Introduction to Phased Array Equipment

위상 배열 초음파 검사는 비파괴 검사의 한 형태로, 서로 다른 구간에서 그리고 동시에 여러 방향으로 펄스를 발생할 수 있는 다중 소자 탐촉자를 사용하는 것이 특징입니다.

위상 배열 장비

다른 범주의 초음파 검사 장비와 마찬가지로, 위상 배열 시스템은 복잡성이 증가하고 기능이 향상된 다양한 모델에서 사용할 수 있습니다.16개 소자 프로브가 있어 간단한 섹터 및 선형 스캔을 수행하는 기본 모델부터 최대 256개 소자 프로브가 있어 다중 채널 기능 및 고급 해석 소프트웨어를 제공하는 고급 시스템까지 다양한 기기가 있습니다.위상 배열 장비의 제품군에 대한 자세한 정보는 에서 확인하세요.

위상 배열 탐촉자란?

배열 탐촉자는 단일 하우징에 여러 개의 개별 소자가 포함되며 위상은 이러한 소자가 순차적으로 펄스되는 방식을 나타냅니다.위상 배열 시스템은 일반적으로 프로그래밍된 패턴으로 각각 펄스 가능한 많은 개별 소자(보통 16~256개)를 포함하는 특수 초음파 탐촉자를 기반으로 합니다.이 탐촉자는 접촉 모드 또는 침수 검사에서 다양한 유형의 웨지와 함께 사용할 수 있습니다.탐촉자 모양은 정사각형, 직사각형 또는 원형일 수 있으며 검사 주파수 범위는 일반적으로 1~10MHz입니다.이 튜토리얼의 다음 섹션에서는 위상 배열 프로브에 대한 자세한 정보를 제공합니다.

위상 배열이 하는 작업은 무엇입니까?

위상 배열 시스템은 배열의 여러 소자에서 펄스를 발생하고 수신합니다.이러한 소자는 펄스되어 여러 빔 구성 요소가 서로 결합되도록 하고 원하는 방향으로 이동하는 단일 파면을 형성합니다.마찬가지로, 수신기 기능은 여러 소자의 입력값을 단일 표현으로 결합합니다.위상 기술을 통해 전자 빔을 형성하고 조정할 수 있기 때문에 단일 프로브 어셈블리에서 매우 다양한 초음파 빔 분포를 생성할 수 있고 이러한 빔의 조정은 동적으로 프로그래밍되어 전자적인 스캔 영상을 만들 수 있습니다.

이를 통해 다음 기능을 사용할 수 있습니다.

• 빔 각도, 초점 거리 및 빔 스폿 크기를 소프트웨어로 제어.이러한 매개변수는 각 부품 형상에 대한 입사각 및 신호 대 잡음을 최적화하기 위해 각 검사 지점에서 동적으로 스캔할 수 있습니다.
• 다각도 검사는 단일 고정 각도 또는 다양한 각도 스캔을 제공하는 단일, 소형, 다중 소자 프로브 및 웨지를 사용하여 수행할 수 있습니다.
• 이러한 기능은 복잡한 형상 및 부품의 형상이 접근을 제한하는 경우의 검사에 더 큰 유연성을 제공합니다.
• 여러 소자에 걸친 다중화를 통해 단일 탐촉자 위치에서 움직임 없는 고속 스캔이 가능합니다.다양한 검사 각도로 단일 위치에서 하나 이상의 스캔을 수행할 수 있습니다.