技術情報

リニア斜角スキャン

一般的な一振動子斜角探触子からのビームと同様、リニアスキャンも固定角度でのプログラム設定ができます。この固定角度のビームをプローブの長手方向にわたってスキャンすることによってフェイズドアレイ探触子を前後走査させることなく検査対象物内の広い範囲を検査することが出来ます。この結果検査時間の短縮が図れますが、特に溶接部検査でそれが顕著です。

上の例では、ビームが試験片を４５°の角度で電子的に走査し、移動しながら３個のサイドドリルホールをそれぞれ検出します。ビーム入射点、即ち超音波ビームがウェッジから出るポイントも各スキャンシーケンス中に左から右に移動します。通常、A-スキャン表示は指定したアパーチャからのエコーパターンを表示します。

斜角スキャンではその検査対象物が非常に厚くない限り１番目のレグ（直射）と２番目のレグ（１回反射）の境界位置を考慮する必要があります。典型的なパイプや平板の溶接部探傷では重要な要素です。下の例の場合、ビームが左から右にスキャンしており、フェイズドアレイ探触子の中心付近からのビーム成分が鋼板の底面から反射し２番目のレグ（１回反射）で基準穴に当っています。

上の画面表示のように１番目と２番目のレグについて点線の水平カーソルによって、それぞれの終わりの位置を画像上で表示することができます。こうして、２つの水平カーソルの間にあるこの穴のエコー指示が２番目のレグの中にあると特定されます。画面左端の深さ目盛は1番目のレグに使用した場合のみ正確であるということにご注意ください。この目盛を１番目のレグ以外に使用する場合、２番目のレグの反射源の深さを特定するには検査対象物の厚さ（この場合２５ｍｍ）の２倍から目盛の値を差し引く必要があり、３番目のレグの反射源を特定するには目盛の値から検査対象物の厚さの２倍を差し引く必要があります。５．６章で説明しますが、ほとんどの超音波探傷装置ではこうしたことを自動的に行い、その測定結果の表示が可能になっています

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