30-70-70 균열 검출 기법은 ID와 연결된 균열을 검출하고 크기를 측정하기 위해 CDS 웨지와 함께 단일 요소 검출기를 사용합니다. 이 기법은 다양한 깊이의 결함 크기를 측정하는 데 3개의 파동 조합을 사용합니다.

• OD 크리핑파는 31.5도의 간접 전단(왼쪽 다이어그램에서 빨간색)을 생성하며, 이 파장의 모드는 ID 크리핑파로 변환되므로 모든 ID 연결 균열에서 반사 신호를 생성합니다.
• 30도 전단파(왼쪽 다이어그램에서 노란색)는 임계 각도에서 재료 ID를 반사하고 모드가 70도 종파로 변환됩니다. 미드월 딥(mid-wall deep) 균열에서 변환기가 신호를 수신합니다.
• 70도의 종파(왼쪽 다이어그램의 파란색)는 딥월(deep wal) 균열의 끝부분에서 반사됩니다.

이 3개 파장의 유무에 따라 ID 연결 균열의 검출 및 크기 측정이 모두 가능합니다.