光学測定装置

KIF-10A-UW

小型LD干渉計(アップワードタイプ) KIF-10A-UW

KIF-10A-UWは手のひらサイズの小型・簡単操作を実現した、低価格の小型LD干渉計です。レンズを載せるだけで手軽、迅速に検査が可能です。

  1. 超小型・簡単操作
    高さ185mm(本体部)と超コンパクト。作業現場の加工機の隣に置いて、被検レンズに合わせたレンズアダプタをステージに取り付ければ、レンズを載せるだけで検査ができます。

  2. レーザ波長635nmの採用で加工工程(インライン)への導入がスムーズ
    今までのフィゾー型干渉計に使用されていたレーザ波長632.8nmに非常に近いため干渉縞の縞感度が近似。今までの検査加工工程(インライン)へ導入がスムーズにできます。

  3. 豊富な参照レンズのラインナップ
    参照レンズは1インチとコンパクト仕様を採用、種類もKIF-202Lシリーズと比べ、引けを取りません。

小型LD干渉計(アップワードタイプ) KIF-10A-UW:仕様
項目KIF-10A-UW
検査方式 フィゾー型干渉方式
口径 ø25.4mm(1インチ)
倍率 1倍
参照レンズ面精度 λ/15(球面及び平面)
光源 半導体レーザ(635nm)クラス2 製品
レーザ出力0.8mw以下
電源 一次電源AC100〜240V 50/60Hz
本体供給電源DC12V
被検物の大きさ R〜±約140mm※、直径〜約110mm
本体外形寸法 90(W)×112(D)×185(H)mm(レーザ遮光板含まず)
本体質量 約2kg
主なオプション群 3軸ステージ、2軸ステージ、小型液晶モニタ(2.5型、5.6型)、参照レンズ、アパーチャコンバータRF25-D6

※最小R及び最小直径は被検物により異なる。

KIF-10A-UW:KIF10A用干渉縞数値化キッド KIF-FS10A 干渉縞数値化キッドKIF-FS10Aは、干渉計検査システムKIF−10Aシリーズの干渉縞から収差を数値化して表示するためのシステムです。

特長

  1. 簡単に合否判定が可能
    任意に設定可能な規格値と合否判定機能により、生産ラインにおいての合否判定を容易に行うことができます。

  2. 処理時間が速い
    フリンジスキャン方式の縞解析ソフトに比べて処理時間が短く、干渉縞の解析をほぼリアルタイムで行うことができます。

  3. 低価格を実現
    フリンジスキャン型の干渉計システムに比べて低価格の構成が可能です。

  4. 製造工程内の管理が可能
    数値データの保存や画面データの印刷をすることができるので、製造工程内の良否判定管理が可能です。

仕様

KIF10A用干渉縞数値化キッド KIF-FS10A
項目KIF-FS10A
位相算出方法 干渉縞の形状(縞2値化方式)
再現性 PV値0.1λ以下 (3σの値、弊社測定条件による)
干渉縞解析速度 約1.0秒(パソコンの性能による)
OS Windows XP
主な機能 P-V、RMS、Pwr、AS、Coma、Sa3の表示機能(±の判別不可)
規格値設定及び合否判定機能
マスク設定機能
シングル測定、連続測定機能

※測定時の設置環境や縞の状態により充分な性能が発揮できない場合があります。詳細はお問い合わせ下さい。
※本システムはトレーサビリティを保証するものではありません。あくまでも、本製品の位置づけは製造ラインでのマスタレンズとの比較検査を行うものとしてご理解いただけますようお願いいたします。

Windows、Windows XP(R)は米国マイクロソフト社の米国及びその他の国における登録商標です。

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