Evident LogoOlympus Logo
Ресурсы
Application Notes
Назад к ресурсам

Шероховатость поверхности направляющих струнного замка на полиэтиленовом пакете


Измерение формы на микронном уровне с помощью лазерного микроскопа

Полиэтиленовый пакет со струнным замком
Полиэтиленовый пакет со струнным замком

Область применения

Все мы часто используем полиэтиленовые пакеты в повседневной жизни. Пакеты со струнным замком очень удобны и экономичны, поскольку легко открываются и закрываются и могут использоваться многократно. Такие пакеты изготавливаются из разных материалов, в зависимости от того, для хранения каких продуктов предназначен пакет. Чаще всего для изготовления используются полиэтилен и полипропилен. Одна из важнейших функций струнного замка — обеспечить достаточную герметичность, чтобы содержимое пакета не вытекло или не подвергалось воздействию воздуха. Контроль состояния верхней поверхности направляющей струнного замка (поверхность, которая контактирует со второй направляющей при закрывании пакета) важен для гарантии достижения требуемой герметичности.

Решение Olympus

3D лазерный сканирующий микроскоп Olympus LEXT предназначен для выполнения измерений 3D форм с высокими разрешением и точностью. Эти функции позволяют пользователям проводить точные измерения профиля шероховатости поверхности, а также глубины (или высоты) неровностей на поверхности. Микроскоп LEXT использует те же параметры шероховатости (двухмерной), что и микроскопы контактного типа, позволяя получать эквивалентные результаты измерений. Помимо этого в микроскопе LEXT также заданы параметры для измерения трехмерной шероховатости, отвечающие стандарту ISO25178, что дает вам возможность получать больше информации при анализе поверхности, чем при измерении линейной шероховатости, используя 3D изображения вместе с числовыми данными. Выполнять измерения с помощью традиционных контактных микроскопов достаточно проблематично, поскольку будет сложно разместить измерительный датчик на поверхности тонкой направляющей, а микроскоп LEXT позволяет выполнять бесконтактные измерения с низкими и высокими коэффициентами увеличения без потери фокусировки на малой измеряемой площади.

Изображения направляющей струнного замка пластикового пакета с разными коэффициентами увеличения

Plastic bag with zipper_ob20×z1
Объектив 20Х
Увеличение 1Х

Plastic bag with zipper_ob50×z1
Объектив 50Х
Увеличение 1Х

Plastic bag with zipper_ob100×z3
Объектив 100Х
Увеличение 1Х

Plastic bag with zipper_ob100×z3
Объектив 100Х
Увеличение 3Х

3D + профиль

Plastic bag with zipper_ob100×z3_3Dprofile

Plastic bag with zipper_ob100×z3_profile

До коррекции искривленной поверхности

Plastic bag with zipper_ob100×z3_3Dprofile_change_scale

Plastic bag with zipper_ob100×z3_profile_change_scale

После коррекции искривленной поверхности

Olympus IMS

Продукты, используемые для этой цели

The LEXT™ OLS5100 laser scanning microscope combines exceptional accuracy and optical performance with smart tools that make the system easy to use. The tasks of precisely measuring shape and surface roughness at the submicron level are fast and efficient, simplifying your workflow and delivering high-quality data you can trust.

К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.