Olympus Logo
Olympus LogoOlympus Logo
Olympus
检测。测量。成像。分析。


奥林巴斯从工业显微镜、工业内窥镜开始,到超声波·涡流探伤仪、X射线分析装置,为用户提供了多种检测方法。

高速发展的技术革新让机械和工厂设备不断迈向高科技化、复杂化,在这种社会环境中,能够发现缺陷,甚至切断导致设备异常运行的联系,把重大事故防患于未然、高度可靠的维护,成为现今社会最重要的课题之一。奥林巴斯的无损检测设备以极高精度的技术水准解决了这种需求,无需大规模的解体作业或无益的停工,即可进行严格而高效的维护。运用了先进的超声波技术或涡流技术的无损检测方案,以及把光学技术通过杰出的数码成像技术运用于异常检测或故障分析中等,在此,向您介绍拥有90年历史的光学仪器制造商--奥林巴斯独有的各种技术。

超声检测使用频率高且方向性强的声波,测量材料厚度,找到隐藏的内部缺陷,或分析金属、塑料、复合材料、陶瓷、橡胶及玻璃的材料属性。超声仪器使用超出人耳听力范围的频率,生成耦合到试件的短脉冲声能,然后通过监控并分析反射的或传送的波型得出检测结果。
相控阵检测是一种特殊类型的超声检测,它使用完善的多晶片阵列探头及强大的软件,控制高频声束在试件中传播的方向并生成回波图像,从而生成与医学超声图像 相似的材料内部结构详图。它用于检测重要的结构金属、管道焊缝、航空组件,并用于其它由相控阵检测提供附加信息的相似应用。
涡流检测使用电磁感应原理,定位近表面的裂纹、测量厚度以及对金属中的某些材料属性进行分类。涡流探头生成磁场,可在测试材料内感应生成以圆形轨迹流动的 电流。试件材料完整性或厚度的改变会依次影响电流、磁场、以及线圈中的电压强度和电压相位。仪器监控探头输出并显示用于分析的信息。涡流阵列系统使用多种 探头以扩大其检测覆盖区域,提高成像能力。
奥林巴斯的光学显微镜采用了独自开发的UIS2光学系统(无限远校正光学系统),实现了高分辨率和忠实于样本的色彩再现。除了明视场观察、暗视场观察以外还对应多种观察方法。搭配必要的元件,可以组装成能够灵活对应使用目的的显微镜。此外,搭配显微镜专用数码照相机,可以通过显示器轻松完成实时观察和影像保存,从而实现了数码微观成像系统。
我们的内窥检测内窥镜系统的设计满足了现代工业检测环境的要求。该系统提供便携式、智能化的远程成像方案,并带有许多高 级且直观的功能,是理想的内窥检测仪器。我们的内窥镜系统包含各种直径的、带有多种观察选项的电子内窥镜、光纤内窥镜和管道镜,已成为适合大量检测需求的 万能检测系统。
奥林巴斯以其独特的构想实现了荧光X射线(XRF)、X射线衍射(XRD)分析装置的小型化,提出了打破传统观念的最新使用方法。 在荧光X射线(XRF)分析装置上,向物质照射有着高能辐射的短波带X射线,通过分析产生的荧光X射线来确定物质的元素构成。而X射线衍射(XRD)分析装置则被用于分析有结晶结构的化合物。 至今为止,这些分析通常都在实验室中进行,而奥林巴斯把X射线分析装置设计成可以搬运的便携、手提型,极大拓展了装置的使用范围,让分析需求在当场解决,实现了实时测量。

Vanta 

Vanta手持式XRF分析仪是奥林巴斯有史以来制造的最结实的设备之一。这款坚固耐用、性能强大、简单直观的分析仪,可以为那些要求在野外环境获得实验室分析水平的用户,进行快速精确的元素分析和合金辨别。

IPLEX NX 工业视频内窥镜 

IPLEX NX中集成了IPLEX系列中最先进的技术。通过高品质的图像传感器、明亮的激光二极管光源、高级图像处理技术和奥林巴斯的光学镜头技术,即使在大范围的区域里,IPLEX NX也能提供明亮的高分辨图像。

EPOCH 650超声探伤仪 

EPOCH 650仪器是一款常规超声探伤仪,具有优质的检测性能和广泛的适用性,可用于各种各样的应用。这款简单直观、坚固耐用的仪器是广受欢迎的EPOCH 600探伤仪的延续产品,在原有的仪器中添加了更多的功能。

OLYMPUS CIX100 Turnkey Technical Cleanliness Inspection System 

The OLYMPUS CIX100 system is a dedicated turnkey technical cleanliness solution. Quickly acquire, process, and document particulate residue data of manufactured parts to comply with company and international standards.