Olympus' USPM-RU-W NIR Micro-Spectrophotometer 는 빠르게, 적합하게 분광 광도법을 작동시킵니다. 가시광선부터 근적외선 파장까지의 범위에서 작동됩니다. 극도로 작은 범위를 측정하며, 일반적인 분광광도계로는 측정할 수 없는 휘어진 표면도 측정 가능하게 하는 기능을 가지고 있습니다. 이 기능은 USPM-RU-W를 광학요소를 평가하거나 순간 전자 파트를 측정하는데 최적화 되어 있습니다 .
■ 수초 내에 측정되는 반사성, 필름 두께, 물체 색깔, 투과성
■ 380nm 부터 1050nm까지의 넓은 파장의 범위
■ 접촉 없이 곡면위의 반사성을 측정합니다.
17um부터 70um의 반경 범위를 가진 미세 영역의 반사도를 측정하시오.
대략 50nm로 부터 10 um의 단층 또는 복층 필름의 두께를 측정 하려면 반사도 데이터를 사용하시오.
XY 색도 다이어그램, L*a*b*다이어그램, 반사 데이터를 기반으로한 관련된 수치를 구현합니다.
분광광도계 acceptance elements 샘플을 통해 2mm 평행 빔을 투과 시킴으로서 평평한 샘플의 투과성을 측정합니다.
분광광도계 acceptance 요소로 향하는 2mm 평행 빔 반사를 통해 45도의 입사각에서 반응성을 측정합니다.
빠르고 높은 반복 측정은 두번째, 평평한 격자와 라인 센서, 그리고 높은 속도의 분광광도법의 두번째 사용에서 얻어집니다.
올림푸스는 반경 17um 부터 70um의 비접촉 측정을 가능하게 하는 전용 대물렌즈를 제작해왔습니다. 새로운 렌즈는 곡면 또는 미세 전자 파트에서 높은 반복성을 갖게 합니다.
표면 반사의 올바른 측정은 후면 반사를 막는데 필요한 단계적 비용없이 실시됩니다. 후면 반사광은 컨포칼 시스템과 유사한 초점외 out of focus 광 반사를 막는 특별 optics를 수단으로 인해 감소됩니다. 광학 요소들이 구형이든 비구면이든 평평하든, USPM-RU-W는 비반사 처리를 통해서 샘플 준비를 필요로 하지 않게 됩니다.
단층 또는 복층의 필름의 두께는 스펙트럼의 반사 데이터를 따라 평가됩니다. 당신은 어플리케이션을 휘해 최적화된 측정 방법을 석택할 수 있습니다 .
이 방법은 측정된 스펙트럼 반사 수치의 최고점 최저점 사이의 기간에 기반하여 필름 두께를 측정하는데 사용됩니다. 이는 단층 필름 측정에 효과적입니다. 어떤 복잡한 설정도 필요치 않으므로, 필름 두께 측정이 쉽습니다.
이 방법은 측정된 스펙트럼 반사 수치의 기간에 기반하여 필름 두께를 측정하는데 사용됩니다. 이는 단층 필름 측정에 효과적입니다. 푸리에 변혼 방법은 노이즈를 제거하므로, 최고점과 최저점 수치를 발견하기 어려울 때 평가를 가능하게 합니다.
이 방법은 측정된 스펙트럼 반사성과 구조측정을 위한 반사 사이의 최소의 차이점을 가진 구조를 평가함으로써 필름 두께를 측정하는데 사용됩니다. 또한 이는 단층, 복층 필름 측정에 효과적입니다. 곡면 핏 방법 또한 최고점, 최저점 수치가 명확하지 않은 필름을 평가하는 것을 가능하게 합니다.
높은 속도와 정확도는 다양하고 필요한 측정을 만족시킵니다.
