Обратная связь
Обратная связь
Продукты
▾
Решения НК
▾
Дефектоскопы
▾
Портативные ультразвуковые дефектоскопы
Оборудование с фазированными решётками
Вихретоковые дефектоскопы
Вихретоковые матрицы
Контроль качества композитных материалов
Портативные толщиномеры
▾
72DL PLUS
39DL PLUS
45MG
Magna-Mike 8600
27MG
35RDC
Преобразователи и аксессуары
Датчики и преобразователи
▾
Одноэлементные и раздельно-совмещенные преобразователи
Вихретоковые преобразователи
Преобразователи для контроля труб
Фазированные преобразователи (ФР-ПЭП)
BondMaster Probes
Автоматизированные системы контроля
▾
Система контроля колесных пар ж/д вагонов
Wheelset Inspection System (PASAWIS)
Системы контроля прутков
Системы контроля труб
Система контроля сварных соединений полученных сваркой трением с перемешиванием (СТП)
Pipeline Girth Weld Inspection
Оборудование НК
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
QuickScan iX ECA
QuickScan iX PA+
Промышленные сканеры НК
▾
Сканеры для контроля сварных соединений
Сканеры для коррозионного мониторинга
Сканеры для аэрокосмической промышленности
Комплектующие сканеров
Evident Connect
▾
X3 RCS
Inspection Project Manager (IPM)
Software
▾
Программное обеспечение WeldSight™
Программное обеспечение TomoView
Программное обеспечение NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Программное обеспечение OmniPC 4
РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры
▾
Портативные РФ-анализаторы
▾
Vanta
Vanta Element
Компактные переносные РФ-анализаторы
▾
Vanta GX
In-Line XRF Analysis
Решения OEM
▾
X-STREAM
Ключевые прикладные решения
Evident Connect
▾
Vanta Data Viewer
Промышленные микроскопы
▾
Лазерные конфокальные микроскопы
▾
OLS5100
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
表面粗さ測定ポータル
Цифровые микроскопы
▾
Цифровые микроскопы
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
Измерительные микроскопы
▾
STM7
STM7-BSW
Контроль чистоты
▾
CIX100
Оптические микроскопы
▾
Прямые микроскопы
Инвертированные микроскопы
Модульные микроскопы
Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Микроскопы с дополненной реальностью
▾
SZX-AR1
Стереомикроскопы
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Цифровые камеры
▾
DP75
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
ПО для анализа изображений
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Микроспектрофотометр
▾
USPM-RU-W
Линзы объектива
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
Компоненты микроскопов OEM
Промышленные микроскопы — Часто задаваемые вопросы
Специализированные решения
Customized Solutions
Видеоскопы, бороскопы
▾
Видеоскопы
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite and IPLEX G Lite-W
IPLEX TX II
IPLEX с длинной рабочей частью
Wind Turbine Inspection Video Borescopes
Aviation Borescopes for Aircraft Inspection
Video Borescopes for Automotive Engine Inspection
Промышленные фиброскопы
▾
Фиброскопы малого диаметра
Sweeney Digital Turning Tool
Программное обеспечение для генерации отчетов
▾
InHelp
3DAssist 3D Modeling Software
Источники света
Evident Connect
▾
ViSOL
Отрасли
Ресурсы
Обучение
Блог
Поддержка
▾
Контакты
Consultation Reception about Introduction
Служба поддержки клиентов
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Сервисные центры
Custom Financing Solutions
Olympus Scientific Cloud
Программное обеспечение
User Manuals
Сертификаты ISO
MSDS Datasheets
Compliance and Ethics at Evident
Информация о продукции
Product Service Termination List
Оборудование снятое с производства
▾
MultiScan MS5800 для контроля труб
▾
Программное обеспечение MultiView
Программное обеспечение TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
APAC Technology Center
▾
Overview
Automated Multi-Element XRF Analysis
▾
Overview
Microscope Inspection System
▾
Overview
Bolt Inspection Scanner
▾
Overview
Simplified Data Transfer and Management
▾
Overview
Rentals
Shop
Careers
What is EVIDENT?
Поиск
My Account
IMS Log in
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Промышленные решения
Карьера
Карьера
Tag Search
Главная
/
Обучение
/
Olympus IMS Webinars
/
Tag Search
Oops! Something went wrong with sys:dir-list tag. Contact the website administrator.
Ask the Expert Sign-up
Choose ...
Ultrasonic and Phased Array Equipment
Eddy Current Equipment and Probes
Microscope Solutions
Optical Metrology
OEM Microscope Components for Integration
Videoscopes & Borescopes
XRF Analyzers
XRD Analyzers
GoldXpert
Product Type
*
Choose ...
