Kontaktujte nás
Kontaktujte nás
Produkty
▾
Defektoskopy
▾
Defektoskopy
▾
Přenosné ultrazvukové defektoskopy
Přístroje Phased Array
Produkty pro zkoušky vířivými proudy
Produkty s technologií využívající soustavu snímačů vířivých proudů
BondTesting
Ruční měření tloušťky materiálu
▾
72DL PLUS
39DL PLUS
45MG
Magna-Mike 8600
27MG
35RDC
Převodníky a příslušenství
Sondy a převodníky
▾
Ultrazvukové převodníky Panametrics
Sondy vířivých proudů
Sondy pro kontrolu trubek
R/D Tech sondy pro apl. fázového pole
Sondy BondMaster
Integrované inspekční systémy
▾
Systém kontroly kol
Wheelset Inspection System (PASAWIS)
Řešení kontroly tyčí
Systémy kontroly trubek
Systém kontroly svaru na principu třecího svařování s promíšením
Kontrola potrubních obvodových svarů
NDT Systems Instrumentation
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
QuickScan iX ECA
QuickScan iX PA+
Průmyslové skenery
▾
Kontrolní skenery svarů
Skenery pro kontrolu koroze
Skenery pro kontrolu v letectví
Příslušenství ke skenerům
Evident Connect
▾
X3 RCS
Inspection Project Manager (IPM)
Software
▾
Software WeldSight™
Software TomoView
Software NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
OmniPC 4 Software
Průmyslové spektrometry
▾
Ruční XRF analyzátory
▾
Vanta Max a Vanta Core
Vanta Element
Kompaktní a přenosné XRF analyzátory
▾
Vanta™ GX
Inline XRF analyzátory
OEM řešení
▾
X-STREAM
Aplikace a řešení – přehled
Evident Connect
▾
Vanta Data Viewer
Mikroskopy
▾
Konfokální laserové mikroskopy
▾
OLS5100
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
表面粗さ測定ポータル
Digitální mikroskopy
▾
Digitální mikroskopy
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
Měřicí mikroskopy
▾
STM7
STM7-BSW
Inspektor čistoty
▾
CIX100
Světelné mikroskopy
▾
Vzpřímené mikroskopy
Inverzní mikroskopy
Modulární mikroskopy
Polovodičové mikroskopy a inspekční mikroskopy s plochým panelovým displejem
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
AR mikroskopy
▾
SZX-AR1
Stereo mikroskopy
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Digitální fotoaparáty
▾
DP75
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
Software obrazové analýzy
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Micro Spectrophotometer
▾
USPM-RU-W
Objektivové čočky mikroskopů pro průmysl
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
OEM komponenty mikroskopů pro integraci
Mikroskopy – často kladné otázky
Řešení na míru
Řešení na míru
Průmyslové endoskopy
▾
Průmyslové videoskopy
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite a IPLEX G Lite-W
IPLEX TX II
Videoskopy IPLEX s dlouhými sondami
Video boroskopy pro kontrolu větrných turbín
Letecké boroskopy pro kontrolu letadel
Video Borescopes for Automotive Engine Inspection
Fibroskopy
▾
Fibroskopy - malé průměry
Digitální nástroj pro otáčení turbíny Sweeney
Software pro video boroskop
▾
InHelp
Software pro 3D modelování 3DAssist
Zdroje světla
Evident Connect
▾
ViSOL
Průmyslové odvětví
Zdroje informací
Školení
Blog
Podpora
▾
Kontaktujte nás
Consultation Reception about Introduction
Zákaznický servis
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Servisní centra
Finanční řešení na míru
Olympus Scientific Cloud
Stažení softwaru
User Manuals
Certifikace ISO
MSDS datové listy
Compliance and Ethics at Evident
Důležitá upozornění
Product Service Termination List
Starší produkty
▾
MultiScan MS5800 pro kontrolu potrubí
▾
Software MultiView
Softwarová aplikace TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
APAC Technology Center
▾
Overview
Automated Multi-Element XRF Analysis
▾
Overview
Microscope Inspection System
▾
Overview
Bolt Inspection Scanner
▾
Overview
Simplified Data Transfer and Management
▾
Overview
Rentals
Shop
Careers
What is EVIDENT?
Hledat
My Account
IMS Log in
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Průmyslová řešení
Careers
Careers
Tag Search
Hlavní stránka
/
Školení
/
Olympus IMS Webinars
/
Tag Search
Oops! Something went wrong with sys:dir-list tag. Contact the website administrator.
Ask the Expert Sign-up
Choose ...
Ultrasonic and Phased Array Equipment
Eddy Current Equipment and Probes
Microscope Solutions
Optical Metrology
OEM Microscope Components for Integration
Videoscopes & Borescopes
XRF Analyzers
XRD Analyzers
GoldXpert
Product Type
*
Choose ...
