파면 수차

수차는 오래 전부터 광선을 이용하는 '기하학적 광학'의 개념을 사용했습니다. 파장 단위의 미세 표본 관찰에 자주 사용되는 현미경 광학 시스템은 분산 효과를 포함한 빛에 대하여 '파'인 파 위상을 이용하는 파-광학 분석을 사용하기도 합니다. 이 경우 '파면 수차'가 평가 방식으로 사용됩니다. 아래 그림과 같이 현미경 광학 시스템에서 이상적인 결상 조건이 충족되면, 표본이 위치한 지점에서 구형 파면(구면파)이 조사되어 이상적인 대물 렌즈에 의해 평면파로 변환됩니다. 평면파는 이상적인 튜브 렌즈를 통해 구면파로 변환되어 이미지 필드에 집중됩니다. 이러한 파면은 '이상적인 파면'이라고 부릅니다.

광학 시스템 상에서 파면의 거동은 일반적으로 섹션 (1) 구면 수차의 그림과 같은 수차를 가지고 있습니다.

이상적인 파면과 실제 파면 사이의 편차(불일치 수준)은 '파면 수차'로 불립니다.

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