Solutions Microscopie
LMPLFLN
Questions ?
Our LMPLFLN lens is part of our Plan semi-apochromat series, providing longer working distances for added specimen safety and observation with increased contrast.
Long Working Distance M Plan Semi-Apochromat - LMPLFLN
- Objective lenses designed for Brightfield, Differential Interference Contrast (DIC), Fluorescence and Simple polarized light
- Longer working distance helps protect samples with topography
- Standard pupil position allows the use of a single DIC prism for all obejctive lenses (5x-100x)
Specifications
 |
|
Transmittance/Wavelength
Dimensions
Specifications
 |
|
Transmittance/Wavelength
Dimensions
Specifications
 |
|
Transmittance/Wavelength
Dimensions
Specifications
 |
|
Transmittance/Wavelength
Dimensions
Specifications
 |
|
Transmittance/Wavelength
Dimensions
Loading...
- Produits
- Solutions avancées NDT
- Appareils de recherche de défauts
- Systèmes intégrés d'inspection
- Mesureurs d'épaisseur
- Solutions Microscopie
- Microscopes confocales à balayage laser
- Opto-digital Microscopes
- Semiconductor & Flat Panel Display Inspection Microscopes
- Microscopes métallurgiques droits
- Microscopes métallurgiques inversés
- Microscopes modulaires
- Microscopes polarisants
- Microscopes de mesure
- Stéréomicroscopes
- Microscopes numériques
- Microscopes électroniques à balayage
- Objectifs
- Appareils photo numériques
- Logiciel d’analyse d’image
- Métrologie optique
- Vidéoscopes, Boroscopes
- Vidéo à haute vitesse
- Analyseurs XRF et XRD
- Applications
- Connaissances
- Nouvelles
- Événements
- Assistance technique
- Pour nous joindre
Inspection & Measurement Systems
Solutions avancées NDT
- Solutions pour l’inspection des soudures
- Solutions d’inspection de la corrosion
- Solutions d’inspection des composites
- Solutions pour l’inspection des tubes
- Scanners industriels
- Solutions d’inspection pour le domaine aérospatial
Appareils US de recherche de défauts
- Appareils portatifs de recherche de défauts par ultrasons
- Appareils à ultrasons multiéléments
- Produits d’inspection par courants de Foucault
- Appareils de recherche de défauts à courants de Foucault portables
- Série 500
- 2000D
- OmniScan MX EC
- Scanners rotatifs pour l’inspection des trous de boulons
- Sondes à courants de Foucault
- Produits pour sondes à courants de Foucault
- MultiScan MS 5800 pour le contrôle des tubes
- Sondes pour l’inspection des tubes
- Produits à courants de Foucault multiéléments
- BondMaster
- Sondes
- Émetteurs-récepteurs
Systèmes intégrés d'inspection
Thickness Gages
Vidéoscopes, Boroscopes
- Vidéoscopes industriels
- Fibroscopes industriels
- Endoscopes rigides industriels
- Sources de lumière
- Outils de tournage
Caméras rapides
Solutions Microscopie
- Microscopes confocales à balayage laser
- Opto-digital Microscopes
- Semiconductor & Flat Panel Display Inspection Microscopes
- Microscopes métallurgiques droits
- Microscopes métallurgiques inversés
- Microscopes modulaires
- Microscopes polarisants
- Microscopes de mesure
- Stéréomicroscopes
- Microscopes numériques
- Microscopes électroniques à balayage
- Objectifs
- Appareils photo numériques
- Logiciel d’analyse d’image
Métrologie optique
Analyseurs XRF et XRD
- QA/QC des alliages
- Pétrochimie et production d’énergie
- Métaux précieux
- Recyclage des déchets, analyse des métaux, du verre et des plastiques
- Géochimie et exploitation minière
- Analyses du pétrole et des concentrés
- Environmental & IH
- Sécurité des biens de consommation
- Archaeometry, Academic & R&D
- Produits pharmaceutiques et nutraceutiques
- Gouvernement et sécurité
- Applications Solutions Key
