Olympus Logo

Kontaktujte nás Kontaktujte nás

  • Produkty▾
    • Defektoskopy▾
      • Defektoskopy▾
        • Přenosné ultrazvukové defektoskopy
        • Přístroje Phased Array
        • Produkty pro zkoušky vířivými proudy
        • Produkty pro metodu vířivých proudů
        • BondTesting
      • Ruční měření tloušťky materiálu▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Převodníky a příslušenství
      • Sondy a převodníky▾
        • Ultrazvukové převodníky Panametrics
        • Sondy vířivých proudů
        • Sondy pro kontrolu trubek
        • R/D Tech sondy pro apl. fázového pole
        • Sondy BondMaster
      • Integrované inspekční systémy▾
        • Sondy vířivých proudů
        • Systém pro kontrolu plných tyčí
        • Systémy kontroly trubek
        • Friction Stir Weld Inspection System
      • NDT Systems Instrumentation ▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Průmyslové skenery▾
        • Kontrolní skenery svarů
        • Skenery pro kontrolu svaru
        • Letecké kontrolní skenery / kontrolní skenery lopatek větrných turbín
        • Příslušenství ke skenerům
      • The Olympus Scientific Cloud
    • Průmyslové spektrometry▾
      • Ruční XRF analyzátory▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Kompaktní a přenosné XRF analyzátory▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Xpert for Consumer/RoHS
      • Procesní XRF analyzátory▾
        • FOX-IQ
      • XRD analyzátory▾
        • TERRA II Portable XRD Analyzer
        • BTX III Benchtop XRD Analyzer
      • OEM řešení▾
        • X-STREAM
      • Aplikace a řešení – přehled
      • The Olympus Scientific Cloud
    • Mikroskopy▾
      • Scanning Probe Microscopy▾
        • OLS4500
      • Laserové konfokální mikroskopy▾
        • OLS5100
      • Digitální mikroskopy
      • Měřicí mikroskopy▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Vyhodnocování technické čistoty▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Optické mikroskopy▾
        • Vzpřímené mikroskopy
        • Inverzní mikroskopy
        • Modular Microscopes
      • Polovodičové mikroskopy a inspekční mikroskopy s plochým panelovým displejem▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Stereo mikroskopy▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Digitální kamery▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • Software obrazové analýzy▾
        • OLYMPUS Stream
      • Micro Spectrophotometer▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Objektivy▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • White Light Interferometry Objective
        • Micrometer
      • OEM komponenty mikroskopů pro integraci▾
        • Řešení integrace zařízení
        • Objective Lenses
        • Stativy optických mikroksopů
        • Super širokoúhlý tubus
        • Optical Microscope Modules
        • Sestavy modulárního mikroksopu
      • Mikroskopy – často kladné otázky
    • Průmyslové endoskopy▾
      • Průmyslové videoskopy▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GAir
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • Videoskopy IPLEX s dlouhými sondami
      • Průmyslové fibroskopy▾
        • Fibroskopy - malé průměry
      • Průmyslové boroskopy▾
        • Boroskopy - standartní řada
        • Boroskopy s natáčecím prismatem
        • Boroskopy s natáčecím prismatem a se zoomem.
        • Miniboroskopy - typ MK
        • Boroskopy pro letecké motory
      • Zdroje světla
      • Software pro vyhodnocování technické čistoty▾
        • InHelp
  • Průmyslové odvětví
  • Blog
  • Zdroje informací
  • Podpora▾
    • Kontaktujte nás
    • Olympus Scientific Cloud
    • Školicí akademie
    • Customer Service
    • Servisní střediska
    • Stahování software
    • Důležitá upozornění
    • Starší produkty
    • Product Service Termination List
    • ISO Certifikace
    • MSDS datové listy
    • Podmínky dodání
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Same Day Shipping Program
    • Custom Financing Solutions
  • Rentals
  • Shop
  • Hledat
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Průmyslová řešení
Defektoskopy

QuickScan

Kontaktujte násKontaktujte nás
Žádost o cenovou nabídkuŽádost o cenovou nabídku
Požádat o prezentaciVyzkoušení na vaší aplikaciPožádat o prezentaciVyzkoušení na vaší aplikaci
Hlavní stránka/ Produkty/ Defektoskopy/ NDT Systems Instrumentation / QuickScan
Loading...
  • Overview
  • Specifications
  • Applications

Overview

QuickScan LT PA

Phased Array Acquisition Unit

The QuickScan™ LT PA (16:256 or 32:256) instrument is our latest generation of phased array acquisition units for industrial inspection systems. The acquisition unit meets IP55 standards and easily integrates into industrial environments. The unit is managed by QuickView™ advanced software designed for ultrasonic and eddy current inspection.

