Die Ultraschallprüfung setzt hochfrequente und gerichtete Schallwellen ein. Zum Messen der Wanddicke, zum Orten von versteckten Ungänzen oder zur Analyse der Werkstoffeigenschaften von Metall, Kunststoff, Verbundwerksstoffen, Keramik, Gummi und Glas. Ultraschall-Prüfgeräte erzeugen kurze Schallimpulse mit Frequenzen, die über dem für das menschliche Gehör wahrnehmbaren Bereich liegen, in den Prüfkörper eingeschallt, vom Gerät verfolgt und aufgrund der reflektierten Schallmuster analysiert werden.

Die Phased-Array-Prüfung ist eine besondere Art der Ultraschallprüfung, bei der fortschrittliche, mit vielen Elementen bestückte Array-Prüfköpfe, unterstützt von einer leistungsstarken Software, hochfrequente Schallbündel in den Prüfkörper abgeben. Die zurückgeschallten Echos geben detailgetreue Abbildungen der inneren Struktur des Prüfkörpers wieder. Die Hauptanwendungsbereiche sind die Prüfung von Pipeline-Schweißnähten, Flugzeugkomponenten und ähnliche Anwendungen, bei denen die Zusatzinformationen wertvoll verwendet werden können, die durch die Phased-Array-Prüfungen erzielt werden.

Wirbelstrom-Array-Technologie oder Eddy Current Array - ECA - bietet die Möglichkeit, mehrere im gleichen Gehäuse nebeneinander angeordnete Wirbelstromsonden elektronisch anzusteuern und zu lesen. Die Datenerfassung ist durch Multiplexing möglich. Dieses vermeidet gegenseitige Induktanz zwischen den Spulen.

Messmikroskope ermöglichen berührungslose geometrische Messungen von elektronischen Bauteilen und Maschinenteilen mit einer hohen Messgenauigkeit. Konfokale Laserscanning-Mikroskope können für 3D-Messungen im Nanometerbereich eingesetzt werden. Hochaufgelöste 3D-Bilder, aufgenommen mit Laserscanning-Mikroskopen, ermöglichen hochpräzise Höhenmessungen und durch den Einsatz eines exakten Laserspots auch berührungslose Oberflächenrauheits-Messungen unabhängig von den Eigenschaften der Materialoberfläche. Mit seiner ganzen Erfahrung als Hersteller von optischen Linsen hat Olympus ein Laserinterferometer entwickelt, das für die Bestimmung der Oberflächengüte von optischen Komponenten eingesetzt wird, sowie ein Spektralinterferometer zur Messung der spektralen Reflexivität und Schichtdicke von transparenten Filmen. * Interferometer sind in der DACH-Region nicht erhältlich.

Optische Mikroskope nutzen typischerweise sichtbares Licht und ein System von Linsen, um Abbildungen kleiner Proben zu vergrößern. Bei Mikroskopen für den Einsatz in der Industrie wird bei der Zusammenstellung der Komponenten besonderer Wert auf die Erhöhung der Auflösung und den Kontrast der Probe gelegt. Für eine Abbildung der Probe reichen in der Regel Kameras mit einer normalen Lichtempfindlichkeit aus. Moderne Entwicklungen im Bereich der CMOS- und CCD-Kameras erlauben die Aufnahme digitaler Bilder. Digitale Mikroskope sind mit einer CCD-Kamera ausgerüstet und bilden die Probe direkt auf einem Monitor ab, ohne dass Okulare notwendig wären.

Die Sichtprüfungssysteme (industrielle Endoskope) sind für Untersuchungen in industriellen Prüfumgebungen entwickelt worden. Sie sind robust, tragbar, flexibel, leichtgewichtig und stellen eine intelligente Lösung für Inspektionen in nicht einsehbaren oder schlecht erreichbaren Untersuchungsorten dar.

Olympus i-SPEED Kamerasysteme sind in der Lage zwischen 60 bis 1.000.000 Einzelbilder pro Sekunde (im Zeitraffermodus mit mindestens 1 Einzelbild pro Sekunde) aufzuzeichnen. Die Hochgeschwindigkeits-Kamerasysteme sind ein effektives Hilfsmittel für eine schnelle und einfache Problemdiagnose. Mit ihrer Hilfe kann der Anwender schnelle und für das Auge nicht wahrnehmbare Prozesse festhalten, langsam wiedergeben und analysieren. Geschwindigkeits- und Abstandsmessungen können ebenfalls durchgeführt werden.

Die Röntgenfluoreszenzspektrometrie macht sich zunutze, dass Röntgenstrahlen Substanzen ionisieren und so die Atome der Elemente anregen können, wobei Elektronenbewegungen induziert werden. Diese Bewegungen („Sprünge“) sind charakteristisch für die Elemente und erfolgen unter Aussendung der sekundären Röntgenstrahlen, eben der Röntgenfluoreszenz. Dadurch lassen sich die Elemente - beispielsweise Eisen und Schwefel- in einer Probe identifizieren und quantifizieren, womit sich die elementare Zusammensetzung bestimmen lässt. Die Röntgendiffraktometrie macht sich einen anderen Effekt zunutze: nämlich die Beugung elektromagnetischer Wellen an regelmäßigen Strukturen, also Gittern. Hier passt die (Wellenlänge der) Röntgenstrahlung zu den üblichen Gitterabständen in Kristallen. Die erhaltenen Beugungsdiagramme (Diffraktogramme, patterns)sind charakteristisch für die Gitterabstände in Kristallen („Phasen“) und ergeben typische „Fingerabdrücke“. Damit lassen sich die Komponenten in einer Probe sowohl identifizieren als auch quantifizieren. Beispielsweise lässt sich zwischen Markasit (orthorhombisches Eisendisulfid), Pyrit (kubisches Eisendisulfid) und Pyrrhotin (Eisensulfid) differenzieren. Gemeinsam ergeben XRF und XRD durch die Identifizierung und Quantifizierung von Elementen und Komponenten ein umfassendes Bild von der Zusammensetzung einer Substanz. Diese schnellen, zerstörungsfreien Analysenmethoden sind zur Bestimmung der Zusammensetzung von Metallen, Legierungen, Mineralien, Gläsern, Keramiken und zahllosen anderen Materialien weit verbreitet.