1.3 超音波厚さ計の歴史
空気中や他の材料中での音波の伝搬については、19世紀から研究されていましたが、超音波装置の導入は、陰極線管の開発など、20世紀初期のエレクトロニクスの進展があってからでした。 材料の内部構造を調べるのに超音波を用いる構想が初めて調査されたのは1920年代のことであり、超音波非破壊試験の分野で初の具体的な特許は1931年でした。 初めて実用化された市販の超音波試験装置はリフレクトスコープと呼ばれ、 ミシガン大学のフロイド・ファイアストーン教授によって1940年に特許化され、第二次世界大戦中のソナーの開発によりこの分野はさらなる進展を遂げました。 1950年代になると、市販の装置が広く利用できるようになりました。
こうした初期の装置は、厚さ計測にも使用できるものでしたが、すべて主に超音波探傷用に開発されたものでした。 1960年代には、オシロスコープ画面よりもむしろデジタルの厚さ表示を搭載した装置など、計測用に設計された初の小型でポータブルな装置が登場し始めました。 1973年にオリンパスの前身であるパナメトリクスが導入したモデル5221は、幅広い材料と厚さを網羅するプリセットのマルチモード測定や、スイッチ切り換え式の音速校正を備えた、初の市販の超音波厚さ計でした。
幅広い試験用途向けに最適化された、比較的コンパクトなバッテリー駆動の装置は1970年代に一般的となり、装置は着実に小型に、そして強力になっていきました。 オペレーター支援としての波形表示や内部データログ機能が導入されたのは1980年代になってからで、1990年代にはデジタル信号処理がアナログ回路に取って代わり、安定性と再現性が向上しました。 ごく最近では、マイクロプロセッサー技術の進展によって、今日の高機能で使いやすい小型装置の性能が新たな水準に達しています。
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