Микроскопы для применения
в сфере производства полупроводников
Электроиспытание
Проверка надлежащей работы полупроводниковой пластины с помощью электронного тестера, который называется зондовой измерительной установкой.
Измерение размеров отметок, оставляемых на поверхности образца измерительным зондом
В процессе электрических испытаний кристаллов ИС зонд измерительной установки царапает алюминиевую подложку кристаллов. Слишком большие царапины нарушают электропроводящие свойства алюминиевой подложки и отрицательно сказываются на качестве монтажа проволочных межсоединений. Поэтому очень важно измерять размеры этих царапин.
Наше решение
Наш цифровой микроскоп DSX1000 позволяет захватывать 3D изображения и выполнять 3D измерения, благодаря чему вы получаете точные данные о глубине и ширине царапин.
 Цифровой микроскоп серии DSX |  Зондовые измерительные установки |  Отметка, оставляемая измерительным зондом на алюминиевой подложке |
Указания по применению
Подробнее об областях применения:
 |
| ||
 |
| ||
 |
|