Inspection & Measurement Systems

用途/事例

アプリケーションノート

セラミックの厚さ測定

セラミックパーツ、コーティング

セラミックの製造技術の進歩によって、高性能で熱体制を有する多くのセラミックが実現化し、自動車、航空宇宙および電子産業界での採用が増えています。

ほとんどの構造用、電子用セラミックコンポーネントには、超音波厚さ測定が適していて、一般的に幅広い厚さ範囲と高い精度で測定することが可能です。超音波厚さ計はタービンブレード、バルブ、その他のエンジン部品等の構造を持ったセラミック製品の厚さ測定に使用することが可能です。一般的な電子用セラミックコンポーネントは、キャパシタと抵抗です。

非磁性表面上のセラミックコーティングの超音波厚さ測定は、典型的な用途の一つです。超音波はセラミックコンポーネント内の欠陥、不規則性および接着の完全性の非破壊検出の理想的な手法でもあります。

当社では、様々な高周波数パルサーレシーバ、トランスデューサーおよび高周波画像化システムを取り揃えています。Multiscan Systemの使用が可能な分野には以下のものが含まれます:

  • パッケージまたはキャリアー内のクラック、パッケージのシール内の空洞、および場合によっては電子部品内のチップに対するリード線の結線の検出。

  • 炭化ケイ素、窒化ケイ素、窒化ホウ素およびアルミナなどの高強度セラミック内の空洞、内包物、ポロシティーおよび密度のバラツキの検出。

  • 表面波を使用したセラミックパーツにおける極小の不規則性および表面クラックの画像化。

  • セラミックまたはシリコンパーツ内の接着線の完全性の検査。

セラミック材質内の物性には幅広い多様性があるため、測定機器の最終的な選択の際はオリンパスNDTのセールスエンジニアにご相談されることをお勧めします。

この用途に使用される製品

5058PR

高電圧超音波パルサーレシーバ5058PRは、減衰材料などの測定用途において超音波試験と測定を行う機器です。パルサー部は、低周波数探触子にインパルスタイプの励起パルスを最大900 Vまで発生することができます。

5072PR

手動制御式超音波パルサーレシーバ5072PRは、一般的な試験および高周波の試験の両方に使用できます。35 MHz(-3 dB)までの周波数帯域とスパイクパルサーは、一般的な検査に適しています。最適な帯域幅では、特に15~30 MHzの範囲で短いパルス立ち上がり時間での駆動ができます。

5073PR

手動制御式超音波パルサーレシーバ5073PRは、一般的な試験および高周波の試験の両方に使用できます。パルス立ち上り時間の短いスパイクパルサーによる75 MHz(-3 dB)までの周波数帯域では、時間軸また表面近距離での分解能が重要な用途において、50 MHz探触子による測定などの性能を向上させます。

5077PR

35 MHz(-3 dB)までの周波数帯域および矩形波パルサーレシーバを装備した手動制御式超音波パルサーレシーバ5077PRは、超音波減衰材料に対して受信応答性を最大限に発揮できるモデルです。矩形波パルサーは、10 MHzまたはそれ以下の探触子で試験をする場合に特に有効です。

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