Afghanistan
Albania
Algeria
American Samoa
Andorra
Angola
Anguilla
Antarctica
Antigua and Barbuda
Argentina
Armenia
Aruba
Australia
Austria
Azerbaijan
Bahamas
Bahrain
Bangladesh
Barbados
Belarus
Belgium
Belize
Benin
Bermuda
Bhutan
Bolivia
Bosnia and Herzegovina
Botswana
Bouvet Island
Brazil
British Virgin Islands
Brunei Darussalam
Bulgaria
Burkina Faso
Burundi
Cambodia
Cameroon
Canada
Cape Verde
Cayman Islands
Central African Republic
Chad
Chile
China
Christmas Island
Cocos Islands
Colombia
Comoros
Congo
Congo, Democratic Republic of the
Cook Islands
Costa Rica
Cote d'Ivoire
Croatia
Cuba
Cyprus
Czech Republic
Denmark
Djibouti
Dominica
Dominican Republic
Ecuador
Egypt
El Salvador
Equatorial Guinea
Eritrea
Estonia
Ethiopia
Falkland Islands (Malvinas)
Faroe Islands
Fiji
Finland
France
French Guiana
French Polynesia
Gabon
Gambia
Georgia
Germany
Ghana
Gibraltar
Greece
Greenland
Grenada
Guadeloupe
Guam
Guatemala
Guernsey
Guinea
Guinea-Bissau
Guyana
Haiti
Heard and McDonald Islands
Holy See
Honduras
Hong Kong
Hungary
Iceland
India
Indonesia
Iran
Iraq
Ireland
Isle of Man
Israel
Italy
Jamaica
Japan
Jersey
Jordan
Kazakhstan
Kenya
Kiribati
Korea, Dem. People's Rep. of
Korea, Republic of
Kosovo
Kuwait
Kyrgyzstan
Lao People's Dem. Rep.
Latvia
Lebanon
Lesotho
Liberia
Libyan Arab Jamahiriya
Liechtenstein
Lithuania
Luxembourg
Macao
Macedonia
Madagascar
Malawi
Malaysia
Maldives
Mali
Malta
Marshall Islands
Martinique
Mauritania
Mauritius
Mayotte
Mexico
Micronesia, Federated States of
Moldova, Republic of
Monaco
Mongolia
Montenegro
Montserrat
Morocco
Mozambique
Myanmar
Namibia
Nauru
Nepal
Netherlands
Netherlands Antilles
New Caledonia
New Zealand
Nicaragua
Niger
Nigeria
Niue
Norfolk Island
Northern Mariana Islands
Norway
Oman
Pakistan
Palau
Palestine
Panama
Papua New Guinea
Paraguay
Peru
Philippines
Pitcairn
Poland
Portugal
Puerto Rico
Qatar
Reunion
Romania
Russian Federation
Rwanda
Saint Barthélemy
Saint Helena
Saint Kitts and Nevis
Saint Lucia
Saint Martin
Saint Pierre and Miquelon
Saint Vincent and the Grenadines
Samoa
San Marino
Sao Tome and Principe
Saudi Arabia
Senegal
Serbia
Seychelles
Sierra Leone
Singapore
Slovakia
Slovenia
Solomon Islands
Somalia
South Africa
Spain
Sri Lanka
Sudan
Suriname
Svalbard and Jan Mayen Islands
Swaziland
Sweden
Switzerland
Syrian Arab Republic
Taiwan
Tajikistan
Tanzania, United Republic of
Thailand
Timor-Leste
Togo
Tokelau
Tonga
Trinidad and Tobago
Tunisia
Turkey
Turkmenistan
Turks and Caicos Islands
Tuvalu
U.S. Virgin Islands
USA
Uganda
Ukraine
United Arab Emirates
United Kingdom
Uruguay
Uzbekistan
Vanuatu
Venezuela
Viet Nam
Wallis and Futuna Islands
Western Sahara
Yemen
Zambia
Zimbabwe
Местоположение:
*
Название компании
*
Имя
*
Фамилия
*
Job Title
е-мейл
*
Телефон
*
Alternate Phone Number
Город
*
Индекс
*
Model Name
*
Serial No.
*
Description of Request
*
Да, я желаю получать новости и обновления продукции.
Please, choose division
Подписаться на информационный бюллетень по неразрушающим методам контроля с новостями о специальных предложениях, выходе нового оборудования, опыте применения оборудования и т.д.
Life Science and Clinical Microscopes
Material Science Microscopes
Thickness Gauges and Flaw Detectors
Automated Inspection Systems
Transducers and Probes
XRF Analyzers
Videoscopes
Service
Настоящим подтверждаю, что я ознакомлен и согласен с условиями
политики конфиденциальности
*
If you already have your personal ID enter it here:
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Обратная связь
Подписаться на информационный бюллетень
Главная
/
Обучение
/
Olympus IMS Webinars
/
Tag Search
Печать
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.