까다로운 검사 분야를 위한 탁월한 이미징

선명도와 정밀도 개선

DP75 디지털 현미경 카메라는 저노이즈의 선명한 이미지를 제공합니다.

향상된 다축 색상 보정 기술은 생생한 재현을 위해 탁월한 색 충실도뿐만 아니라 인쇄물, LCD 컬러 필터 및 기타 응용 분야에 필요한 RGB 색 재현성을 제공합니다.

인쇄된 용지 이미지

저배율의 고해상도 이미지

카메라의 픽셀을 이동하면 최대 해상도 8192 × 6000의 낮은 배율에서도 고해상도 이미지를 캡처할 수 있으므로 검사 보고서에 시각적 세부 정보를 추가할 수 있습니다.

픽셀 이동 없음(왼쪽) 및 픽셀 이동 있음(오른쪽)

빠른 결함 검출

샘플의 외관은 재료의 품질, 표면 상태 또는 조명 방법에 따라 달라질 수 있습니다. 샘플을 정확하게 표시하기 위해 카메라의 실시간 하이 다이내믹 레인지(HDR)는 서로 다른 노출에서 촬영한 여러 이미지를 결합하여 샘플 표면의 밝기 차이를 교정합니다. 라이브 HDR은 질감뿐만 아니라 이전에는 감지할 수 없었던 결함도 보여주는 높은 충실도의 이미지를 제공합니다. 눈부심도 감소하여 보다 편안한 관찰이 가능합니다.

HDR을 통한 헐레이션 제거
(샘플: 인쇄 회로 기판(PCB))

HDR을 통한 질감 향상
(샘플: 인쇄 회로 기판(PCB))

동일한 현미경 카메라를 사용하여 형광에서 적외선 이미징으로 간편하게 변환

다양한 응용 분야에서 탁월한 성능을 발휘하도록 설계된 DP75 카메라는 고감도 냉각 CMOS 센서와 전환 가능한 적외선(IR) 차단 필터를 통해 다양한 이점을 제공합니다. 이점은 다음과 같습니다.

• 광범위한 파장 포괄: DP75는 가시광선부터 최대 1000nm까지의 파장을 지원하므로 뛰어난 품질의 명시야, 암시야, MIX(명시야 및 암시야), 편광, DIC, 형광, NIR* 관찰 이미지를 캡처할 수 있습니다.
• 노이즈가 최소화된 선명한 형광 이미지: 낮은 형광도에서도 고품질 이미지를 캡처하므로 레지스트 잔류물 검사와 같은 응용 분야에 유용합니다.

_{* NIR 관찰용 현미경 시스템이 필요합니다.}

반도체 웨이퍼의 포토레지스트 잔류물의 MIX(형광 + 암시야) 관찰 이미지

광물 일부의 편광 관찰 이미지

유연한 기판의 명시야 관찰 이미지.

유연한 기판의 NIR 관찰 이미지.