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Vanta™ 바코드 스캐너를 사용하여 몇 가지 간단한 절차로 배치(batch)를 추적하십시오

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Vanta 바코드 스캐너 사용

Vanta™ XRF 분석기가 성분재료 또는 등급 식별(예: 금속 가공 또는 제조)에 사용되는 경우 바코드를 사용하여 배치, 로트 또는 시리얼 번호를 추적할 수 있습니다. 이러한 추적 기능을 보다 쉽고 편리하게 사용할 수 있도록 Vanta 분석기는 바코드를 판독하고 이 데이터를 직접 기록할 수 있습니다.

사용지침서자습서 보기

Vanta™ XRF 분석기의 바코드 스캔 기능을 사용하는 방법

Vanta 분석기의 파노라마 카메라로 바코드를 스캔하여 테스트 노트 필드에 해당 정보를 기록할 수 있습니다. 이 기능은 파노라마 카메라가 장착된 모든 Vanta 분석기에서 사용할 수 있습니다.

바코드 스캔 기능을 사용하려면 먼저 PC에 "바코드(barcode)" 노트 필드 유형이 적용된 노트 템플릿을 만들고 이것을 Vanta 분석기에 배포해야 합니다. 사용자 지정된 노트 템플릿은 Vanta PC 소프트웨어의 장비 관리자 부분에서 만들 수 있습니다. 자세한 내용은 장비 관리자 사용 및 노트 템플릿 만들기에 대한 지침 비디오를 확인하십시오.

다음은 바코드 스캔 기능과 특히 관련된 구성 단계입니다.

  1. Vanta PC 소프트웨어의 장비 관리자에서 노트 템플릿을 편집할 때에는 '노트 필드 추가(add note field)' 버튼을 클릭하여 바코드 스캐너를에서 사용 가능한 필드를 추가합니다.

    이름 노트

  2. 필드 이름(예: "CodeScan")을 입력하고 "바코드(barcode)" 옵션을 선택하고 나서 '확인(OK)'을 눌러 노트 템플릿에 필드를 추가합니다.

    이름 노트

  3. 이제 장비 프로필을 종료하고 분석기에 노트 템플릿을 배포하여 바로 사용할 수 있습니다.

    이름 노트

  4. Vanta XRF 분석기에서 방금 만든 템플릿을 선택합니다. 메인 테스트 화면에서 더하기 아이콘을 눌러 노트(Notes) 창을 확장할 수 있습니다. 바코드 스캔 필드는 지정한 이름으로 새 템플릿에 나타납니다(아래 예에서 "CodeScan" 필드 참조).

    이름 노트

  5. 바코드 필드를 한 번 누르면 매크로 카메라 이미지가 나타나고 이미지에 빨간색 사각형으로 표시되는 스캔 마커도 나타납니다. 필드를 선택할 때에는 한 번만 눌러야 합니다.

    이름 노트

  6. 바코드를 스캔하려면 빨간색 스캔 마커 상자에 간단히 코드를 정렬하면 됩니다. 카메라가 이미지를 자동 포커싱하는 동안 화면의 빨간색 상자 내에 바코드를 올바르게 정렬할 수 있도록 바코드에서 분석기 노우즈까지의 거리를 조정해야 합니다.

    이름 노트

  7. 장비가 바코드를 판독하고 나면 코드의 데이터가 신호음과 함께 필드에 채워집니다. 그러고 나면 평상시처럼 테스트를 재개할 수 있습니다.

    이름 노트

이 절차는 노트 입력 옵션을 사용하여 수행했지만, 강제 노트 입력에서와 동일한 방식으로도 작동합니다. 간단히 바코드 노트 필드를 눌러 카메라 이미지와 스캔 마커를 표시하면 됩니다.

바코드 판독 데이터 편집 및 재다시 스캔

바코드 필드도 수동으로 편집할 수 있으며, 고정 테스트 필드와 마찬가지로 텍스트를 입력할 수 있습니다. 간단히 스캔 이미지를 닫기 위해 "x" 아이콘을 눌러 화면상의 키보드를 표시하여 텍스트를 수동으로 입력합니다. 한 번 누르는 것이 아닌 필드를 두 번 눌러도 키보드를 표시할 수 있습니다.

필드에 코드를 재다시 스캔하려면 템플릿에서 다른 노트 필드를 선택하여 간단히 바코드 필드를 종료하고 나서 바코드 필드를 한 번 눌러 다시 선택하여 스캔 이미지를 표시합니다. 재다시 스캔 기능은 이전 바코드 판독 데이터를 덮어씁니다.

보너스(2-for-1) 성분재료 ID와 추적 기능이 합쳐진성 도구를 통한해 품질 관리 게임 향상

이제 모든 것이 준비되었습니다! 지금 바로 Vanta 분석기의 바코드 스캐너를 사용하여 빠르게 노트를 입력할 수 있습니다. 향후 업데이트에도 계속 귀기울여 주십시오. 생산성과 제품 추적 기능을 향상시킬 수 있도록 이 온보드 바코드 스캐너 기능과 Olympus Scientific Cloud™ 서비스가 새롭고 흥미로운 방식으로 결합될 예정입니다.

자세한 내용을 확인하려면 이 짧은 비디오를 보고 바코드를 조직의 프로세스에 통합하여 XRF 테스트를 간소화하는 것이 얼마나 유용한지 알아보십시오.

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학술 지원, 분석 장비

Dillon McDowell은 합금, 귀금속 및 규제(RoHS 및 소비자 제품 안전) 응용 분야에서 X선 형광(XRF) 및 기타 분석 기술을 전문으로 하는 Olympus의 학술 고문입니다. Dillon은 Olympus에 합류하기 전에 노스이스턴 대학의 나노자성 연구 그룹의 연구 조교였습니다. Dillon은 노스이스턴 대학에서 물리학 학사와 기계 공학 석사를 취득했으며, 그의 논문은 Material Chemistry C 저널에 게재됐습니다.

8월 31, 2020
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