半導体/FPD検査顕微鏡

半導体、FPD等を効率よく検査できる顕微鏡システムです。サンプルの大きさにより最適なシステムが選択でき、大型化する半導体ウエハやFPDガラス基板を検査するために最大12インチｘ14インチの大型ステージを搭載できる顕微鏡システムです。

MX61A

MX61Aは半導体検査のために開発された電動顕微鏡システムです。電動機能と専用ソフトウエアによりオペレータは最適な観察条件で目的の検査位置に容易に到達することが出来ます。明視野から蛍光観察まで多様な観察法にも対応して幅広い検査をサポートします。

MX61L/ MX61

MX61L/ MX61は半導体やFPD検査における効率を追求した300mm/200mm対応の検査顕微鏡です。対物レンズ切替えとASが連動し、前面に集約した操作部から素早い操作で検査効率がアップします。明視野から蛍光観察まで多様な観察法にも対応して幅広い検査をサポートします。

MX51

MX51は明視野から蛍光観察まで様々な観察法に対応したコストパフォーマンスに優れた工業用検査顕微鏡です。高い拡張性により幅広いサンプルに対応可能です。

MX-IRP Inspection and Defect

The NEW Olympus Inspection and Defect Review Software is a cost-effective and fully integrated tabletop solution, capable of pre-programmed inspection and defect review for the microelectronics industry.

MX-IR/BX-IR

MX-IR/BX-IRはシリコンを透明ガラスのように透過して高分解能で内部を観察できる赤外線顕微鏡です。フリップチップ、ウエハレベルCSP、SiPなどの非破壊内部検査に威力を発揮します。

AL120-12

AL120-12はFOUPオープナー（Load Port）対応とFOSB対応の2種類をラインアップに持つ300mmウエハローダです。ウエハ条件（薄ウエハ、反ウエハ）に影響されない搬送を実現し、後工程の本質を追及した高い信頼性と安全性を提供します。

AL120

AL120ウエハローダは小径から200mmまでのウエハサイズに対応した、シリコン・化合物ウエハをカセットから顕微鏡ステージに搬送する装置です。極薄化するウエハも対応して、ウエハの安全・効率搬送で半導体後工程での歩留まり、生産性向上に貢献します。