










Olympus adds Stereo Measurement capability to the palm-sized IPLEX UltraLite, industrial videoscopes.New stereo measurement function is now available on the IPLEX LX/LT, industrial videoscopes.OmniScan MX2 Training Now AvailableFree App for Android phones: Industrial Tech Guide for Ultrasonic Testing and X-ray Fluorescence.Olympus introduces the new Magna Mike 8600Learn about Hall Effect Thickness Gaging and the new Magna-Mike 8600 with our latest Intro DocumentImproved TOFD capabilities with OmniScan MX2: new UT2 module, new HST Lite scanner, new stainless steel TOFD wedgesOlympus is pleased to introduce InHelp, the new inspection data management and reporting software for Olympus IPLEX VideoscopesOlympus introduces new functions for the DSX Opto-Digital Microscope family.
Zobrazit všechny aktuality
Chcete informovat o aktuálních a speciálních nabídkách, nových produktech a aplikacích?
Olympus nabízí široké portfolio špičkových přístrojů pro měření, zkoušení a zobrazování.
Tyto špičkové technologie zahrnují rovněž přístroje pro nepřímou vizuální kontrolu, mikroskopii, zkoušení ultrazvukem, technologii "phased array", vířivé proudy a pole vířivých proudů, rentgenovou fluorescenci a difrakci, vysokorychlostní video a optickou metrologii. Mezi naše produkty patří ultrazvukové defektoskopy a
tloušťkoměry, videoskopy, boroskopy, mikroskopy, vysokorychlostní kamery, in-line pokročilé testovací systémy, XRF a XRD analyzátory, interferometry, a široké spektrum scanerů, UT sond, software, a dalšího příslušenství.
|
Zkoušení ultrazvukemPro měření tloušťky, pro detekci skrytých vad v objemu materiálu, případně ke stanovení některých materiálových vlastností lze u kovů, kompozitu, plastů, keramiky, pryže a skla použít přesně směrovaných akustických vlny o vysokých frekvencích nad slyšitelným spektrem, vysílané do materiálu. Ultrazvukové přístroje generují krátké ultrazvukové pulzy, tato akustická energie je přenášena akustickou vazbou do materiálu a přístroje zachycují, monitorují a analyzují odražené či procházející akustické vlny a generují příslušné hodnoty. Ultrazvuková technologie „Phased Array“„Phased Array“ je specifická technologie zkoušení ultrazvukem využívající sofistikovaných multi-elementových sond a výkonného hardware i software ke generování úzkých ultrazvukových svazků o vysokých frekvencích a k jejich elektronicky generovanému posouvání uvnitř zkoušeného materiálu. Odražená echa jsou mapována a vytváří obraz interní struktury materiálu. Použití pro zkoušení konstrukcí, strojních celků a dílců, svarů, potrubí, kompozitů, tlakových nádob, v letectví a v celé řadě dalších aplikací jak pro výrobní kontrolu tak velice často i pro monitorování vývoje stavu a životnosti konstrukcí. Vířivé proudy a Pole vířivých proudůTyto technologie využívají principů elektromagnetické indukce k detekování trhlin v povrchové vrstvě, měření tloušťky, případně stanovení některých vlastností kovů. Vířivoproudá sonda vytváří magnetické pole, které indukuje proud vířící po kruhových drahách pod povrchem materiálu. Poruchy integrity materiálu ovlivní proud i magnetické pole a projeví se změnou amplitudy a fáze napětí na cívce. Tyto změny jsou zaznamenávány a analyzovány. Technologie pole vířivých proudů využívá spojení většího počtu vířivoproudých sond do jedné matice k pokrytí větší plochy a k obrazové interpretaci záznamů a výsledků. Optická metrologieMěřící mikroskopy nabízí nekontaktní geometrické měření elektronických součástek a obrobků pomocí vysoce-přesného měřícího stolu. 3D měřící laserové mikroskopy jsou schopné provádět měření se submikronovou přesností. Vysoké rozlišení 3D obrázku, získané pomocí konfokální technologie, umožňuje velmi přesné měření výšky. Tato technologie navíc umožňuje bezkontaktní měření drsností povrchu, bez ohledu na stav povrchu materiálu. Naše zkušenosti z výroby optických systémů nám umožňují nabídnout laserové interferometry pro měření povrchové přesnosti optických prvků a také modul pro měření spektrální odrazivosti a tloušťky filmu. * Interferometry nemusí být k dispozici ve všech oblastech. MikroskopyOptické mikroskopy jsou mikroskopy, které nejčastěji využívájí viditelné světlo a soustavu čoček ke zvětšení obrazu malého vzorku. Průmyslové mikroskopy obsahují mnoho komplexních řešení, jejichž cílem je zlepšení rozlišení a kontrastu. Snímky z optického mikroskopu lze zachytit běžným citlivým fotoaparátem. Vývoj CMOS a CCD kamer umožňuje zachytit obraz digitálně. Digiální mikroskopy se CCD kamerou umožnují zobrazit obraz přímo na LCD počítače bez nutnosti využívat okuláry. Nepřímá vizuální kontrolaNaše průmyslové videoskopy pro nepřímou vizuální kontrolu jsou navrženy v souladu s modernímy trendy ve vizuální kontrole. Nabízí vysokou kvalitu obrazu, vysoce mobilní řešení, přesné natáčení konce sondy a pokročilé zobrazovací funkce. Široká řada videoskopů, fibroskopů a borosků v různých průměrech a délkách nabízí univerzální řešení pro současné požadavky nepřímé vizuální kontroly. Vysokorychlostní kameryVysokorychlostní video umožňuje ukládat snímky až do rychlosti 1 000 000 snímků za sekundu. Naše kamery jsou efektivní nástroj pro snadné a rychlé nalezení problému. Uživatelé mohou vyhodnocovat nové konstrukce, zvyšovat produktivitu a snižovat náklady na údržbu. Video je ukládáno do paměti v digitální podobě a pomocí software pak lze vyhodnocovat nejenom pohyb, ale i rychlosti a zrychlení. XRF a XRD anayzátoryRentgenová fluorescence (XRF) a rentgenová difrakce (XRD) jsou založeny na interakci ionizujícího záření o krátkých vlnových délkách s měřeným materiálem. RTG analýza využívá toho, že při buzení primárním RTG paprskem dochází k excitaci atomů, což způsobí vyražení elektronů z jejich orbit (K,L). Každý prvek má charakteristické emisní energie sekundárního záření (fluorescence), které umožňují identifikaci složení materiálu. Rentgenová fluorsescence tak dokáže přesně stanovit přítomnost prvků (např. v oceli, mosazi, bonzech, superslitinách,...) a určit jejich přesné množství. Výhodou této metody je nedestruktivita, vysoká přesnost a vysoká rychlost analýzy. XRD analýza je založena na principu interakce RTG paprsku s materiálem kdy difrakcí vznikne charakteristické XRD spektrum, které je unikátní v závislosti na krystalické struktuře materiálu. XRD spektra jsou používána pro identifikaci složek a sloučenin. XRD dokáže například identifikovat a kvantifikovat sloučeniny prvků v markazitu (disulfidy železa orthohomic, pyrit) nebo (disulfidy železa cibuic nebo pyrrhotite). XRF a XRD společně poskytují komplexní obrázek o materiálu z hlediska prvkového chemického složení a sloučenin. Tyto nedestruktivní metody rapidní analýzy jsou široce využívané k určení složení kovů, slitin, skla, keramiky, minerálů a nesčetně dalších typů materiálů. |
Copyright 2013 OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved. Terms Of Use | Privacy Statement