Appareils de CND pour systèmes industriels

Les appareils pour systèmes industriels d'Olympus sont reconnus comme des unités d'acquisition au rendement élevé et sont utilisés dans les systèmes d'inspection intégrés fournis directement par Olympus NDT, ainsi que par plusieurs partenaires intégrateurs de systèmes situés dans le monde entier.

QuickScan LT PA

The QuickScan LT PA (16:256 or 32:256) is the latest generation of phased array acquisition units developed by Olympus for industrial inspection systems. The acquisition unit meets IP 55 standards, and was specifically designed for easy integration into industrial environments. The unit is managed by Quickview advanced software designed for ultrasonic and eddy current inspection.

QuickScan UT

The QuickScan UT is a multichannel ultrasound system for industrial applications. This system offers many powerful features ideally suited to high-speed ultrasound inspections, such as in-line testing, and is managed by Quickview advanced software designed for ultrasonic and eddy current inspection.

QuickScan EC

The QuickScan EC is designed to inspect ferrous and nonferrous materials using multicoil ECA probes. The capabilities and flexibility of this system make it suitable for many applications, such as surface inspections or measurement of material properties. This system is managed by Quickview advanced software designed for ultrasonic and eddy current inspection.

OmniScan iX UT

Appareil conçu pour le contrôle à grande vitesse des composants critiques de l'industrie et de la fabrication aérospatiale, l'industrie automobile, les composants soudés et les systèmes d'inspection intégrés, il est certifié GE DFO P3TF22, P3TF30, P3TF31 et P3TF35.

TomoScan Focus LT

Le TomoScan FOCUS LT est conçu pour les systèmes d'inspection automatisés et industriels les plus exigeants avec configuration d'ultrasons conventionnels et multiéléments à plusieurs sondes. Il est contrôlé par le logiciel polyvalent TomoView.


Inspection & Measurement Systems
English | 日本語 | français | 简体中文 | Deutsch | italiano | čeština | magyar | Tiểng Việt | Español | русский | polski | português | 한국어

Solutions avancées NDT

Appareils US de recherche de défauts

Systèmes intégrés d'inspection

Analyseurs XRF et XRD