Описание
Базовый функционал. Прост в использовании.Базовая модель DSX1000 |  |
|---|
Предварительный контроль и анализ на микронном уровне с помощью одной системы
|  |
|---|
 | Широкий выбор объективов под любые задачи
|
|---|
Будьте уверены в результатах измерений!
|  |
|---|
Назад к цифровым микроскопам
Модели
Цифровые микроскопы DSX1000Микроскопы серии DSX1000 для разных задач (от базовой до усложненной модели)
|
См. таблицу технических характеристик
Объективы DSX1000Наша линейка из 17 объективов, в том числе со сверхдлинным рабочим расстоянием и высокой числовой апертурой, обеспечивает непревзойденную гибкость и качество изображений.
|
Назад к цифровым микроскопам
Технические характеристики
Технические характеристики цифрового микроскопа DSX1000 |
| DSX10-SZH | DSX10-UZH | |||
| Оптическая система | Оптическая система | Телецентрическая оптическая система | ||
| Коэффициент масштабирования | 10X (моторизованный) | |||
| Метод кратковременного увеличения | Моторизованный | |||
| Калибровка | Автоматически | |||
| Крепление объективов | Быстросменные объективы, автоматическое обновление информации (увеличение и поле зрения). | |||
|
Максимальное общее увеличение
(на 27-дюймовом мониторе) | 8220X | |||
| Рабочее расстояние (раб.рст) | 66,1 мм – 0,35 мм | |||
| Точность и воспроизводимость (плоскость X-Y) | Точность*1 | ± 3% | ||
| Воспроизводимость 3σn-1 | 2% | |||
| Воспроизводимость (ось Z)*2 | Воспроизводимость σn-1 | 1 мкм | ||
| Камера | Светочувствительная матрица | Цветная КМОП-матрица 1/1,2 дюйма, 2,35 мегапикселей | ||
| Охлаждение | Охлаждение элементом Пельтье | |||
| Частота кадров | 60 кадров/с (максимум) | |||
| Стандарт | 1200 × 1200 (1: 1) / 1600 × 1200 (4: 3) | |||
| Режим 3-КМОП | Не доступно | 1200 × 1200 (1: 1) / 1600 × 1200 (4: 3) | ||
| Режим 3-КМОП × смещение пикселей | Не доступно | 3600 × 3600 (1: 1) / 4800 × 3600 (4: 3) | ||
| Метод освещения | Источник цветного света | Светодиод | ||
| Срок службы | 60 000 ч (расчет. данные) | |||
| Метод наблюдения | BF (светлое поле) | Стандарт | ||
| OBQ (косое) | Стандарт | |||
| DF (темное поле) |
Стандарт
Кольцевой светодиодный осветитель, разделенный на 4 сегмента | |||
| MIX (светлое поле+темное поле) |
Стандарт
Одновременное использование методов BF + DF | |||
| PO (поляризация) | Стандарт | |||
| ДИК (дифференциально-интерференционный контраст) | Не доступно | Стандарт | ||
| Увеличение контраста | Стандарт | |||
| Увеличение глубины резкости | Не доступно | Стандарт | ||
| Освещение в проходящем свете | Стандарт*3 | |||
| Фокус | Фокусировка | Моторизованный | ||
| Ход | 101 мм (моторизованный) | |||
*1 Необходима калибровка техническим специалистом компании Olympus или дилера. Для гарантии точности измерений по осям XY, требуется калибровка с DSX-CALS-HR (калибровочный образец). Для выдачи сертификата, калибровка должна быть выполнена специалистом Olympus.
*2 При использовании объектива с увеличением 20X и выше.
