Solutions Microscopie
Système automatisé d’analyse de particules
Questions ?
As improper particle distribution or unplanned contamination can negatively impact performance, and lead to product failure, Olympus offers its Particle Analysis System. Users can quantitatively record and analyze microscopic objects by means of threshold-based evaluation.
- Fast, accurate and repeatable particle counting and classification
- Hands free operation requires no operator intervention
- Fully automated with integrated microscope, camera, stage and software
- Automated background correction
- Flexible detection for particles down to the micron level
- Complete archiving of all data
- Automated report generation
- International standards compliant
Loading...
- Produits
- Solutions avancées NDT
- Appareils de recherche de défauts
- Systèmes intégrés d'inspection
- Mesureurs d'épaisseur
- Solutions Microscopie
- Microscopes confocales à balayage laser
- Opto-digital Microscopes
- Semiconductor & Flat Panel Display Inspection Microscopes
- Microscopes métallurgiques droits
- Microscopes métallurgiques inversés
- Microscopes modulaires
- Microscopes polarisants
- Microscopes de mesure
- Stéréomicroscopes
- Microscopes numériques
- Microscopes électroniques à balayage
- Objectifs
- Appareils photo numériques
- Logiciel d’analyse d’image
- Métrologie optique
- Vidéoscopes, Boroscopes
- Vidéo à haute vitesse
- Analyseurs XRF et XRD
- Applications
- Connaissances
- Nouvelles
- Événements
- Assistance technique
- Pour nous joindre
Inspection & Measurement Systems
Solutions avancées NDT
- Solutions pour l’inspection des soudures
- Solutions d’inspection de la corrosion
- Solutions d’inspection des composites
- Solutions pour l’inspection des tubes
- Scanners industriels
- Solutions d’inspection pour le domaine aérospatial
Appareils US de recherche de défauts
- Appareils portatifs de recherche de défauts par ultrasons
- Appareils à ultrasons multiéléments
- Produits d’inspection par courants de Foucault
- Appareils de recherche de défauts à courants de Foucault portables
- Série 500
- 2000D
- OmniScan MX EC
- Scanners rotatifs pour l’inspection des trous de boulons
- Sondes à courants de Foucault
- Produits pour sondes à courants de Foucault
- MultiScan MS 5800 pour le contrôle des tubes
- Sondes pour l’inspection des tubes
- Produits à courants de Foucault multiéléments
- BondMaster
- Sondes
- Émetteurs-récepteurs
Systèmes intégrés d'inspection
Thickness Gages
Vidéoscopes, Boroscopes
- Vidéoscopes industriels
- Fibroscopes industriels
- Endoscopes rigides industriels
- Sources de lumière
- Outils de tournage
Caméras rapides
Solutions Microscopie
- Microscopes confocales à balayage laser
- Opto-digital Microscopes
- Semiconductor & Flat Panel Display Inspection Microscopes
- Microscopes métallurgiques droits
- Microscopes métallurgiques inversés
- Microscopes modulaires
- Microscopes polarisants
- Microscopes de mesure
- Stéréomicroscopes
- Microscopes numériques
- Microscopes électroniques à balayage
- Objectifs
- Appareils photo numériques
- Logiciel d’analyse d’image
Métrologie optique
Analyseurs XRF et XRD
- QA/QC des alliages
- Pétrochimie et production d’énergie
- Métaux précieux
- Recyclage des déchets, analyse des métaux, du verre et des plastiques
- Géochimie et exploitation minière
- Analyses du pétrole et des concentrés
- Environmental & IH
- Sécurité des biens de consommation
- Archaeometry, Academic & R&D
- Produits pharmaceutiques et nutraceutiques
- Gouvernement et sécurité
- Applications Solutions Key