Afghanistan
Albania
Algeria
American Samoa
Andorra
Angola
Anguilla
Antarctica
Antigua and Barbuda
Argentina
Armenia
Aruba
Australia
Austria
Azerbaijan
Bahamas
Bahrain
Bangladesh
Barbados
Belarus
Belgium
Belize
Benin
Bermuda
Bhutan
Bolivia
Bosnia and Herzegovina
Botswana
Bouvet Island
Brazil
British Virgin Islands
Brunei Darussalam
Bulgaria
Burkina Faso
Burundi
Cambodia
Cameroon
Canada
Cape Verde
Cayman Islands
Central African Republic
Chad
Chile
China
Christmas Island
Cocos Islands
Colombia
Comoros
Congo
Congo, Democratic Republic of the
Cook Islands
Costa Rica
Cote d'Ivoire
Croatia
Cuba
Cyprus
Czech Republic
Denmark
Djibouti
Dominica
Dominican Republic
Ecuador
Egypt
El Salvador
Equatorial Guinea
Eritrea
Estonia
Ethiopia
Falkland Islands (Malvinas)
Faroe Islands
Fiji
Finland
France
French Guiana
French Polynesia
Gabon
Gambia
Georgia
Germany
Ghana
Gibraltar
Greece
Greenland
Grenada
Guadeloupe
Guam
Guatemala
Guernsey
Guinea
Guinea-Bissau
Guyana
Haiti
Heard and McDonald Islands
Holy See
Honduras
Hong Kong
Hungary
Iceland
India
Indonesia
Iran
Iraq
Ireland
Isle of Man
Israel
Italy
Jamaica
Japan
Jersey
Jordan
Kazakhstan
Kenya
Kiribati
Korea, Dem. People's Rep. of
Korea, Republic of
Kosovo
Kuwait
Kyrgyzstan
Lao People's Dem. Rep.
Latvia
Lebanon
Lesotho
Liberia
Libyan Arab Jamahiriya
Liechtenstein
Lithuania
Luxembourg
Macao
Macedonia
Madagascar
Malawi
Malaysia
Maldives
Mali
Malta
Marshall Islands
Martinique
Mauritania
Mauritius
Mayotte
Mexico
Micronesia, Federated States of
Moldova, Republic of
Monaco
Mongolia
Montenegro
Montserrat
Morocco
Mozambique
Myanmar
Namibia
Nauru
Nepal
Netherlands
Netherlands Antilles
New Caledonia
New Zealand
Nicaragua
Niger
Nigeria
Niue
Norfolk Island
Northern Mariana Islands
Norway
Oman
Pakistan
Palau
Palestine
Panama
Papua New Guinea
Paraguay
Peru
Philippines
Pitcairn
Poland
Portugal
Puerto Rico
Qatar
Reunion
Romania
Russian Federation
Rwanda
Saint Barthélemy
Saint Helena
Saint Kitts and Nevis
Saint Lucia
Saint Martin
Saint Pierre and Miquelon
Saint Vincent and the Grenadines
Samoa
San Marino
Sao Tome and Principe
Saudi Arabia
Senegal
Serbia
Seychelles
Sierra Leone
Singapore
Slovakia
Slovenia
Solomon Islands
Somalia
South Africa
Spain
Sri Lanka
Sudan
Suriname
Svalbard and Jan Mayen Islands
Swaziland
Sweden
Switzerland
Syrian Arab Republic
Taiwan
Tajikistan
Tanzania, United Republic of
Thailand
Timor-Leste
Togo
Tokelau
Tonga
Trinidad and Tobago
Tunisia
Turkey
Turkmenistan
Turks and Caicos Islands
Tuvalu
U.S. Virgin Islands
USA
Uganda
Ukraine
United Arab Emirates
United Kingdom
Uruguay
Uzbekistan
Vanuatu
Venezuela
Viet Nam
Wallis and Futuna Islands
Western Sahara
Yemen
Zambia
Zimbabwe
Země:
*
Název firmy
*
Jméno
*
Příjmení
*
Job Title
E-mail
*
Telefon
*
Alternate Phone Number
Město
*
PSČ
*
Model Name
*
Serial No.
*
Description of Request
*
Ano. Zasílejte mi aktualizace produktů a novinky.
Please, choose division
Přihlašte se k odběru zpravodaje NDT, elektronického buletinu, který Vás bude informovat o speciálních nabídkách, nových produktech nebo aplikacích.
Life Science and Clinical Microscopes
Material Science Microscopes
Thickness Gauges and Flaw Detectors
Automated Inspection Systems
Transducers and Probes
XRF Analyzers
Videoscopes
Service
I agree to
the Terms of Use
and acknowledge that I have read
the Privacy Policy
*
If you already have your personal ID enter it here:
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Kontaktujte nás
Zaregistrovat se pro odběr Newsletterů
Hlavní stránka
/
Školení
/
Olympus IMS Webinars
/
Tag Search
Tisk
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Pozor: Povolte JavaScript
Sorry, this page is not available in your country