光学测量装置

KIF-202L

KIF-202L 小型激光干涉仪

KIF-202L激光干涉仪是一款用于测量光学元件轮廓微观平整度的干涉仪系统。它在加工现场的生产过程中,对保障质量和检查程序扮演着不可替代的作用。

  1. 小型·操作简便
    充分考虑作业现场内的使用环境,占地空间小,方便操作。

  2. 可测量倍率(1×、2.5×)
    测定倍率扩大到2.5×,可简单测量小件物体。与Φ60-Φ15(可选件)的孔径转换器组合匹配使用的话,可最大扩大10倍。(平面测定时)

  3. 参照镜片λ/20 高精度
    因为本社加工技术,参照镜为λ/20高精度镜片。根据客户选择的需要,也可提供λ/30 的产品。

  4. 丰富的附属备件群
    我社准备了丰富的附属备件。如使用干涉条纹解析装置(KIF-FSPC/FS2000),可进行高精度条纹解析。

主要用途:

  1. 镜片研磨面的面精度的测定。

  2. 塑料成型件的面精度的测定。

  3. 各种金属切削面的面精度的测定。

KIF-202L 小型激光干涉仪:规格
测定方法 斐佐型干涉方式
口径 Φ60(使用可选件为Φ6-Φ102)mm
被检物大小 Φ6-Φ102(平面测定时)mm
倍率 1×、2.5×(本体2 段切换)
4×、10×(使用Φ60-Φ15的孔径转换器时)
参照面精度 λ/20(球面以及平面)
光源 He-Ne(632.8nm)激光
电源 AC100V 50/60Hz
本体外形尺寸 220(W)×360(D)×740(H)mm
本体重量 约33kg
标准附属品 9型TV显示器、5轴调整受台

※特殊定单,我社可对应15Omm冲程延长样式。

栅尺
视频打印机
防震台
薄膜型衰减器
透射测量台
透射测量5轴载物台
专用机架
ø60 mm - 4 inch孔径转换器
ø60 mm-ø15 mm孔径转换器
透射测量用球面镜(λ/20)
透射测量用平面镜(λ/20)
干涉条纹解析装置(KIF-FU60)
参照镜(口径60 mm、λ/20)(F0.6、F0.7、F1.0、F1.5、F2.0、F3.0、F4.0、F6.0)
特殊规格参照镜(口径60 mm、λ/20)(F0.6H、C150、C300、C390、C490、V520、V670、V750)
参照平面(口径60 mm、λ/20或λ/30)
*同时也为您准备了丰富的4英寸参照镜产品。

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