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Trabajo vertical en plataforma de prospección de hidrocarburos offshore (marítimos)

Un día en la vida de un inspector «offshore» con el escáner Phased Array HydroFORM™

By  - 27 junio, 2023
Inspección de obleas de semiconductores

Optimización de su microscopio de inspección de obleas y su flujo de trabajo

By  - 20 junio, 2023
Límites de granos detectados en la sección metalográfica usando el análisis de imágenes de aprendizaje profundo

El potencial del análisis de imágenes por IA en la metalografía y materialografía

By  - 8 junio, 2023
Técnico en sala de inspección de fabricación usando el software de medición y de procesamiento de imágenes microscópicos.

Nueve formas de aumentar su potencial de inspección con el software PRECiV™ 1.2

By  - 6 junio, 2023
Instrumento de corrientes de Foucault NORTEC 600, escáner rotativo para perforaciones de remaches y sonda en brazo robótico

El potencial de los END 4.0 resuelto a optimizar los ensayos ECT en las perforaciones de remaches del sector industrial

By  - 1 junio, 2023
Estación de trabajo XRF portátil para análisis de testigos de perforación

Brixton Metals pone su confianza en el analizador XRF para un análisis preciso y rápido de testigos de perforación

By  - 24 mayo, 2023
Captura de pantalla del B-scan combinado

Ahorre tiempo y energía en el análisis de soldaduras gracias al B-scan combinado

By  - 4 mayo, 2023
Oro y carbón en la minería

Medición automatizada del oro en carbón activo mediante la tecnología XRF integrada en un sistema de muestreo

By  - 2 mayo, 2023
Trampa de partículas para monitorizar la limpieza ambiental en la producción

Cómo usar las trampas de partículas para monitorizar la limpieza ambiental

By  - 11 abril, 2023
Imagen compilatoria del codificador de hilo metálico, soporte universal y codificador Mini-Wheel

Lleve las probabilidades a su favor: Kit de herramientas esencial para el escaneo PA codificado

By  - 5 abril, 2023
Prof. Bo Hyun Kim de la Universidad Soongsil con un microscopio digital

Mejorar la calidad de las superficies mecanizadas gracias a la microscopía digital y láser

By  - 30 marzo, 2023
Transmisión de imagen IR de un chip semiconductor

El potencial del procesamiento de imágenes en el infrarrojo cercano para la inspección de semiconductores y electrónica

By  - 21 marzo, 2023
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