Inspection & Measurement Systems

技術情報

統合型探傷装置

一部のフェイズドアレイ探傷装置では統合型探傷装置として使用を可能にするため、一振動子型探触子(および二振動子型探触子)による検査用に一般的なUTチャンネルも提供しています。この一般的なUTチャンネルがどの様に機能するかその仕組みを知ることは重要です。

パルサー : フェイズドアレイの振動素子はサイズが小さいという理由の他に、振動素子間で受信信号の強め合い作用の結果感度が高くなるということを利用して、通常フェイズドアレイパルサーの印加電圧は100Vまでに制限されます。この100Vに制限されたフェイズドアレイパルサーをしばしば一般的な超音波探触子用パルサーとして使用しています。しかし、こうした使用はビーム路程が非常に長いアプリケーションや試験材料の減衰が非常に高いアプリケーションにおいて、特に2.25MHzまたはそれ以下の周波数が使用される場合、不利な制約要素となります。

画像サポート: 統合型探傷装置のフェイズトアレイ機能部分は A-スキャン、 B-スキャン、 C-スキャン、そしてセクタースキャン(もしくはリニアスキャン)をサポートしますが、このことは一般的な超音波探傷機能部分でも画像機能(B-スキャン、C-スキャン)を内蔵しているという意味ではありません。もっと高性能な統合型探傷装置では一般的な超音波探傷機能側で取得した波形データを使って時間ベースによる断面B-スキャンを表示可能です。こうした探傷装置の中には1軸または2軸のエンコーダー付きスキャナーを用いて実際の位置と関連したB-スキャンとC-スキャンを生成可能なものもあります。もちろん、セクタースキャンやリニアスキャンはフェイズドアレイ機能に限定されます。

下の画像では、フェイズドアレイと一般的な超音波探傷機能を組み合せた統合型探傷装置を一般的な超音波探傷モードにして、エンコーダー付きハンドスキャナーに入った二振動子型探触子によって腐食パイプにB-スキャンを実行しています。

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