IPLEX UltraLite
LabVIEW compatibility
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奥林巴斯从工业显微镜、工业内窥镜开始，到超声波·涡流探伤仪、X射线分析装置，为用户提供了多种检测方法。高速发展的技术革新让机械和工厂设备不断迈向高科技化、复杂化，在这种社会环境中，能够发现缺陷，甚至切断导致设备异常运行的联系，把重大事故防患于未然、高度可靠的维护，成为现今社会最重要的课题之一。奥林巴斯的无损检测设备以极高精度的技术水准解决了这种需求，无需大规模的解体作业或无益的停工，即可进行严格而高效的维护。运用了先进的超声波技术或涡流技术的无损检测方案，以及把光学技术通过杰出的数码成像技术运用于异常检测或故障分析中等，在此，向您介绍拥有90年历史的光学仪器制造商--奥林巴斯独有的各种技术。 |
超声检测超声检测使用频率高且方向性强的声波，测量材料厚度，找到隐藏的内部缺陷，或分析金属、塑料、复合材料、陶瓷、橡胶及玻璃的材料属性。超声仪器使用超出人耳听力范围的频率，生成耦合到试件的短脉冲声能，然后通过监控并分析反射的或传送的波型得出检测结果。 相控阵检测相控阵检测是一种特殊类型的超声检测，它使用完善的多晶片阵列探头及强大的软件，控制高频声束在试件中传播的方向并生成回波图像，从而生成与医学超声图像 相似的材料内部结构详图。它用于检测重要的结构金属、管道焊缝、航空组件，并用于其它由相控阵检测提供附加信息的相似应用。 涡流和涡流阵列检测涡流检测使用电磁感应原理，定位近表面的裂纹、测量厚度以及对金属中的某些材料属性进行分类。涡流探头生成磁场，可在测试材料内感应生成以圆形轨迹流动的 电流。试件材料完整性或厚度的改变会依次影响电流、磁场、以及线圈中的电压强度和电压相位。仪器监控探头输出并显示用于分析的信息。涡流阵列系统使用多种 探头以扩大其检测覆盖区域，提高成像能力。 光学测量装置奥林巴斯应用了在较长历史中培养起来的优异的光学系统，制造出多种能够以非接触方式进行几何测量和粗糙度测量的测量显微镜，以及能够评价物镜等光学零部件的光学测量仪。搭配了高精度测量表的测量显微镜可以对电子设备、机械加工零部件等进行几何测量，而3D激光显微镜则能够进行更高精度的测量。可以在利用共焦效果得到的高精细3D影像上进行高精度的高度测量，通过微小激光光斑可以进行不依靠样本表面状态的非接触性表面粗糙度测量。此外，应用奥林巴斯内部制造的物镜评价技术，可以在激光干涉仪上测量光学零部件的面精度、在反射率测量仪上测量分光反射率和膜厚。 工业显微镜奥林巴斯的光学显微镜采用了独自开发的UIS2光学系统（无限远校正光学系统），实现了高分辨率和忠实于样本的色彩再现。除了明视场观察、暗视场观察以外还对应多种观察方法。搭配必要的元件，可以组装成能够灵活对应使用目的的显微镜。此外，搭配显微镜专用数码照相机，可以通过显示器轻松完成实时观察和影像保存，从而实现了数码微观成像系统。 内窥检测我们的内窥检测内窥镜系统的设计满足了现代工业检测环境的要求。该系统提供便携式、智能化的远程成像方案，并带有许多高 级且直观的功能，是理想的内窥检测仪器。我们的内窥镜系统包含各种直径的、带有多种观察选项的电子内窥镜、光纤内窥镜和管道镜，已成为适合大量检测需求的 万能检测系统。 高速视频高速视频可以每秒高达150000帧的速度获取图像。我们的相机可快速有效地查找出问题所在。用户通过高速视频可评估新的设计、提高生产率以及减少维修成 本。视频图像以数字方式被捕捉至内存，用户通过其自行设计的软件可分析图像并增强图像显示。声速及距离的测量同样可被计算。 X射线分析装置奥林巴斯以其独特的构想实现了荧光X射线（XRF）、X射线衍射（XRD）分析装置的小型化，提出了打破传统观念的最新使用方法。
在荧光X射线（XRF）分析装置上，向物质照射有着高能辐射的短波带X射线，通过分析产生的荧光X射线来确定物质的元素构成。而X射线衍射（XRD）分析装置则被用于分析有结晶结构的化合物。
至今为止，这些分析通常都在实验室中进行，而奥林巴斯把X射线分析装置设计成可以搬运的便携、手提型，极大拓展了装置的使用范围，让分析需求在当场解决，实现了实时测量。 |
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