QuickScan LT PA

QuickScan UT

Multichannel Ultrasound System

This system offers many powerful features suited to high-speed ultrasound inspections, such as in-line testing, and is managed by QuickView advanced software designed for ultrasonic and eddy current inspection.

QuickScan UT

QuickScan EC

The QuickScan EC unit is designed to inspect ferrous and nonferrous materials using multicoil ECA probes. The capabilities and flexibility of this system make it suitable for many applications, such as surface inspections or measurement of material properties. This system is managed by QuickView advanced software designed for ultrasonic and eddy current inspection.

QuickScan EC

Specifications

Phased array channels 256
Number of pulsers 16:256: 16 consecutive elements
32:256: 32 consecutive elements or 2 time 16 consecutive elements
Data acquisition rate Up to 4 MB/s (A-scan rate)
Acquisition speed Up to 8000 8-bit A-scans/second of 512 points each
20 kHz for C-scan
Rectification FW, HW+, HW–, and RF
Filtering Digital band-pass, high-pass, and low-pass filters
Voltage PA : in 50 Ω 25 V, 50 V, 67 V
UT : 20 kHz for C-scan
Gain 74 dB
Pulse width 50 ns to 500 ns (steps of 2.5 ns)
Bandwidth (-3 dB) 0.6 MHz to 22.5 MHz
Number of beams Up to 512
Pulse repetition frequency (PRF) 1 Hz to 20 kHz
Real-time averaging 1, 2, 4, 8, 16
Number of gates 3 detection gates + 1 for synchronization
Encoder 2 axes (quadrature, clock direction, Up, Down) (1 to 65536 steps)
Network interface 1000BASE-T
Size (W × H × D) 29.5 cm × 13.3 cm × 45.8 cm
( 11.6 in. × 5.2 in. × 18 in.)
Weight 4.2 kg (9.2 lb), 12.5 kg (5.7 lb)
IP rating IP55
Total peak power consumption 63 W
DC input 24 V
Acquisition depth 81.9 µs
TCG 0 to 74 dB, step 0.1 dB, 10 ms/step of 10 ns
Temperature range Operating 0 °C–45 °C (32 °F–113 °F), Storage -20 °C–70 °C (-4 °F–158 °F)

Applications

Tube Inspection Systems

Tube Inspection Systems

Seamless and welded tube inspection systems use ultrasonic phased array and X-ray fluorescence spectroscopy technologies for comprehensive inspection.

Bar Inspection Systems

Bar Inspection Systems

Bar inspection systems use advanced technologies, such as ultrasonic phased array, eddy current array, and X-ray fluorescence spectroscopy, to inspect the full volume and surface of round or square bars and pipes. 

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.

Kontaktujte nás

Please, choose division
Přihlašte se k odběru zpravodaje NDT, elektronického buletinu, který Vás bude informovat o speciálních nabídkách, nových produktech nebo aplikacích.

  • Kontaktujte násKontaktujte nás
  • Žádost o cenovou nabídkuŽádost o cenovou nabídku
  • Požádat o prezentaciVyzkoušení na vaší aplikaciPožádat o prezentaciVyzkoušení na vaší aplikaci
  • Kontaktujte nás
  • Defektoskopy
    • Defektoskopy
    • Ruční měření tloušťky materiálu
    • Sondy a převodníky
    • Integrované inspekční systémy
    • NDT Systems Instrumentation
      • FOCUS PX / PC / SDK
      • QuickScan
    • Průmyslové skenery
    • The Olympus Scientific Cloud
  • Průmyslové spektrometry
  • Mikroskopy
  • Průmyslové endoskopy
  • Zaregistrovat se pro odběr Newsletterů
Hlavní stránka/ Produkty/ Defektoskopy/ NDT Systems Instrumentation / QuickScan
Tisk

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Global | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | O nás | Careers | Careers | Mapa webu

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Global | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | O nás | Imprint | Careers | Careers | Mapa webu

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook

This site uses cookies to enhance performance, analyze traffic, and for ads measurement purposes. If you do not change your web settings, cookies will continue to be used on this website. To learn more about how we use cookies on this website, and how you can restrict our use of cookies, please review our Cookie Policy.

OK
Cancel