서의 성능을 입증했습니다.흔히 자동 또는 반자동 스캐너에 장착되는 DLA 프로브는 부식 모니터링을 위한 고품질 C스캔 이미징을 달성할 수 있을 뿐만 아니라 피팅, 크리프 손상 및 수소 유도 균열(HIC)과 같은 치명적인 결함을 분석할 수 있습니다.

위상 배열 기기의 성능이 진보하면서 프로브 기술의 수요 또한 증가했습니다.이러한 성능 요구 사항에 따라, 센서 R 팀은 REX1 DLA 프로브의 “펄스 수신” 또는 PR 모델의 설계에 착수하게 되었습니다.REX1 PR 모델의 배선은 빔 발사 능력을 더욱 향상시키기 위해 기존 모델과 다르게 구성되었습니다.

고급 초음파 기술에는 고급 전자 제품이 필요합니다

전체집속기법(TFM) 및 위상 일관성 이미징(PCI)과 같은 새로운 고급 초음파 기술은 기존 프로브 배선의 한계를 검사하는 복잡한 발사 시퀀스를 포함합니다.

REX1 DLA PR 모델 배열의 소자 간 전기적 연결은 TFM 기술을 갖춘 OmniScan™ X3 장치와 PCI 및 TFM 기술을 갖춘 OmniScan X3 64 결함 탐상기의 복잡한 초점 법칙 수요를 지원하는 데 최적화되었습니다.TFM과 PCI의 이미징 성능 잠재력을 완전히 활용하려면 반드시 REX1 DLA 프로브의 PR 버전을 선택해야 합니다.

REX1 DLA PR 프로브는 표준 PA 이미징뿐만 아니라 강철의 수소 유도 부식에서 얻은 다음의 이미지 예시에서 볼 수 있는 것처럼 효율적이고 고품질의 TFM 및 PCI 스캔을 수행하는 데 사용할 수 있습니다.

전체집속기법(TFM)

위상 일관성 이미징(PCI)

호환성을 극대화하기 위해 OmniScan X3 시리즈는 DLA 프로브 사양으로 사전 구성되어 있어 검사 설정을 빠르고 쉽게 할 수 있습니다.TFM 또는 PCI 스캔 계획을 생성할 때 프로브 목록에서 간편히 DLA 모델을 선택하고 장비에서 직접 초점 법칙 구성을 진행하면 됩니다.

REX1 DLA 모델을 선택할 때는 PR을 찾으십시오

OmniScan X3 또는 OmniScan X3 64 결함 탐상기를 가지고 계시며, 기기의 성능을 극대화하는 DLA 프로브를 주문하려면 부품 번호에 “PR”이 있는지 확인하십시오.

여기에 예시가 있습니다.

위 번호는 세그먼트별 정의가 포함된 REX1 DLA PR 프로브 부품 번호입니다.모든 REX1 DLA PR 모델을 나타내는 PR 부분은 파란색으로 강조 표시되어 있습니다.

검사에 필요한 다른 모든 프로브 특성에 대해 확신한다면, PR을 찾는 것만 기억하면 됩니다.모든 주문 정보를 확인하려면 이 브로슈어를 다운로드하십시오.

그러나 원하는 부품 및 결함 유형을 위해 어떤 유형의 프로브가 가장 적합할지 결정하는 데 도움이 필요할 경우에는 주저하지 말고 Evident 담당자에게 문의하십시오.귀하의 요구 사항과 기기 모두에 적합한 프로브를 주문할 수 있도록 최선을 다하겠습니다.

DLA 프로브 및 OmniScan X3 시리즈의 성능에 대해 자세히 알아보십시오.

관련 콘텐츠

NDT 검사자를 위한 OmniScan X3 결함 탐상기의 TFM 및 기타 주요 장점—고객 이용 후기

부식 검사를 위한 이중 선형 배열 프로브의 다섯 가지 장점

즐겨찾기 추가!한곳에서 편리하게 TFM(Total Focusing Method) 자료를 이용하세요