技術情報

校正と標準化

校正方法　： フェイズドアレイ探触子の校正方法は様々です。ビーム形成は各振動素子の遅延タイミングの制御及び各フォーカルロウシーケンスに依存します。そのため各フォーカルロウからのエコーを正常化し、アレイ探触子の振動素子間の感度のバラツキおよび異なる屈折角（つまり異なるビーム路程）で発生するウェッジ減衰とエネルギー透過効率のバラツキの両方を修正することが重要です。全検査シーケンスにわたるウェッジ遅延及び感度の校正は鮮明な画像の表示が可能となるだけでなく、フォーカルロウに関係無く測定および欠陥サイジングも可能となります。オリンパスのフェイズドアレイ探傷装置は全てのフォーカルロウの校正を行います。

フェイズドアレイ用TVG/DAC ： 欠陥サイジング手法としては、DAC曲線や伝搬時間に応じた補正ゲイン（ＴＶＧもしくはＴＣＧとよばれる機能）を使用するA-スキャン振幅レベルを評価する方法が一般的です。これらの方法は伝搬時間に応じた補正ゲインによるか、または距離の関数として同一サイズの反射エコーに基づき基準曲線を描くことによって材料の減衰作用およびビームの拡散による超音波の減衰を補正します。感度校正の場合と同様に、フェイズドアレイ探傷装置には指定したフォーカルロウ全体にわたって複数ポイントでＴＣＧの構築が可能なものがあります。更にこれらのフェイズドアレイ探傷装置では、画像をいつでもＴＣＧからＤＡＣへの切り替えが出来ます。この結果、セクタースキャン用には複数角度で、リニアスキャンではどのバーチャルアパーチャでもサイジングカーブの使用が可能となります。

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