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Soluções em microscopia
Funcionalidade

O invisível torna-se visível:
observação MIX

A tecnologia de observação MIX do BX53M combina os métodos de iluminação tradicionais com a iluminação de campo escuro. Quando o deslizador MIX é usado, o seu anel de LEDs reflete campo escuro direcional sobre a amostra. Este tem um efeito idêntico ao campo escuro tradicional, porém fornece a capacidade de selecionar um quadrante de LEDs para direcionar a luz a partir de diferentes ângulos. Esta combinação de campo escuro direcional e campo claro, fluorescência ou polarização é chamada de iluminação MIX e é particularmente útil para destacar defeitos e diferenciar superfícies elevadas de depressões.

O invisível torna-se visível: observação MIX
Crie imagens totalmente em foco: EFI

Crie imagens totalmente em foco: EFI

A função EFI (Extended Focus Imaging, imagem focal estendida) no software PRECiV captura imagens de amostras com alturas que ultrapassam a profundidade de foco da objetiva e as empilha para criar uma imagem totalmente em foco. É possível executar a EFI com um eixo Z manual ou motorizado, criando mapas de altura para uma visualização simples de estruturas. Também é possível criar uma imagem EFI no PRECiV Desktop em modo offline.

Capture áreas claras e escuras: HDR

Com o processamento avançado de imagem, a função HDR (High Dynamic Range, alta variação dinâmica) ajusta as diferenças na claridade de uma imagem para reduzir o reflexo. A HDR aprimora a qualidade visual das imagens digitais, o que ajuda a gerar relatórios com um aspecto profissional.

Partes escuras e claras nitidamente expostas pela alta variação dinâmica (amostra: lâmpada do injetor de combustível)

Partes escuras e claras nitidamente expostas pela alta variação dinâmica (amostra: lâmpada do injetor de combustível)

Melhoria do contraste por HDR (amostra: magnesita cortada)

Melhoria do contraste por HDR
(amostra: magnesita cortada)

Imagem de uma moeda com MIA instantâneo

Imagem de uma moeda com MIA instantâneo

Mova facilmente a platina para panorama: MIA instantâneo

Agora é possível unir imagens com facilidade e rapidez, movendo apenas os botões de ajuste XY na platina manual; não é necessária nenhuma platina motorizada. O software PRECiV utiliza recursos de reconhecimento de padrão para gerar uma imagem panorâmica, fornecendo aos usuários um campo de visão mais amplo do que um só quadro.

Capacidade versátil de medição

Funções de medição básicas ou de rotina

O PRECiV disponibiliza várias funções de medição, permitindo que o usuário obtenha facilmente dados úteis com base nas imagens. Muitas vezes, as operações de controle de qualidade e inspeção exigem recursos de medição nas imagens. Todos os níveis de licenças do PRECiV incluem funções interativas de medição, como distâncias, ângulos, retângulos, círculos, elipses e polígonos. Todos os resultados medidos são salvos com os arquivos de imagens para documentação complementar.

Funções de medição básicas ou de rotina
Contagem e medição

Contagem e medição

A detecção de objetos e a medição de distribuição de tamanho estão entre as aplicações mais importantes na formação de imagens digitais. O PRECiV incorpora um mecanismo de detecção que utiliza métodos de limiar para separar objetos de maneira confiável (por exemplo, partículas, arranhões) do plano de fundo.

Soluções para a Ciência dos Materiais

O PRECiV oferece uma interface intuitiva e orientada ao processo de trabalho para a análise de imagens complexas. Com o simples clique de um botão, é possível executar as mais complexas tarefas de análise de imagens com rapidez, precisão e em conformidade com os padrões industriais mais comuns. Com uma redução significativa do tempo de processamento para tarefas repetitivas, os cientistas de materiais podem concentrar-se na análise e investigação. Os suplementos modulares para inclusões e gráficos de intercepção são realizados com facilidade a qualquer momento.

Soluções para a Ciência dos Materiais
Visualização de superfície 3D (amostra de teste de rugosidade)

Visualização de superfície 3D (amostra de teste de rugosidade)

Visualização única e medição de perfil 3D

Visualização única e medição de perfil 3D

Medição de amostra 3D

Ao utilizar uma unidade externa de foco motorizado, uma imagem focal EFI pode ser rapidamente capturada e exibida em 3D. Os dados de altura obtidos podem ser usados para medições 3D no perfil ou a partir da imagem de visualização única.

Saiba mais sobre o PRECiV

Veja mais tipos e tamanhos de amostra

A nova platina de 150 mm × 100 mm oferece um alcance mais longo na direção X do que os modelos anteriores. Esta nova platina, em conjunto com o design de superfície superior plana, permite a fácil colocação de amostras de grandes dimensões ou de múltiplas amostras na platina. A placa de platina tem orifícios roscados para anexar suportes de amostra. A platina de maiores dimensões oferece flexibilidade aos usuários ao permitir a inspeção de um maior número de amostras através de um único microscópio, poupando espaço valioso no laboratório. O torque ajustável da platina facilita o posicionamento preciso sob alta ampliação com um campo de visão estreito.

Flexibilidade para a altura e o peso de amostras

As amostras de até 105 mm podem ser montadas na platina utilizando a unidade modular opcional. Graças ao mecanismo de focalização otimizado, o microscópio é capaz de acomodar um peso total (amostra + platina) de até 6 kg. Isso significa que amostras de maiores dimensões e mais pesadas podem ser inspecionadas no BX53M, tornando o número de microscópios necessários no laboratório significativamente inferior. Ao posicionar, de forma descentrada e estratégica, um suporte rotativo para bolachas de 6 polegadas, os usuários são capazes de observar toda a superfície da bolacha rodando apenas o suporte, ao passarem pela faixa de alcance de 100 mm. O ajuste de torque da platina é otimizado para facilitar o seu uso e a haste confortável permite encontrar mais facilmente o ponto de interesse da amostra.

BX53MRF-S

BX53MRF-S

BXFM

BXFM

Flexibilidade para o tamanho da amostra

Quando as amostras são muito grandes para seu posicionamento em uma platina tradicional de microscópio, os componentes ópticos principais para microscopia de luz refletida podem ser configurados em uma configuração modular. Este sistema modular, o BXFM, pode ser montado em um suporte maior através de um pilar ou em outro instrumento à escolha do usuário utilizando um suporte de montagem. Isso permite aos usuários se beneficiar da nossa célebre óptica, mesmo quando as suas amostras apresentam tamanhos ou formas exclusivas.

Proteja dispositivos eletrônicos contra descargas eletrostáticas: compatível com ESD

O BX53M possui uma capacidade de dissipação de descarga eletrostática (ESD) que protege os dispositivos eletrônicos da eletricidade estática causada por fatores humanos ou ambientais.

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