*3 Требуется DSX10-ILT.
| Объектив | DSX10-SXLOB | DSX10-XLOB | UIS2 | |
| Линза объектива | Макс. высота образца | 50 мм | 115 мм | 145 мм |
|
Макс. высота образца
(свободный угол обзора) | 50 мм | |||
| Парфокальное расстояние | 140 мм | 75 мм | 45 мм | |
| Крепление объективов | Интегрировано в объектив | Доступно | ||
|
Общий коэффициент увеличения
(на 27-дюймовом мониторе) | 23–1644X | 49–6570X | 26*4 – 8220X | |
| Фактическое поле зрения (мкм) | 19 200 мкм – 270 мкм | 9 100 мкм – 70 мкм | 17 100 мкм – 50 мкм | |
| Адаптер | Диффузор (приобретается отдельно) | Доступно | Не доступно | |
| Адаптер, устраняющий отражение (приобретается отдельно) | Доступно | Не доступно | ||
| Крепление объективов | Кол-во прикрепляемых объективов |
Не более 1
(крепление интегрировано в объектив) | Не более 2 | |
| Кейс для объективов | Для хранения до 3-х объективов | |||
*4 Общее (макс.) увеличение при использовании MPLFLN1.25X
| Предметный столик | DSX10-RMTS | DSX10-MTS | U-SIC4R2 |
| Двухосевой предметный столик XY: моторизованный/ручной | Моторизованный (с функцией вращения) | Моторизованный | Ручной |
| Ход по XY |
Режим приоритета хода: 100 мм × 100 мм
Режим приоритета вращения 50 мм × 50 мм | 100 мм × 100 мм | 100 мм × 105 мм |
| Угол вращения |
Режим приоритета хода: ±20°
Режим приоритета вращения: ±90° | Не доступно | |
| Угол поворота дисплея | Графический интерфейс пользователя | Не доступно | |
| Допустимая нагрузка | 5 кг | 1 кг | |
| Корпус | DSX-UF | DSX-TF |
| Длина хода по оси Z | 50 мм (ручн.) | |
| Наблюдение под углом | Не доступно | ±90° |
| Угол наклона дисплея | Не доступно | Графический интерфейс пользователя |
| Метод наклона | Не доступно | Вручную, рукоятка блокировки/разблокировки |
| Измерение | Измерение в плоскости |
| Измерение профиля | |
| Шаговое измерение | |
| Шаг измерения высоты | |
| Измерение площади/объема | |
| Анализ шероховатости линии | |
| Анализ шероховатости поверхности | |
| Автоматическое измерение границ | |
| Анализ частиц | |
| Измерение перепадов | |
| Анализ угла наклона поверхности сферы/цилиндра | |
| Мультианализ данных* |
*Требуется экспериментальное программное приложение полной поддержки измерений (приобретается отдельно)
| Дисплей | 27-дюймовый плоскопанельный |
| Разрешение | 1920 (Ш) × 1080 (В) |
| Вся система | Система с прямым тубусом | Система с наклонным тубусом |
| Вес (рама, оптическая головка, моторизованный предметный столик, монитор и панель управления) | 43,7 кг | 46,7 кг |
| Потребляемая мощность | 100–120 В / 220–240 В, 1,1/0,54 A, 50/60 Гц | |
Назад к цифровым микроскопам
Применение
Области применения DSX1000 |
 | Контроль состояния поверхности тормозных колодок с помощью цифрового микроскопаПоверхность тормозной колодки влияет на ее рабочие характеристики, включая тормозную силу, термостойкость, шум и тепловыделение. Цифровые микроскопы позволяют проверить материал фрикционных накладок, правильно ли выдержаны пропорции компонентов фрикционных смесей. |
|
|---|
 | Контроль проволочных выводов с помощью цифрового микроскопаЦифровые микроскопы являются эффективным инструментом для анализа таких дефектов, как обрывы и смещения проволок на шаге свивки каната, отслаивание и миграция, которые могут возникнуть в процессе металлизации. |
|
|---|
Автомобилестроение |
Электронные компоненты |
Производство металлов/Литье |
Силикатная промышленность (производство стекла и керамики) |
Другие области |
Назад к цифровым микроскопам
Ресурсы
Инструкция по применениюВидеоБрошюрыРуководстваАнализ конкретных ситуацийСправочникиБлог |
