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Blogue InSight
Travaux en accès par cordes sur une plateforme de forage en mer

Une journée dans la vie d’un inspecteur en mer utilisant le scanner multiélément HydroFORM™

By  - 27 juin, 2023
Inspection des wafers de semi-conducteurs

Optimisez votre microscope et votre flux opérationnel pour l’inspection des wafers

By  - 20 juin, 2023
Détection des bordures de grain sur une coupe métallographique grâce à l’analyse d’images par la technologie d’apprentissage profond

Le potentiel de l’analyse d’images basée sur l’IA en métallographie et en analyse des matériaux

By  - 8 juin, 2023
Technicien à l’inspection dans le secteur manufacturier utilisant le logiciel d’imagerie et de mesure du microscope

Neuf façons d’augmenter vos capacités en matière d’inspection au moyen du logiciel PRECiV™ 1.2

By  - 6 juin, 2023
Inspection de trous de boulon avec un appareil à courants de Foucault NORTEC 600 ainsi qu’un scanner rotatif et une sonde installés sur un bras robotisé

CND 4.0 : possibilité pour les fabricants d’optimiser les inspections par courants de Foucault des trous de boulons

By  - 1 juin, 2023
Station de travail XRF portable pour l’analyse de carottes de forage

Brixton Metals utilise des analyseurs XRF pour effectuer l’analyse précise et rapide de carottes de forage

By  - 24 mai, 2023
Capture d’écran d’un B-scan fusionné

Économisez temps et énergie lors du survol préliminaire des soudures grâce au B-scan fusionné

By  - 4 mai, 2023
Or et charbon dans le secteur minier

Mesure automatisée de l’or dans le charbon activé grâce à un système intégrant des technologies d’échantillonnage et d’analyse XRF

By  - 2 mai, 2023
Pièges à particules pour contrôler la propreté de l’environnement de production

Comment utiliser les pièges à particules pour contrôler la propreté de l’environnement

By  - 11 avril, 2023
Assemblage d’images montrant le codeur à fil, le support universel et le codeur Mini-Wheel

Mettez toutes les chances de votre côté – la boîte à outils essentielle pour les balayages multiéléments codés

By  - 5 avril, 2023
Professeur Bo Hyun Kim de l’université Soongsil devant un microscope numérique

Améliorer la qualité des surfaces usinées grâce à la microscopie numérique et à la microscopie confocale à balayage laser

By  - 30 mars, 2023
Image infrarouge en transmission d’une puce semi-conductrice

Utilité de l’imagerie proche infrarouge pour l’inspection des composants électroniques et des semi-conducteurs

By  - 21 mars, 2023
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