휴대폰 카메라 렌즈
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디지털 카메라 렌즈
안경 렌즈
LED 팩키지
프린트된 서킷 보드
LCD 컬러 필터
광학 필름
프리즘
거울
| Reflectivity measurement | Transmittance Measurement*1 | Reflectivity Measurement for 45-Degrees*1 | |||
| Name | NIR Micro-Spectrophotometer |
Transmittance measurement set for
NIR Micro-Spectrophotometer |
45-degree reflectance measurement set for
NIR Micro-Spectrophotometer | ||
| Model | USPM-RU-W | ||||
| Measured wavelength | 380 to 1050 nm | ||||
| Measurement method | Compared with a reference sample for measurement | Transmissivity is measured with 100% as standard | Compared with a reference sample for measurement | ||
| Measurement range | See the specifications of the objective lens below | Approx. 2.0 mm in diameter | |||
| Measurement repeatability(3σ) *2 | Reflectivity measurement | During use of 10x and 20x objective lenses |
±0.02% or less (430 to 1010 nm)
±0.2% or less (Except as described above) |
±0.3% or less (430 to 1010 nm)
±1.0% or less (Except as described above) | |
| During use of a 40x objective lens |
±0.05% or less (430 to 950 nm)
±0.5% or less (Except as described above) | ||||
| Film thickness measurement | ±1% | - | |||
| Wavelength display resolution | 1nm | ||||
| Lighting accessory | Dedicated halogen light source, JC12V 55W (Average life: 700 hours) | ||||
| Shift stage |
Loading surface size: 200 (W) x 200 (D) mm
With stand load: 3 kg Operating range: (XY) ±40 mm, (Z) 125 mm | ||||
| Tilt stage | － |
Loading surface size: 140 (W) x 140 (D) mm
Withstand load: 1 kg Operating range: (XT) ±1*, (YT) ±1* | |||
| Weight | Main body: Approx. 26 kg (not including PC) | Main body: Approx. 31 kg (not including PC)*3 | |||
| Control power box: Approx. 6.7 kg | |||||
| Dimensions | Main body: 360 (W) x 446 (D) x 606 (H) mm | Main body: 360 (W) x 631 (D) x 606 (H) mm | |||
| Control power box: 250 (W) x 270 (D) x 125 (H) mm (Protruding parts are not included) | |||||
| Power specifications | Input specifications: AC 100-240V (110V) 50/60Hz | ||||
| Operating environment |
Horizontal place not subject to vibration
Temperature: 15 ºC to 30 ºC Humidity: 15% to 60% RH (Free from dew condensation) | ||||
*1 Optional unit *2 Measured under the measurement conditions of our company. *3 The total weight of both the transmissivity measurement set and 45-degrees reflectivity measurement set installed is approx. 33 kg.
| Model | USPM-OBL10X | USPM-OBL20X | USPM-OBL40X |
| Magnification | 10x | 20x | 40x |
| Measurement NA*4 | 0.12 | 0.24 | 0.24 |
| Measurement range*5 | 70μm | 35μm | 17.5μm |
| Operating distance | 14.3mm | 4.2mm | 2.2mm |
| Operating distance | ±5 mm or more | ±1 mm or more | ±1 mm or more |
*4 It differs from objective lens' NA.
*5 Spot diameter
측정 목적과 사용자의 필요에 따라 레이아웃과 각 윈도우의 위치, 크기 및 가시성을 변경합니다.
분광 반사율 / 투과율 그래프와 텍스트, 색상 측정 (XY 및 L * a * b * 색도 다이어그램), 및 필름 두께 측정 값은 쉽게 이해하고 한 화면에 표시할 수 있습니다.
Z 축 정렬 및 X 및 Y 축 정렬을위해 센터링 (CT) 창과 초점 창을 사용하여 간단합니다.
USPM-RU-W 소프트웨어는 특정 시료에 대한 최적의 성능을 달성하도록 구성할 수 있습니다.
시스템이 자동으로 GOOD/ NO GOOD 상태를 결정할 수 있습니다.
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