顕微分光測定機

顕微分光測定機USPMシリーズは微小スポットと独自の光学系により、曲面・平面を問わず微小部品の表面反射率を直接簡単に測定できます。

USPM-RU-WNEW

オリンパスの近赤外顕微分光測定機USPM-RU-wは、可視光領域から近赤外領域までの幅広い波長での分光測定を、スピーディ&高精細に行います。通常の分光光度計では測定できない、微小エリアや、曲面の反射率の測定が容易にできるため、光学素子や微小電子部品などにも最適です。

USPM-RU III

反射率測定機USPM-RUⅢはこれまでの分光器では測定できない薄肉試料も裏面反射光の影響を受けずに高速、高精度な分光測定が可能です。また、曲面の反射率測定・コート評価、微小部品の反射率測定に最適なシステムです。


Inspection & Measurement Systems
English | 日本語 | français | 简体中文 | Deutsch | italiano | čeština | magyar | Tiểng Việt | Español | русский | polski | português | 한국어

フェイズドアレイ/ スキャナー

ポータブル超音波/渦流探傷器

インライン非破壊検査システム